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本发明公开了一种元器件综合重要度分析方法，包括如下步骤：S1、基于BDD分析方法，对电子产品模块中的元器件的重要度进行评估，确定各个元器件的第一重要度；S2、基于复杂网络模型的分析方法，对所述电子产品模块中的元器件的重要度进行评估，确定各个...
该专利属于上海空间电源研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海空间电源研究所授权不得商用。

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