基于Zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法及系统技术方案

技术编号:41537666 阅读:25 留言:0更新日期:2024-06-03 23:16
本发明专利技术提供了一种基于Zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法及系统,包括:测试天线索网反射面初始态的形面精度;根据反射面形面测试结果开展天线远场电性能仿真分析;获取当前反射面远场方向图相对于理论值的偏差,判断变形反射面精度是否满足电性能要求,若满足电性能要求,则结束形面调节,若不满足电性能要求,则进入反射面调节环节;对比仿真方向图及Zernike多项式系数,筛选导致变形反射面与理想反射面方向图产生误差较大的Zernike项作为调节项,绘制待调节Zernike项的误差云图,确定反射面待调节的位置及调节量,并进行调节;形面调节后,进入下一轮调节流程,直至索网反射面精度满足电性能要求。本发明专利技术能够实现对索网反射面基于电磁性能的形面精度调节。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及天线,具体地,涉及一种基于zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法及系统。


技术介绍

1、空间科学迅猛发展给空间天线提出了大尺寸和高精度的应用需求。索网反射面可展开天线是大尺度高精度反射面天线在轨应用最广泛的代表。

2、索网反射面天线是一种预张拉结构,通过索网节点的预张拉调整逼近于理想的反射面。柔性反射面各节点之间的调整是相互耦合的,一个调整点位置的变化会引起其他调整点的位置变化,柔性反射面的这一特性使得天线形面精度调整更加困难。现有的索网反射面精度调整从天线反射面的形状几何出发,通过几何上的位置精度调整达到逼近于理想反射面,如专利申请号为201910527842.5的“基于机器学习的索网反射面天线形面精度调整方法”公布了一种适应于索网反射面精度调整方法。

3、天线的电磁性能并不仅仅取决于天线的发射面表面的误差幅值,还取决于误差在其表面上的分布情况。


技术实现思路

1、针对现有技术中的缺陷,本专利技术的目的是提供一种基于zernike多项式的网状天线反射面精度调节本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于Zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于Zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法,其特征在于,所述步骤S4中的Zernike多项式每一项系数方程:

3.根据权利要求1所述的基于Zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法,其特征在于,所述步骤S4中Zernike多项式是一组正交基函数,在极坐标下有两个变量ρ和θ,数学表达式为:

4.根据权利要求1所述的基于Zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法,其特征在于,所述反射面的形面误差与所述远场电性能相联系,通过远场电性...

【技术特征摘要】

1.一种基于zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法,其特征在于,所述步骤s4中的zernike多项式每一项系数方程:

3.根据权利要求1所述的基于zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法,其特征在于,所述步骤s4中zernike多项式是一组正交基函数,在极坐标下有两个变量ρ和θ,数学表达式为:

4.根据权利要求1所述的基于zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法,其特征在于,所述反射面的形面误差与所述远场电性能相联系,通过远场电性能反向指导反射面的形面精度调节。

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【专利技术属性】
技术研发人员:王晓凯张玉程陈晓峰程庆清孙世超王艳芬
申请(专利权)人:上海宇航系统工程研究所
类型:发明
国别省市:

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