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本技术提供一种半导体测试收集箱，涉及收集箱技术领域，包括：收集箱本体，所述收集箱本体连接设有开关机构，所述收集箱本体连接设有传动机构。本技术，通过设置的收集箱本体与开关机构和传动机构之间的相互配合，从而在半导体收集后，可对半导体提供收纳的效...
该专利属于铜陵碁明半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过铜陵碁明半导体技术有限公司授权不得商用。

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