【技术实现步骤摘要】
本技术涉及高温测试柜领域，尤其涉及一种用于电子元件的高温测试柜。
技术介绍
1、电子元件指在工厂生产加工时不改变分子成分的成品。如电阻器、电容器、电感器。因为它本身不产生电子，它对电压、电流无控制和变换作用，所以又称无源器件。
2、电子元件使用时会自身会发热，但是电子元件过热后会影响其使用寿命，因此电子元件在生产时会进行耐高温测试，但是目前使用的高温测试柜使用功能较为单一，不能对电子元件进行多样化测试。
3、有鉴于此，针对现有的问题予以研究改良，提供一种用于电子元件的高温测试柜，其中通过通风板与强力排风扇的设置使得测试柜主体内部形成一个良好的空气循环，可以在高温测试结束后为测试柜主体内部急速降温，并且通过密封测试柜的设置使得本装置可以对电子元器件进行完全密封环境下高温测试，再加上通风环境下高温测试以及普通环境下高温测试使得本装置可以对电子元件进行三种不同环境下的高温测试，旨在通过该技术，达到解决问题与提高实用价值性的目的。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决现...
【技术保护点】
1.一种用于电子元件的高温测试柜，包括测试柜主体(1)，其特征在于：所述测试柜主体(1)两侧通过电动转轴(2)连接有通风板(3)，所述测试柜主体(1)表面通过合页(4)连接有柜门(5)，所述柜门(5)表面一处连接有把手(6)，所述柜门(5)表面另一处连接有控制面板(7)，所述测试柜主体(1)顶端中心处连接有强力排风扇(8)，所述测试柜主体(1)内部两侧连接有加热棒(9)，所述测试柜主体(1)内部底端连接有加热板(10)，所述测试柜主体(1)内部两侧一处连接有温度感应器(11)，所述测试柜主体(1)内部一处连接有安装架(12)，所述测试柜主体(1)内部另一处连接有密封测
【技术特征摘要】
1.一种用于电子元件的高温测试柜，包括测试柜主体(1)，其特征在于：所述测试柜主体(1)两侧通过电动转轴(2)连接有通风板(3)，所述测试柜主体(1)表面通过合页(4)连接有柜门(5)，所述柜门(5)表面一处连接有把手(6)，所述柜门(5)表面另一处连接有控制面板(7)，所述测试柜主体(1)顶端中心处连接有强力排风扇(8)，所述测试柜主体(1)内部两侧连接有加热棒(9)，所述测试柜主体(1)内部底端连接有加热板(10)，所述测试柜主体(1)内部两侧一处连接有温度感应器(11)，所述测试柜主体(1)内部一处连接有安装架(12)，所述测试柜主体(1)内部另一处连接有密封测试柜(13)。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子元件的高温测试柜，其特征在于：所述电动转轴(2)一端与测试柜主体(1)固定连接另一端与通风板(3)固定连接，所述通风板(3)通过电动转轴(2)与测试柜主体(1)轴连接，所述电动转轴(2)与通风板(3)的数量为两个。
3.根据权利要求1所述的一种用于电子元件的高温测试柜，其特征在于：所述柜门(5)通过合页(4)与测试柜主体(1)轴连接，所述合页(4)一端与测试柜主体(1)固定连接另一端与柜门(5)固定连接，所述把手(6)与柜门(5)固定连接，所述把手(6)与柜门(5)的数量为两个，所述合页(4)的...
【专利技术属性】
技术研发人员：沈嘉琦，吴礼优，肖海鹏，徐江波，
申请(专利权)人：深圳市金胜电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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