【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及面板缺陷检测，具体而言，涉及一种面板表面缺陷检测方法、系统、设备及存储介质。
技术介绍
1、mura缺陷是面板生产过程中常见的不良现象，直接影响面板的产品质量。其中，mura缺陷是指在面板表面存在的不同于常规缺陷形态的缺陷，例如面板表面出现的不均匀亮度或颜色等问题，此类缺陷存在对比度低、亮度低以及形态多样等特点。因此，采用人工检测仍然存在较多的漏检和错检，且具有较强的主观性，相比之下，利用机器视觉进行缺陷的检测往往能取得更好的检测结果。
2、然而，由于mura缺陷表面粗糙、形态各异、大小不一、亮度和颜色不均匀，现有基于机器视觉的深度学习检测难度大，检测效果不佳。
技术实现思路
1、为了解决现有基于机器技术的深度学习检测方法对mura缺陷检测难度大，检测效果不佳的问题，本专利技术实施例提供了一种面板表面缺陷检测方法、系统、设备及存储介质。
2、在第一方面，本专利技术实施例中提供一种面板表面缺陷检测方法，所述方法流程如下：
3、获取面板表面的历...
【技术保护点】
1.一种面板表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法流程如下：
2.根据权利要求1所述的一种面板表面缺陷检测方法，其特征在于，对历史面板图像进行灰度化处理之前，需要对历史面板图像进行随机裁剪处理。
3.根据权利要求1所述的一种面板表面缺陷检测方法，其特征在于，遍历面板灰度图像的灰度值，并且对面板灰度图像的灰度值进行灰度值变换处理，以得到灰度变换图像的流程如下：
4.根据权利要求1所述的一种面板表面缺陷检测方法，其特征在于，所述灰度变换图像通过拉普拉斯算子进行纹理和边缘检测处理，以得到轮廓锐化图像。
5.根据权利要求1所述的...
【技术特征摘要】
1.一种面板表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法流程如下：
2.根据权利要求1所述的一种面板表面缺陷检测方法，其特征在于，对历史面板图像进行灰度化处理之前，需要对历史面板图像进行随机裁剪处理。
3.根据权利要求1所述的一种面板表面缺陷检测方法，其特征在于，遍历面板灰度图像的灰度值，并且对面板灰度图像的灰度值进行灰度值变换处理，以得到灰度变换图像的流程如下：
4.根据权利要求1所述的一种面板表面缺陷检测方法，其特征在于，所述灰度变换图像通过拉普拉斯算子进行纹理和边缘检测处理，以得到轮廓锐化图像。
5.根据权利要求1所述的一种面板表面缺陷检测方法，其特征在于，遍历面板灰度图像的灰度值，并且对面板灰度图像的灰度值进行灰度值变换处理之前，需要对面板灰度图像进行图像去噪处理。
6.根据权利要求5所述的一种面板表面缺陷检测方法，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：成都数之联科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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