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本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种用于光电子芯片测试的可配置结构，在使用时，将待检测的光电子芯片放置到两个限位板之间，然后启动驱动电机带动第一螺杆转动，使得第一螺杆带动两个限位板相互靠近，以使得两个限位板将光电子芯片夹紧，然后启动气缸...
该专利属于武汉工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉工程大学授权不得商用。

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