【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及航天电源可靠性领域，具体为一种元器件综合重要度分析方法。
技术介绍
1、网络可以用于描述自然界中很多的复杂系统，典型的网络是由节点和边构成的，其中系统中的不同个体用节点表示，个体之间的特定关系用边表示。电路是一类非常典型的复杂网络，若把电路中如数字电路中的逻辑门、模拟电路中的电阻、电容、二极管等电子元件看成节点，各电子元件之间的金属导线看成边，则整个电路系统就构成一个复杂的网络，仅仅依靠bdd(二元决策图)结构无法很好进行重要度分析。由于电子电路系统的网络特性，也需要考虑复杂网络元件重要度评估。在众多网络系统中，借鉴复杂网络的理论，从网络的角度对电子产品中电路元器件的重要度进行更好的分析。
2、基于bdd分析方法和基于复杂网络模型对电子元器件的重要度排序两者有一定的差异，这是由于基于bdd分析方法的重要度排序，没有考虑到电路中的节点和位置信息的关系，而基于复杂网络重要度排序没有考虑到元件自身的故障率等可靠性因素在系统中的影响重要程度问题，二者的重要度排序有一定程度的关系割离。因此，有必要提出一种新的重要度分析方法，使两种重要度能够更好的融合，更好的进行科学计算，更加准确的对航天电子产品典型模块寿命进行控制。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提出一种元器件综合重要度分析方法，结合bdd分析方法的重要度排序和复杂网络模型重要度排序的优点，减少各自缺点的影响，使后期可靠性分配更具有合理性，实现可靠性优化设计。
2、为了实现以上目的，本专利技术通过
3、一种元器件综合重要度分析方法，包括如下步骤：s1、基于bdd分析方法，对电子产品模块中的元器件的重要度进行评估，确定各个元器件的第一重要度；s2、基于复杂网络模型的分析方法，对所述电子产品模块中的元器件的重要度进行评估，确定各个元器件的第二重要度；s3、根据所述第一重要度和所述第二重要度，确定各个元器件的综合重要度。
4、可选地，在步骤s3中，根据以下表达式计算各个元器件的所述综合重要度：
5、
6、其中，表示第i个元器件的所述第一重要度；表示第i个元器件的所述第二重要度；ωi表示第i个元器件的所述综合重要度。
7、可选地，步骤s1包括：
8、s11、生成所述电子产品模块的故障树，并将所述故障树转换为bdd结构图；
9、s12、根据所述bdd结构图确定所述各个元器件的概率重要度，作为各个元器件的所述第一重要度。
10、可选地，步骤s2包括：
11、s21、生成所述电子产品模块的电路拓扑结构图对应的邻接矩阵以及复杂网络模型，所述邻接矩阵用于表示所述复杂网络模型中节点之间的关联信息，所述邻接矩阵中的元素表示为
12、
13、s22、计算各个元器件的度值、接近度值，结合所述邻接矩阵，计算所述电子产品模块对应的重要度评价矩阵；
14、s23、根据所述重要度评价矩阵，确定各个元器件的所述第二重要度。
15、可选地，所述接近度值的表达式为：
16、
17、其中，ci为节点i的接近度值；n为所述复杂网络模型的节点总数；dij为节点i与节点j之间的路径长度。
18、可选地，所述重要度评价矩阵he的表达式为：
19、
20、其中，n表示所述复杂网络模型的节点总数；ci为节点i的接近度值；di为节点i的度值；<k>为所有节点的度值的平均值；参数h用来区分主电路元件与控制电路元件对相邻元件的影响。
21、可选地，在步骤s23中，根据以下表达式计算各个元器件的所述第二重要度：
22、
23、其中，表示元器件i的所述第二重要度，ci为节点i的接近度值，heij为所述重要度评价矩阵he中第i行第j列的值。
24、本专利技术与现有技术相比至少具有以下效果之一：
25、本专利技术将基于bdd重要度分析方法和基于复杂网络模型重要度分析方法的优点结合，区分了仅凭查表所得的元器件失效率存在多个元器件重要度相同的排序，同时考虑了每个元器件在复杂网络中节点的重要性，对于电子电路系统中各元器件的分布是综合考虑了节点与节点之间的物理焊接、熔点等相关性的，减少各自缺点的影响，能够使后期可靠性分配更具有合理性，更能联系实际指导元器件选型，进而实现可靠性优化设计。
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1.一种元器件综合重要度分析方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的元器件综合重要度分析方法，其特征在于，在步骤S3中，根据以下表达式计算各个元器件的所述综合重要度：
3.根据权利要求1所述的元器件综合重要度分析方法，其特征在于，步骤S1包括：
4.根据权利要求1所述的元器件综合重要度分析方法，其特征在于，步骤S2包括：
5.根据权利要求4所述的元器件综合重要度分析方法，其特征在于，所述接近度值的表达式为：
6.根据权利要求5所述的元器件综合重要度分析方法，其特征在于，所述重要度评价矩阵HE的表达式为：
7.根据权利要求6所述的元器件综合重要度分析方法，其特征在于，在步骤S23中，根据以下表达式计算各个元器件的所述第二重要度：
【技术特征摘要】
1.一种元器件综合重要度分析方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的元器件综合重要度分析方法，其特征在于，在步骤s3中，根据以下表达式计算各个元器件的所述综合重要度：
3.根据权利要求1所述的元器件综合重要度分析方法，其特征在于，步骤s1包括：
4.根据权利要求1所述的元器件综合重要度分析方法，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈海涛，苗伟童，丁帅，邱燕，姜煜煜，任杰伟，王磊，黄军，杨华，
申请(专利权)人：上海空间电源研究所，
类型：发明
国别省市：
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