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本技术公开了一种用于电子元件的高温测试柜，包括测试柜主体，所述测试柜主体两侧通过电动转轴连接有通风板，所述测试柜主体表面通过合页连接有柜门，所述柜门表面一处连接有把手，所述柜门表面另一处连接有控制面板，所述测试柜主体顶端中心处连接有强力排风...
该专利属于深圳市金胜电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市金胜电子科技有限公司授权不得商用。

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