【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及关于薄膜卷的制造管理系统以及制造管理方法。
技术介绍
1、液晶显示装置逐渐被用于大画面电视、大型监视器，随之，液晶显示装置的显示面所使用的薄膜(film)也被要求宽幅化。例如，期望2000mm宽度以上的宽幅的薄膜。另外，为了预先观察基材损耗(薄膜损耗)、以及实现输送成本的降低，要求制造卷长也在1000m以上、进而3000m以上的长尺寸的薄膜卷。
2、在制造薄膜卷时，在将长尺寸的树脂薄膜呈卷状卷绕时，由于薄膜的状态(膜厚偏差、残余应力、制造工序的温度、湿度)、卷绕的条件(张力、速度、伴随空气)，产生各种缺陷。作为薄膜中的缺陷，例如有由薄膜彼此的粘连而导致的卷的周向上的较暗的条纹状的不良(卡带(gauge band))、周向上的条纹状的变形(纵向褶皱)、倾斜方向的变形(斜向褶皱)等。
3、作为检测制造工序中的薄膜卷的缺陷的方法，在专利文献1中公开了基于反射光来检测偏振膜的缺陷的检查装置。
4、先行技术文献
5、专利文献
6、专利文献1：日本特开2003-344301号公报
技术实现思路
1、专利技术要解决的课题
2、但是，这样的薄膜卷的缺陷不仅在制造时发生，在其后也会发生。即，由于制造之后到出厂被长期保管，或者直到在对顾客交货之后被使用为止被长期保管，从而存在由于薄膜基材的自重而在薄膜卷整体中产生由挠曲等导致的各种缺陷的情况。此外，缺陷的产生状况有时也受到从制造到使用为止的薄膜卷的保管环境、输送时环境
3、本专利技术是鉴于上述情况而完成的，其目的在于防止使用薄膜卷的薄膜进行制造的产品产生不良。
4、用于解决课题的手段
5、本专利技术的上述目的通过下述的手段来实现。
6、(1)一种制造管理系统，具备：
7、一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；
8、第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的、基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；
9、第二信息获取部，获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及
10、卷绕条件设定部，根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化来设定所述薄膜卷的制造时的卷绕条件。
11、(2)根据上述(1)所述的制造管理系统，所述卷绕条件是卷绕张力、通过滚花处理而形成的滚花高度、以及按压卷绕到所述薄膜卷之前的薄膜的接触辊的接触压力中的至少一个。
12、(3)根据上述(1)或(2)所述的制造管理系统，其中，
13、还具备第三信息获取部，该第三信息获取部获取温湿度数据和/或加速度数据，作为从制造所述薄膜卷后直至制造具备该薄膜卷的所述薄膜的产品为止的期间的输送时的环境信息，
14、所述卷绕条件设定部基于所述环境信息和所述状态变化，设定所述卷绕条件。
15、(4)一种制造管理系统，具备：
16、一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；
17、第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的、基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；
18、第二信息获取部，获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及
19、包装条件设定部，根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化，设定包装制造后的所述薄膜卷时的包装条件。
20、(5)根据上述(4)所述的制造管理系统，其中，
21、所述包装条件是包装所述薄膜卷的包装素材的材质、包装度、以及有无与被包装的薄膜卷同封的除湿剂或除湿剂的量的至少任一个。
22、(6)根据上述(4)或上述(5)所述的制造管理系统，其中，
23、还具备第三信息获取部，该第三信息获取部获取温湿度数据和/或加速度数据，作为从制造所述薄膜卷后直至制造具备该薄膜卷的所述薄膜的产品为止的期间的输送时的环境信息，
24、所述包装条件设定部基于所述环境信息和所述状态变化，设定所述包装条件。
25、(7)一种制造管理系统，具备：
26、一个以上的检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；
27、第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的、基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；
28、第二信息获取部，获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；
29、计算结果信息生成部，根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，计算所述薄膜卷的状态变化，并生成计算结果信息；以及
30、显示部，显示所述计算结果信息，
31、所述第一缺陷信息以及所述第二缺陷信息分别与相同薄膜卷的表面的对应的多个检查位置对应，并且所述第一缺陷信息以及所述第二缺陷信息是多个，
32、所述计算结果信息是在每个对应的检查位置上计算状态变化而得到的信息，
33、显示于所述显示部的所述计算结果信息是按状态变化的变化量多的检查位置顺序排列而被显示的计算结果信息、或者是根据变化量的大小以多段不同的显示方式被显示的计算结果信息。
34、(8)根据上述(7)所述的制造管理系统，其中，
35、还具备第三信息获取部，该第三信息获取部获取温湿度数据和/或加速度数据，作为从制造所述薄膜卷后直至制造具备该薄膜卷的所述薄膜的产品为止的期间的输送时的环境信息，
36、所述显示部将所述环境信息与所述计算结果信息一起显示。
37、(9)一种制造管理系统，具备：
38、检查部，对薄膜卷的薄膜面侧进行光学检查，生成检查数据；
39、第一信息获取部，获取第一缺陷信息，该第一缺陷信息是在刚制造后的产品检查时对所述薄膜卷的、基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的；
40、第二信息获取部，获取在从所述薄膜卷抽出薄膜并制造具备所述薄膜的产品时对基于所述检查部的检查数据进行解析而生成的第二缺陷信息；以及
41、热处理条件设定部，根据所述第一缺陷信息和所述第二缺陷信息，判断所述薄膜卷的状态变化，并基于判断出的状态变化，设定制造具备所述薄膜的产品时的、从所述薄膜卷抽出后的对薄膜的热处理条件。
42、(10)根据上述(9)所述的制造管理系统，其中，
43、还具备第三信息获取部，该第三信息获取部获取温湿度数据和/或加速度数据，作为从制造所述薄膜卷后直至制本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种制造管理系统，具备：
2.根据权利要求1所述的制造管理系统，其中，
3.根据权利要求1或2所述的制造管理系统，其中，
4.一种制造管理系统，具备：
5.根据权利要求4所述的制造管理系统，其中，
6.根据权利要求4或5所述的制造管理系统，其中，
7.一种制造管理系统，具备：
8.根据权利要求7所述的制造管理系统，其中，
9.一种制造管理系统，具备：
10.根据权利要求9所述的制造管理系统，其中，
11.一种制造管理方法，执行包括如下步骤的处理：
12.根据权利要求11所述的制造管理方法，其中，
13.根据权利要求11或12所述的制造管理方法，其中，
14.一种制造管理方法，执行包括如下步骤的处理：
15.根据权利要求14所述的制造管理方法，其中，
16.根据权利要求14或15所述的制造管理方法，其中，
17.一种制造管理方法，执行包括如下步骤的处理：
18.根据权利要求17
19.一种制造管理方法，执行包括如下步骤的处理：
20.根据权利要求19所述的制造管理方法，其中，
...【技术特征摘要】
1.一种制造管理系统，具备：
2.根据权利要求1所述的制造管理系统，其中，
3.根据权利要求1或2所述的制造管理系统，其中，
4.一种制造管理系统，具备：
5.根据权利要求4所述的制造管理系统，其中，
6.根据权利要求4或5所述的制造管理系统，其中，
7.一种制造管理系统，具备：
8.根据权利要求7所述的制造管理系统，其中，
9.一种制造管理系统，具备：
10.根据权利要求9所述的制造管理系统，其中，
11.一种制造管理方法，执行包括如下步骤的处理...
【专利技术属性】
技术研发人员：萩原达希，齐藤真纪子，中江叶月，南条崇，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：
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