【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及晶圆加工,具体地说,涉及一种可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘及方法。
技术介绍
1、在半导体加工的过程中,晶圆表面的清洁度是影响半导体器件可靠性的重要因素之一,而在晶圆的加工过程中,沉积、等离子体刻蚀、旋涂光刻胶、光刻以及电镀等加工方式均有可能导致晶圆表面引入污染物,导致晶圆表面的清洁度下降,致使采用该晶圆制造的半导体器件的良率低,因此在晶圆加工结束后需要利用清洗设备对晶圆进行清洗。
2、清洗晶圆时通常需要将晶圆固定在清洗设备的卡盘装置上,卡盘优选采用负压吸附的方式对晶圆进行固定;在对晶圆进行固定后,通过使卡盘旋转来带动晶圆进行旋转运动,然后使用喷枪将水冲击在旋转的晶圆表面,待水将晶圆表面冲刷干净后,再使用气枪将晶圆表面吹成干燥状态。
3、然而,在清洗过程中,晶圆的外圈以及靠近外圈的底部也会附着部分水珠,但气枪只能对晶圆表面的水分进行清理,导致晶圆外圈以及靠近外圈的底部无法得到清理,降低晶圆干燥的效率,影响下一步的加工效率。
技术实现思路
1、本专利
...【技术保护点】
1.一种可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘,包括外环(100)以及设置在外环(100)内部用于将晶圆(200)吸附固定的承载台(101),其特征在于:所述承载台(101)外圈与外环(100)内圈之间形成活动腔(102);所述承载台(101)内部为中空结构,其内部设置有可贯穿承载台(101)顶部的顶动件;所述活动腔(102)内设置有引导件(110),所述引导件(110)以转动的方式设置在活动腔(102)内;
2.根据权利要求1所述的可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘,其特征在于:所述承载台(101)顶部开设有与内部连通的吸风口(103),底部开设有与内部连通
...【技术特征摘要】
1.一种可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘,包括外环(100)以及设置在外环(100)内部用于将晶圆(200)吸附固定的承载台(101),其特征在于:所述承载台(101)外圈与外环(100)内圈之间形成活动腔(102);所述承载台(101)内部为中空结构,其内部设置有可贯穿承载台(101)顶部的顶动件;所述活动腔(102)内设置有引导件(110),所述引导件(110)以转动的方式设置在活动腔(102)内;
2.根据权利要求1所述的可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘,其特征在于:所述承载台(101)顶部开设有与内部连通的吸风口(103),底部开设有与内部连通的连接管(104),连接管(104)用于与外部的负压设备连接。
3.根据权利要求1所述的可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘,其特征在于:所述引导件(110)包括转环(111),所述转环(111)转动设置在外环(100)外圈开设的转槽(105)内,所述转环(111)的顶部固定连接有多个连接臂(112),所述连接臂(112)的端部固定连接有导风板(113),所述导风板(113)位于活动腔(102)内,所述导风板(113)靠近承载台(101)的一侧纵向滑动设置有滑块(114),所述导风板(113)的顶端向承载台(101)处的一端弯折,所述滑块(114)靠近承载台(101)的一端向顶部弯折。
4.根据权利要求1所述的可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘,其特征在于:所述顶动件包括驱动件(120)和顶针(130),所述顶针(130)包括底端以滑动的方式穿入承载台(101)内部的直杆(131),直杆(131)的顶端固定连接有圆盘(132);
5.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨刚,魏亮,赵勇,
申请(专利权)人:苏州晶睿半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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