一种中央处理器CPU的性能测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种中央处理器CPU的性能测试装置，涉及测试装置技术领域，两处导轨呈直线阵列固定连接在基座顶端面的左右两侧位置，导轨中所开设的纵向槽的内部安装有电动推杆A，且基座的顶端面上固定连接有挡板，解决了现有的由于其缺乏有效的自动化平衡调节结构，使得芯片在进行测试时，很容易因人工的摆放不整齐出现偏斜而导致影响后续的电源连通作业，存在着局限性的问题，通过启动其外部所安装的电机对滚轮的转动驱动，并通过滚轮对牵引绳以及万向球的连接来实现带动着底板进行相应的偏转调整，并同步的对底板进行偏转调整以带动着芯片进行同步的偏转调整，以达到更加方便于后续进行检测的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试装置，特别涉及一种中央处理器cpu的性能测试装置。

技术介绍

1、中央处理器即为cpu,其在进行使用时，一般为了对其性能进行测试，会对其进行连通电源后进行相应的跑分等测试操作，而其在进行测试时，便需要用到相应的测试装置。

2、而测试装置在进行使用时，由于其缺乏有效的自动化平衡调节结构，使得芯片在进行测试时，很容易因人工的摆放不整齐出现偏斜而导致影响后续的电源连通作业，存在着局限性。

3、于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种中央处理器cpu的性能测试装置，以期达到更具有实用价值的目的。

技术实现思路

1、本专利技术提供了一种中央处理器cpu的性能测试装置，解决了现有的由于其缺乏有效的自动化平衡调节结构，使得芯片在进行测试时，很容易因人工的摆放不整齐出现偏斜而导致影响后续的电源连通作业，存在着局限性的问题。

2、本专利技术提供了一种中央处理器cpu的性能测试装置的目的与功效，具体包括：导轨，所述导轨为纵向设置，且导轨的内部开设有纵向槽，导本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种中央处理器CPU的性能测试装置，其特征在于，包括：导轨(2)，所述导轨(2)为纵向设置，且导轨(2)的内部开设有纵向槽，导轨(2)共设有两处，两处导轨(2)呈直线阵列固定连接在基座(1)顶端面的左右两侧位置，导轨(2)中所开设的纵向槽的内部安装有电动推杆A(3)，且基座(1)的顶端面上固定连接有挡板(4)。

2.如权利要求1所述一种中央处理器CPU的性能测试装置，其特征在于：所述基座(1)与导轨(2)共同组成了支撑结构，挡板(4)的内部开设有通槽，该通槽的内部固定连接有观察窗(5)，挡板(4)与观察窗(5)共同组成了封闭结构。

3.如权利要求1所述一种中央...

【技术特征摘要】

1.一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于，包括：导轨(2)，所述导轨(2)为纵向设置，且导轨(2)的内部开设有纵向槽，导轨(2)共设有两处，两处导轨(2)呈直线阵列固定连接在基座(1)顶端面的左右两侧位置，导轨(2)中所开设的纵向槽的内部安装有电动推杆a(3)，且基座(1)的顶端面上固定连接有挡板(4)。

2.如权利要求1所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：所述基座(1)与导轨(2)共同组成了支撑结构，挡板(4)的内部开设有通槽，该通槽的内部固定连接有观察窗(5)，挡板(4)与观察窗(5)共同组成了封闭结构。

3.如权利要求1所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：所述导轨(2)中所开设的纵向槽的内部滑动连接有支架(6)，支架(6)与电动推杆a(3)相连接，且支架(6)共设有两处，每处支架(6)的左右两侧均固定连接有滑块(7)。

4.如权利要求3所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：两处所述支架(6)的顶端固定连接有横梁(8)，横梁(8)的顶端面上安装有泵机(9)，且横梁(8)的前端开设有倾斜面，该倾斜面上设置有风槽(11)，风槽(11)与泵机(9)相匹配。

5.如权利要求4所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：所述支架(6)的左侧安装有控制器(12)，且基座(1)的顶端开设有凹槽，该凹槽的内部安装有电动推杆b(13)，电动推杆b(13)共设有四处，且四处电动推杆b(13)呈环形阵列安装在基座(1)内部的四角位置。

6.如权利要求5所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：四处所述电动...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁超，
申请(专利权)人：岱岸江苏装备制造有限公司，
类型：发明
国别省市：