用于电气部件测试的插座制造技术

本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括：插座本体，插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，插座本体的底部设置有凹槽，凹槽与第二探针收纳部连通，凹槽的槽壁设置有第二导电层，信号探针与第二导电层之间设置有间距；接触探针，接触探针包括接地探针以及信号探针，接地探针收纳于第一探针收纳部，信号探针收纳于第二探针收纳部；导向件，导向件固定安装于插座本体，导向件上设置有导向部，导向部用于对信号探针进行导向。在本申请实施例中，通过在凹槽的槽壁设置第二导电层，使第二导电层与信号探针的距离较小，进而改善信号探针的高频特性。进而改善信号探针的高频特性。进而改善信号探针的高频特性。

【技术实现步骤摘要】
用于电气部件测试的插座


[0001]本申请涉及电气部件测试
，特别涉及一种用于电气部件测试的插座。

技术介绍

[0002]在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其进行性能测试。该测试设备一般包括与另一电气部件(例如布线基板)电性连接的插座。
[0003]相关技术中的一种插座，包括插座主体和接触探针，其中，插座主体上形成有可容纳第一电气部件的容纳部，另外，插座主体上还形成有探针收纳孔，接触探针收纳于探针收纳孔。接触探针为金属材质，接触探针的一端用于与第一电气部件接触，另一端用于与第二电气部件接触，从而建立起第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。
[0004]接触探针分为接地探针和信号探针，在收纳接地探针的探针收纳孔的孔壁设置有导电层，接地探针与导电层连接并接地。信号探针用于传递测试信号，信号探针与插座主体的接触部分为绝缘材料，以防止产生泄漏电流。但是导电层会对信号探针的高频特性产生一定的影响，信号探针与接地探针之间设置有一定的距离，使得信号探针与导电层之间距离较大，进而导致信号探针的高频特性不太理想，电气测试的可靠性较差。

技术实现思路

[0005]本申请实施例的目的在于提供一种用于电气部件测试的插座，以改善信号探针的高频特性，从而提高电气测试的可靠性。具体技术方案如下：
[0006]本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括：插座本体，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，所述第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，所述插座本体的底部设置有凹槽，所述凹槽与所述第二探针收纳部连通，所述凹槽的槽壁设置有第二导电层；接触探针，所述接触探针包括接地探针以及信号探针，所述接地探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针收纳于所述第二探针收纳部，所述信号探针与所述第二导电层之间设置有间距；导向件，所述导向件固定安装于所述插座本体，所述导向件上设置有导向部，所述导向部用于对所述信号探针进行导向。
[0007]在本申请实施例中，插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，其中，第一探针收纳部用于容纳接地探针，第二探针收纳部用于容纳信号探针，第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，接地探针与第一导电层接触并接地。插座本体的底部设置有凹槽，第二探针收纳部与凹槽连通，使得信号探针的一部分位于第二探针收纳部，另一部分位于凹槽内。凹槽的槽壁设置有第二导电层，信号探针与第二导电层之间设置有间距，以避免产生泄漏电流。与第一导电层相比较，通过在凹槽的槽壁设置第二导电层，使第二导电层与信号探针的距离较小，进而在电气测试过程中，改善信号探针的高频特性，提高电气测试的可靠性。另外，在上述结构中，第二探针收纳部与凹槽连通，意味着第二探针收纳部的长度缩短，由于第二探针收纳部用于对信号探针的轴向移动起导向作用，第二探针
收纳部的长度缩短，使得第二探针收纳部对信号探针的导向作用减弱，从而导致信号探针的靠近第二电气部件的一端容易歪斜。为了减少在改善信号探针的高频特性时所出现的信号探针容易歪斜的情况，在本申请实施例中，插座本体还包括导向件，导向件固定安装于插座本体，导向件上设置有导向部，导向部对信号探针起导向作用。通过导向部的导向作用与第二探针收纳部的导向作用相配合，有效减少在改善信号探针的高频特性时所出现的信号探针容易歪斜的情况。
[0008]另外，根据本申请实施例的用于电气部件测试的插座，还可具有如下附加的技术特征：
[0009]在本申请的一些实施例中，所述插座本体包括第一本体部和第二本体部，所述第一本体部位于所述插座本体的上部，所述第二本体部位于所述插座本体的下部，所述凹槽位于所述第二本体部且贯穿所述第二本体部，所述第一探针收纳部贯穿所述第一本体部与所述第二本体部，所述第二探针收纳部贯穿所述第一本体部。
[0010]在本申请的一些实施例中，所述信号探针包括管状结构以及柱塞，所述管状结构的内部形成有容纳腔，所述管状结构的第一端用于与第一电气部件接触，所述柱塞以可滑动的方式与所述管状结构连接，所述柱塞从所述管状结构的第二端伸出，所述柱塞用于与第二电气部件接触。
[0011]在本申请的一些实施例中，所述导向件为绝缘板，所述导向件固定在所述插座本体的底部，所述导向部为导向孔，所述导向孔用于供所述信号探针的柱塞穿过。
[0012]在本申请的一些实施例中，所述导向件上设置有多个导向孔，所述接地探针与所述信号探针的结构相同，所述导向孔还用于供所述接地探针的柱塞穿过。
[0013]在本申请的一些实施例中，所述导向件的表面设置有用于与所述接地探针以及所述第二导电层电连接的镀层。
[0014]在本申请的一些实施例中，所述导向孔与所述信号探针的管状结构的第二端止挡配合。
[0015]在本申请的一些实施例中，所述导向件固定在所述凹槽内，所述导向件为绝缘块，所述导向部为导向孔，所述导向孔用于供所述信号探针的管状结构通过。
[0016]在本申请的一些实施例中，一个所述导向件上设置有多个导向孔，所述多个导向孔用于供多个所述信号探针的管状结构通过。
[0017]在本申请的一些实施例中，所述信号探针的管状结构上设置有凸起，所述凸起用于与所述导向孔止挡配合。
[0018]当然，实施本申请的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
[0020]图1为本申请实施例的插座的结构示意图；
[0021]图2为本申请一种实施例的插座的剖面示意图；
[0022]图3为本申请另一种实施例的插座的剖面示意图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员基于本申请所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0024]如
技术介绍
中描述，在相关技术中，接触探针分为接地探针和信号探针，在收纳接地探针的探针收纳孔的孔壁设置有导电层，接地探针与导电层连接并接地。信号探针用于传递测试信号，信号探针与插座本体的接触部分为绝缘材料，以防止测试信号间产生漏电流现象。但是导电层会对信号探针的高频特性产生一定的影响，信号探针与接地探针之间设置有一定的距离，使得信号探针与导电层之间距离较大，进而导致信号探针的高频特性不太理想。
[0025]针对该技术问题，本申请实施例提出了一种用于电气部件测试的插座，以改善信号探针的高频特性，从而提高电气测试的可靠性。
[0026]在本申请实施例中，电气部件包括但不本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，包括：插座本体，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，所述第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，所述插座本体的底部设置有凹槽，所述凹槽与所述第二探针收纳部连通，所述凹槽的槽壁设置有第二导电层；接触探针，所述接触探针包括接地探针以及信号探针，所述接地探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针收纳于所述第二探针收纳部，所述信号探针与所述第二导电层之间设置有间距；导向件，所述导向件固定安装于所述插座本体，所述导向件上设置有导向部，所述导向部用于对所述信号探针进行导向。2.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述插座本体包括第一本体部和第二本体部，所述第一本体部位于所述插座本体的上部，所述第二本体部位于所述插座本体的下部，所述凹槽位于所述第二本体部且贯穿所述第二本体部，所述第一探针收纳部贯穿所述第一本体部与所述第二本体部，所述第二探针收纳部贯穿所述第一本体部。3.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述信号探针包括管状结构以及柱塞，所述管状结构的内部形成有容纳腔，所述管状结构的第一端用于与第一电气部件接触，所述柱塞以可滑动的方式与所述管状结构连接，所述柱塞从所述管状结构的第二端伸...

【专利技术属性】
技术研发人员：安住玲雄，
申请(专利权)人：恩普乐斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：