接触探针制造技术

本申请的实施例提出了一种接触探针，包括管状结构、卡接部、推压部和弹性构件。管状结构的内部容纳有弹性构件；卡接部设置在管状结构内；推压部设置在管状结构内，且与卡接部相对设置在管状结构内壁；弹性构件的一部分设置在管状结构中，且弹性构件的第一端的侧面与卡接部卡接，推压部推挤弹性构件相对一侧的侧面，卡接部与推压部共同挤压弹性构件以使弹性构件呈弯曲状态，并使管状结构中的部分弹性构件与管状结构的内壁紧密贴合。在本实施例中，在使用接触探针的时候，弹性构件也能够始终朝一个方向弯曲并与管状结构的内壁的同一个部位接触，如此能够提高接触探针内部的结构稳定性，以提高电气测试的稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉电气测试领域，具体涉及一种接触探针。

技术介绍

1、在例如ic(integrated circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其的电气性能进行测试。这种测试设备一般包括与另一电气部件(例如布线基板)电性连接的插座。

2、相关技术中的一种插座，包括插座柱体和接触探针，其中，插座柱体上形成有可容纳第一电气部件的容纳部，另外，插座柱体上还形成有探针收纳孔，接触探针收纳于探针收纳孔。在进行电气测试的过程中，第一电气部件被安置于容纳部，接触探针的一端与第一电气部件的端子接触，另一端与另一电气部件(后文简称第二电气部件)接触，从而建立第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。

3、为了保证电气测试的结果的精准性，接触探针的电阻值不允许超过容许电阻值。根据接触探针在工作时施加给第二部件的载荷(后文简称载荷)的不同，接触探针可以分为多种型号。本公开的专利技术人发现，载荷相对较小的这部分型号的接触探针，其电阻值会随着电气测试的次数的增加而变大。这意味着，随着电气测试的次数的增加，载荷相对较小的这部分型号的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种接触探针，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的接触探针，其特征在于，所述弹性构件(200)包括两端的紧密线圈部(220)和设置在所述紧密线圈部(220)中间的疏松线圈部(210)；

3.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述卡接部(110)卡进所述紧密线圈部(220)的线圈内，所述推压部(130)推压相对一侧的所述紧密线圈部(220)的侧面，以使所述弹性构件(200)呈弯曲状。

4.根据权利要求1所述的接触探针，其特征在于，所述卡接部(110)和所述推压部(120)与所述管状结构(100)一体成型。

<p>5.根据权利要求...

【技术特征摘要】

1.一种接触探针，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的接触探针，其特征在于，所述弹性构件(200)包括两端的紧密线圈部(220)和设置在所述紧密线圈部(220)中间的疏松线圈部(210)；

3.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述卡接部(110)卡进所述紧密线圈部(220)的线圈内，所述推压部(130)推压相对一侧的所述紧密线圈部(220)的侧面，以使所述弹性构件(200)呈弯曲状。

4.根据权利要求1所述的接触探针，其特征在于，所述卡接部(110)和所述推压部(120)与所述管状结构(100)一体成型。

5.根据权利要求4所述的接触探针，其特征在于，所述管状结构(100)的管壁开设有第一切割槽(111)，一部分所述管状结构(100)的管壁沿所述第一切割槽(111)向所述容纳腔内延伸以形成所述卡接部。

6.根据权利要求4所述的接触探针，其特征在于，所述管状结...

【专利技术属性】
技术研发人员：市川浩幸，
申请(专利权)人：恩普乐斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：