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本发明提供了一种基于Zernike多项式的网状天线反射面精度调节方法及系统，包括：测试天线索网反射面初始态的形面精度；根据反射面形面测试结果开展天线远场电性能仿真分析；获取当前反射面远场方向图相对于理论值的偏差，判断变形反射面精度是否满足电...
该专利属于上海宇航系统工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海宇航系统工程研究所授权不得商用。

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