【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
1、1.领域
2、本公开一般涉及用于校准传感器的方法和设备。
3、2.相关技术的描述
4、配置成测量作为波长的函数的吸光度的分光计传感器，在该分光计传感器正在针对其测量吸光度的预期波长可不同于该分光计传感器正在针对其测量吸光度的实际波长的意义上，该分光计传感器可被误校准。产生此误校准可例如由于分光计传感器的制造缺陷，或在该分光计传感器的使用寿命期间该分光计传感器内的劣化(deterioration)或其他改变。因此，存在持续的需要以改进用于校准分光计传感器的方法和设备。
技术实现思路
1、根据本公开的一些实施例，一种用于确定校准函数的方法包括：计算目标光谱的分布与光谱的比较分布之间的第一距离；利用第一初步校准函数校准目标光谱的所述分布，以形成校准目标光谱的第一分布；计算校准目标光谱的所述第一分布与光谱的所述比较分布之间的第二距离；确定所述第二距离小于所述第一距离；以及将所述校准函数设定为等于所述第一初步校准函数。
2、在示例中，目标光谱的所述分布包括由目标传感器测量的一个或多个光谱，以及光谱的所述比较分布包括对应于一个或多个相应的比较传感器的一个或多个比较分布，所述比较分布中的每个比较分布包括由对应的比较传感器测量的一个或多个光谱。
3、在示例中，所述目标传感器是光学分光光度计，以及所述比较传感器中的每个比较传感器是光学分光光度计。
4、在示例中，光谱的所述比较分布基于所述一个或多个比较分布。>
5、在示例中，光谱的所述比较分布是所述一个或多个比较分布的联合。
6、在示例中，所述目标光谱是至少一个目标样本的光谱，所述至少一个目标样本中的每个目标样本来自相同类的样本，以及光谱的所述比较分布的光谱是至少一个比较样本的光谱，所述至少一个比较样本中的每个比较样本来自与所述至少一个目标样本来自的所述相同类的样本。
7、在示例中，所述方法进一步包括：利用相应的多个实际辐射波长的光照射所述至少一个目标样本中的每个目标样本；以及通过目标传感器并对于所述至少一个目标样本中的每个目标样本，测量通过所述目标样本透射的所述相应的多个实际波长的所述光的相应部分，其中所述目标光谱包括分别基于光的部分的所述目标样本的多个吸光度值。
8、在示例中，所述第一距离基于度量计算，并且所述度量是瓦瑟斯坦距离度量、kullback-leibler散度度量、renyi散度度量或f-散度度量。
9、在示例中，所述方法进一步包括从初步校准函数族之中选择所述第一初步校准函数。
10、在示例中，所述第一初步校准函数将标称波长的集合映射到校准波长的集合。
11、在示例中，所述方法进一步包括通过训练神经网络来定义所述第一初步校准函数，以响应于被提供有标称波长的所述集合中的标称波长而提供校准波长的所述集合中的校准波长。
12、根据本公开的一些实施例，一种用于确定校准函数的处理电路被配置成：计算目标光谱的分布与光谱的比较分布之间的第一距离；利用第一初步校准函数校准目标光谱的所述分布，以形成校准目标光谱的第一分布；计算校准目标光谱的所述第一分布与光谱的所述比较分布之间的第二距离；确定所述第二距离小于所述第一距离；以及将所述校准函数设定为等于所述第一初步校准函数。
13、在示例中，目标光谱的所述分布包括由目标传感器测量的一个或多个光谱，以及光谱的所述比较分布包括对应于一个或多个相应的比较传感器的一个或多个比较分布，所述比较分布中的每个比较分布包括由对应的比较传感器测量的一个或多个光谱。
14、在示例中，所述目标传感器是光学分光光度计，以及所述比较传感器中的每个比较传感器是光学分光光度计。
15、在示例中，光谱的所述比较分布基于所述一个或多个比较分布。
16、在示例中，所述处理电路在所述目标传感器中。
17、在示例中，所述处理电路进一步配置成：接收目标光谱的所述分布；以及从云存储或所述目标传感器外部的存储器接收所述一个或多个比较分布。
18、在示例中，所述目标光谱包括至少一个目标样本的光谱，所述至少一个目标样本中的每个目标样本来自相同类的样本，以及光谱的所述比较分布的光谱是至少一个比较样本的光谱，所述至少一个比较样本中的每个比较样本来自与所述至少一个目标样本来自的所述相同类的样本。
19、在示例中，所述第一距离基于度量计算，并且所述度量是瓦瑟斯坦距离度量、kullback-leibler散度度量、renyi散度度量或f-散度度量。
20、在示例中，所述第一初步校准函数将标称波长的集合映射到校准波长的集合。
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1.一种用于确定校准函数的方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中目标光谱的所述分布包括由目标传感器测量的一个或多个光谱，以及光谱的所述比较分布包括对应于一个或多个相应的比较传感器的一个或多个比较分布，所述比较分布中的每个比较分布包括由对应的比较传感器测量的一个或多个光谱。
3.根据权利要求2所述的方法，其中所述目标传感器是光学分光光度计，以及所述比较传感器中的每个比较传感器是光学分光光度计。
4.根据权利要求2或权利要求3所述的方法，其中光谱的所述比较分布基于所述一个或多个比较分布。
5.根据权利要求4所述的方法，其中光谱的所述比较分布是所述一个或多个比较分布的联合。
6.根据先前权利要求中的任一项所述的方法，其中所述目标光谱包括一个或多个目标样本的光谱，所述一个或多个目标样本中的每个目标样本来自相同类的样本，以及
7.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：
8.根据先前权利要求中的任一项所述的方法，其中所述第一距离基于度量计算，并且所述度量是瓦瑟斯坦距离度量、Kullback-
9.根据先前权利要求中的任一项所述的方法，进一步包括从初步校准函数族之中选择所述第一初步校准函数。
10.根据先前权利要求中的任一项所述的方法，其中所述第一初步校准函数将标称波长的集合映射到校准波长的集合。
11.根据权利要求10所述的方法，进一步包括通过训练神经网络来定义所述第一初步校准函数，以响应于被提供有标称波长的所述集合中的标称波长而提供校准波长的所述集合中的校准波长。
12.一种用于确定校准函数的处理电路，所述处理电路被配置成：
13.根据权利要求12所述的处理电路，其中目标光谱的所述分布包括由目标传感器测量的一个或多个光谱，以及光谱的所述比较分布包括对应于一个或多个相应的比较传感器的一个或多个比较分布，所述比较分布中的每个比较分布包括由对应的比较传感器测量的一个或多个光谱。
14.根据权利要求13所述的处理电路，其中所述目标传感器是光学分光光度计，以及所述比较传感器中的每个比较传感器是光学分光光度计。
15.根据权利要求13或权利要求14所述的处理电路，其中光谱的所述比较分布基于所述一个或多个比较分布。
16.根据权利要求13至15中的任一项所述的处理电路，其中所述处理电路在所述目标传感器中。
17.根据权利要求16所述的处理电路，其中所述处理电路进一步配置成：
18.根据权利要求12至17中的任一项所述的处理电路，其中所述目标光谱包括一个或多个目标样本的光谱，所述一个或多个目标样本中的每个目标样本来自相同类的样本，以及
19.根据权利要求12至18中的任一项所述的处理电路，其中所述第一距离基于度量计算，并且所述度量是瓦瑟斯坦距离度量、Kullback-Leibler散度度量、Renyi散度度量或f-散度度量。
20.根据权利要求12至19中的任一项所述的处理电路，其中所述第一初步校准函数将标称波长的集合映射到校准波长的集合。
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于确定校准函数的方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中目标光谱的所述分布包括由目标传感器测量的一个或多个光谱，以及光谱的所述比较分布包括对应于一个或多个相应的比较传感器的一个或多个比较分布，所述比较分布中的每个比较分布包括由对应的比较传感器测量的一个或多个光谱。
3.根据权利要求2所述的方法，其中所述目标传感器是光学分光光度计，以及所述比较传感器中的每个比较传感器是光学分光光度计。
4.根据权利要求2或权利要求3所述的方法，其中光谱的所述比较分布基于所述一个或多个比较分布。
5.根据权利要求4所述的方法，其中光谱的所述比较分布是所述一个或多个比较分布的联合。
6.根据先前权利要求中的任一项所述的方法，其中所述目标光谱包括一个或多个目标样本的光谱，所述一个或多个目标样本中的每个目标样本来自相同类的样本，以及
7.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：
8.根据先前权利要求中的任一项所述的方法，其中所述第一距离基于度量计算，并且所述度量是瓦瑟斯坦距离度量、kullback-leibler散度度量、renyi散度度量或f-散度度量。
9.根据先前权利要求中的任一项所述的方法，进一步包括从初步校准函数族之中选择所述第一初步校准函数。
10.根据先前权利要求中的任一项所述的方法，其中所述第一初步校准函数将标称波长的集合映射到校准波长的集合。
11.根据权利要求10所述的方法，进一步包括通过训练神经网络来定义所述第一初步校准函...
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