一种用于光电子芯片测试的可配置结构制造技术

本发明专利技术涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种用于光电子芯片测试的可配置结构，在使用时，将待检测的光电子芯片放置到两个限位板之间，然后启动驱动电机带动第一螺杆转动，使得第一螺杆带动两个限位板相互靠近，以使得两个限位板将光电子芯片夹紧，然后启动气缸带动滑动板移动以带动光电子芯片靠近导通结构，以使得光电子芯片和高频电路板接触以导通，然后通过接头和外部装置进行连接以对光电子芯片进行测试，从而方便地对光电子芯片进行定位，以使得光电子芯片更加准确地和高频电路板对接，从而提高测试效率。其中导通结构是通过限位板安装到安装台上的，因此若是要测试不同的光电子芯片，则拆下限位块进行更换。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试，尤其涉及一种用于光电子芯片测试的可配置结构。

技术介绍

1、光电子芯片测试是指对光电子器件，如光收发模块、光放大器、光开关等，进行性能和质量检验的过程。

2、现有一种光电子芯片测试结构，通过将芯片放置到限位块之间和高新电路板对接以进行检测，但是这样不方便对准高频电路板，同时也不方便对不同尺寸的芯片进行检测，从而降低了测试结构的通用性，

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种用于光电子芯片测试的可配置结构，旨在可以使得光电子芯片可以更加准确地和所述高频电路板对接，从而可以提高测试效率。

2、为实现上述目的，本专利技术提供了一种用于光电子芯片测试的可配置结构，包括支撑组件、固定组件和导通组件，所述支撑组件包括支撑台和安装台，所述安装台与所述支撑台连接，并位于所述支撑台的一侧，所述固定组件包括滑动板、气缸、两个限位板、两个连接块、第一螺杆和驱动电机，所述滑动板与所述支撑台滑动连接，并位于所述支撑台的一侧，所述气缸的输出端与所述滑动板固定连接，两个所述限位板与所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

2.如权利要求1所述的一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

3.如权利要求2所述的一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

4.如权利要求3所述的一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

5.如权利要求4所述的一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

6.如权利要求5所述的一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

7.如权利要求6所述的一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

8.如权利要求7所述的一...

【技术特征摘要】

1.一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

2.如权利要求1所述的一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

3.如权利要求2所述的一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

4.如权利要求3所述的一种用于光电子芯片测试的可配置结构，其特征在于，

5...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵宏伟，肖振兴，段语萱，张鼎，金鸿儒，张昱，
申请(专利权)人：武汉工程大学，
类型：发明
国别省市：