一种半导体测试收集箱制造技术

本技术提供一种半导体测试收集箱，涉及收集箱技术领域，包括：收集箱本体，所述收集箱本体连接设有开关机构，所述收集箱本体连接设有传动机构。本技术，通过设置的收集箱本体与开关机构和传动机构之间的相互配合，从而在半导体收集后，可对半导体提供收纳的效果，而在使用者需要取出半导体时，通过设置的传动机构与开关机构的相互配合，从而可使存放的部件自行推出。在一定程度上提高了取出半导体时的便利性，并提高了使用者的工作效率性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及收集箱，尤其涉及一种半导体测试收集箱。

技术介绍

1、收集箱指通过人力将需要收集的物体通过外力将收集物体置入箱内，从而完成收集。

2、现有的部分收集箱通过人力将需收集物体置入箱体内，从而完成收集。但在常规的收集箱对半导体进行收集后，在工作人员需要对箱内的半导体进行检测时，可能会因箱体出口的大小，从而导致半导体不易倒出箱体外，并且可能因倒出时，因人为因素或者其他因素的影响，导致半导体摔落在地，造成半导体损坏的可能，而因半导体的制作过程较为繁琐，可能会导致一定的经济损失，并可能降低工作者的工作效率，且摔落在地的半导体，因损坏的半导体通过外部特征很难判断，所以仍然需要通过工作者的检测进行判断。在一定程度上具有一定的不便性，具有一定的技术缺陷。

技术实现思路

1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，提供一种半导体测试收集箱。

2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种半导体测试收集箱，包括：收集箱本体，所述收集箱本体连接设有开关机构，所述收集箱本体连接设有传动机构，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体测试收集箱，其特征在于，包括：收集箱本体（1），所述收集箱本体（1）连接设有开关机构（2），所述收集箱本体（1）连接设有传动机构（3），所述传动机构（3）设有电机（31），所述电机（31）一侧中部处贯穿连接有第一螺纹杆（32），所述第一螺纹杆（32）设有螺纹处螺纹连接有第一移动块（33），所述第一螺纹杆（32）一端端头处贯穿连接有主动齿轮（34），所述主动齿轮（34）一侧卡齿处啮合连接有齿带（35），所述齿带（35）内侧卡齿处啮合连接有从动齿轮（36），所述从动齿轮（36）中部贯穿连接有第二螺纹杆（37）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试收集箱，其特征在...

【技术特征摘要】

1.一种半导体测试收集箱，其特征在于，包括：收集箱本体（1），所述收集箱本体（1）连接设有开关机构（2），所述收集箱本体（1）连接设有传动机构（3），所述传动机构（3）设有电机（31），所述电机（31）一侧中部处贯穿连接有第一螺纹杆（32），所述第一螺纹杆（32）设有螺纹处螺纹连接有第一移动块（33），所述第一螺纹杆（32）一端端头处贯穿连接有主动齿轮（34），所述主动齿轮（34）一侧卡齿处啮合连接有齿带（35），所述齿带（35）内侧卡齿处啮合连接有从动齿轮（36），所述从动齿轮（36）中部贯穿连接有第二螺纹杆（37）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试收集箱，其特征在于：所述第二螺纹杆（37）一侧处设有螺纹处同螺纹连接有移动块（33），所述移动块（33）内侧处贯穿连接有控制槽（38），所述移动块（33）另一侧处固定连接有置物槽（39），所述置物槽（39）内侧处卡合连接有压块（310），所述压块（310）底侧处固定连接有若干个弹...

【专利技术属性】
技术研发人员：高军，刘辉，杨文斌，邹振扬，朱永文，陈胜，黄锦钰，
申请(专利权)人：铜陵碁明半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：