用于电气部件测试的插座制造技术

本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括插座本体，插座本体包括第一本体部、第二本体部以及位于第一本体部和第二本体部之间的第三本体部，插座本体的内部设置有第一探针收纳部，第二本体部和第三本体部靠近第一探针收纳部的部位设置有通孔，通孔与第一探针收纳部连通，通孔的位于第二本体部的孔壁设置有第一导电层，通孔的位于第三本体部的孔壁设置有第二导电层；接触探针，接触探针包括信号探针，信号探针收纳于第一探针收纳部，信号探针与第一导电层之间、信号探针与第二导电层之间均具有间距；绝缘性导向件，导向件位于第二本体部与第三本体部之间，导向件上设置有导向部，导向部用于供信号探针穿过。导向部用于供信号探针穿过。导向部用于供信号探针穿过。

【技术实现步骤摘要】
用于电气部件测试的插座


[0001]本申请涉及电气部件测试
，特别涉及一种用于电气部件测试的插座。

技术介绍

[0002]在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其进行性能测试。该测试设备一般包括与另一电气部件(例如布线基板)电性连接的插座。
[0003]相关技术中的一种插座，包括插座主体和接触探针，其中，插座主体上形成有可容纳第一电气部件的容纳部，另外，插座主体上还形成有探针收纳孔，接触探针收纳于探针收纳孔。接触探针为金属材质，接触探针的一端用于与第一电气部件接触，另一端用于与第二电气部件接触，从而建立起第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。
[0004]接触探针分为接地探针和信号探针，在收纳接地探针的探针收纳孔的孔壁设置有导电层，接地探针与导电层连接并接地。信号探针用于传递测试信号，信号探针与插座主体的接触部分为绝缘材料，以防止产生泄漏电流。但是导电层会对信号探针的高频特性产生一定的影响，信号探针与接地探针之间设置有一定的距离，使得信号探针与导电层之间距离较大，进而导致信号探针的高频特性不太理想，电气测试的可靠性较差。

技术实现思路

[0005]本申请实施例的目的在于提供一种用于电气部件测试的插座，以改善信号探针的高频特性，从而提高电气测试的可靠性。具体技术方案如下：
[0006]本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括插座本体，所述插座本体包括第一本体部、第二本体部以及位于所述第一本体部和所述第二本体部之间的第三本体部，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部，所述第二本体部和所述第三本体部靠近所述第一探针收纳部的部位设置有通孔，所述通孔与所述第一探针收纳部连通，所述通孔的位于所述第二本体部的孔壁设置有第一导电层，所述通孔的位于所述第三本体部的孔壁设置有第二导电层；接触探针，所述接触探针包括信号探针，所述信号探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针与所述第一导电层之间、所述信号探针与所述第二导电层之间均具有间距；绝缘性导向件，所述导向件位于所述第二本体部与所述第三本体部之间，所述导向件上设置有导向部，所述导向部用于供所述信号探针穿过。
[0007]在本申请实施例中，第二本体部和第三本体部的靠近第一探针收纳部的部位设置有通孔，通孔与第一探针收纳部连通。这样，使得信号探针的一部分位于第一探针收纳部内，另一部分位于通孔内。位于第二本体部的通孔的孔壁设置有第一导电层，位于第三本体部的通孔的孔壁设置有第二导电层。也就是说，在靠近第一探针收纳部的通孔侧壁上设置第一导电层以及第二导电层，从而可以减小信号探针距离导电层的距离，进而在电气测试过程中，有利于改善信号探针的高频特性，提高电气测试的可靠性。另外，由于第二本体部和第三本体部的内部设置有通孔，信号探针在插入第一探针收纳部时，仅受到位于第一本
体部的上的第一探针收纳部的导向作用，而第二本体部和第三本体部内的通孔无法起到对信号探针导向的作用，从而可能致使信号探针插入后出现歪斜。因此，本申请实施例还在第二本体部和第三本体部之间设置有导向件，导向件上设置有导向部，导向部用于供信号探针穿过，导向件对信号探针起导向作用。导向件可采用绝缘性的材料制成，以防止信号探针与导向件电接触，从而避免信号探针受到干扰。由上述可知，本申请实施例通过设置带有导向部的导向件以及在通孔的侧壁设置第一导电层和第二导电层的方式，有利于在改善信号探针的高频特性的同时减少信号探针容易歪斜的情况。
[0008]根据本申请实施例的插座，还可具有如下附加的技术特征：
[0009]在本申请的一些实施例中，所述第一导电层与所述信号探针的距离等于所述第二导电层与所述信号探针的距离。
[0010]在本申请的一些实施例中，所述插座本体的内部还设置有第二探针收纳孔，所述接触探针还包括接地探针，所述接地探针收纳于所述第二探针收纳孔。
[0011]在本申请的一些实施例中，所述第一探针收纳部的孔壁设置有第三导电层，所述接地探针与所述第三导电层的至少一部分接触，以使所述第一本体部与所述接地探针接触。
[0012]在本申请的一些实施例中，所述第一本体部靠近所述第三本体部的表面设置有第一镀层，所述第三本体部靠近所述第一本体部的表面设置有第二镀层，所述第一本体部所述第三本体部接触。
[0013]在本申请的一些实施例中，所述第二本体部靠近所述第三本体部的表面设置有第三镀层，所述第三本体部靠近所述第二本体部的表面设置有第四镀层，所述插座还包括贯通电极，所述第二本体部与所述第三本体部通过所述贯通电极相抵，以使所述第二本体部与所述第三本体部电导通。
[0014]在本申请的一些实施例中，所述导向件上还设置有安装孔，所述贯通电极卡接在所述安装孔上。
[0015]在本申请的一些实施例中，所述信号探针包括管状结构以及柱塞，所述管状结构的内部形成有容纳腔，所述管状结构的第一端用于与第一电气部件接触，所述柱塞以可滑动的方式与所述管状结构连接，所述柱塞从所述管状结构的第二端伸出，所述柱塞用于与第二电气部件接触。
[0016]在本申请的一些实施例中，所述接地探针与所述信号探针的结构相同，所述导向部有多个，所述导向部还用于供所接地探针穿过。
[0017]在本申请的一些实施例中，所述信号探针的管状结构上设置有凸起，所述凸起用于与所述导向部止挡配合。
[0018]当然，实施本申请的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的实施
例。
[0020]图1为本申请实施例的插座的结构示意图；
[0021]图2为本申请一种实施例的插座的剖面示意图；
[0022]图3为图2中M处的放大示意图。
[0023]附图标记如下：
[0024]10
‑
插座；100
‑
插座本体；110
‑
第一本体部；111
‑
第一镀层；120
‑
第二本体部；121
‑
第三镀层；130
‑
第三本体部；131
‑
第二镀层；132
‑
第四镀层；140
‑
第一探针收纳部；150
‑
通孔；160
‑
第一导电层；170
‑
第二导电层；180
‑
第二探针收纳孔；190
‑
第三导电层；200
‑
接触探针；210
‑
信号探针；211
‑
管状结构；212—柱塞；2111
‑
凸起；2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，包括：插座本体，所述插座本体包括第一本体部、第二本体部以及位于所述第一本体部和所述第二本体部之间的第三本体部，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部，所述第二本体部和所述第三本体部靠近所述第一探针收纳部的部位设置有通孔，所述通孔与所述第一探针收纳部连通，所述通孔的位于所述第二本体部的孔壁设置有第一导电层，所述通孔的位于所述第三本体部的孔壁设置有第二导电层；接触探针，所述接触探针包括信号探针，所述信号探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针与所述第一导电层之间、所述信号探针与所述第二导电层之间均具有间距；绝缘性导向件，所述导向件位于所述第二本体部与所述第三本体部之间，所述导向件上设置有导向部，所述导向部用于供所述信号探针穿过。2.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第一导电层与所述信号探针的距离等于所述第二导电层与所述信号探针的距离。3.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述插座本体的内部还设置有第二探针收纳部，所述接触探针还包括接地探针，所述接地探针收纳于所述第二探针收纳孔。4.根据权利要求3所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第一探针收纳部的孔壁设置有第三导电层，所述接地探针与所述第三导电层的至少一部分接触，以使所述第一本体部与所述接地探针接触。5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：安住玲雄，
申请(专利权)人：恩普乐斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：