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【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体光电器件,具体涉及一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器及其制备方法。
技术介绍
1、近年来,基于algan基宽禁带半导体的日盲紫外光电探测器在各领域有着广泛的应用前景。各种基于algan且具有不同器件结构的日盲光电探测器已经被用于包括光导体、光电化学、金属-半导体-金属光电探测器、肖特基势垒光电探测器和p-i-n光电探测器之中。在这些结构中,p-i-n光电探测器由于其潜在的高量子效率、低暗电流及具有光伏模式运行的特点而备受关注。p-i-n光电探测器可以与硅读出集成电路结合,且可以通过透明蓝宝石衬底的背面接收光线,因为其独特的结构特征,背照式p-i-n紫外光电探测器已经逐步成为制备大型焦平面阵列的重点对象。
2、仿生蛾眼结构层可等效为折射率沿深度方向呈连续梯度变化的渐变折射率膜层,可减少折射率急剧变化所造成的反射现象,蛾眼纹理的织构化特征使蛾眼具有优异的大角度宽光谱抗反射增透效果,可以最大程度地利用光,提高器件的光学利用率,此外蛾眼结构还具有优越的力学和疏水性能,便于在恶劣的环境使用。
3、若想要提升紫外探测器的性能,往往需要采取同时改进器件的设计结构和光学结构的方法。例如,可以采用更优化的工艺,或是设计更好的物理结构,亦或是利用不同的光学结构方案,如仿生结构,增加光学利用率。但是常常受制于目前器件的制备工艺而难以全部实现。
技术实现思路
1、本专利技术的目的就在于提供一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器及其制备方法,以解决
技术介绍
中提出的问题。< ...
【技术保护点】
1.一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器,其特征在于,包括依次层叠生长的c面蓝宝石衬底(3)、AlN缓冲层(4)、N型AlxGa1-xN层(5)、I型AlyGa1-yN有源层(6)和P型AlyGa1-yN层(7),c面蓝宝石衬底(3)上表面形成PIN结构的背照式日盲紫外探测器;其中,
2.根据权利要求1所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器,其特征在于:所述c面蓝宝石衬底(3)下表面为光线(1)的入射面;所述光线(1)经过纳米蛾眼阵列结构(2),由下往上入射探测器,再经过所述AlN缓冲层(4)和所述N型AlxGa1-xN层(5),到达所述I型AlyGa1-yN有源层(6)被吸收。
3.根据权利要求1所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器,其特征在于:所述纳米蛾眼阵列结构(2)底部半径为150nm,高度为180nm,周期为300~350nm。
4.根据权利要求1所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器,其特征在于:所述AlN缓冲层(4)的厚度为1μm;所述N型AlxGa1-xN层(5)的厚度为600nm,掺杂Si元素,掺杂浓度为2×1018cm-3;所
5.根据权利要求1所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器,其特征在于:所述P型AlyGa1-yN层(7)厚度为40nm,掺杂浓度为2.4×1016cm-3,所述P型欧姆接触电极(71)厚度为12nm。
6.一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器的制备方法,用于制备权利要求1-5任一项所述日盲紫外探测器,其特征在于,方法包括:
7.根据权利要求6所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器的制备方法,其特征在于,步骤S1中,所述光刻工艺包括:
8.根据权利要求6所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器的制备方法,其特征在于,步骤S2-步骤S5中,采用MOCVD技术在所述c面蓝宝石衬底(3)的光面上进行层叠生长。
9.根据权利要求6所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器的制备方法,其特征在于,步骤S6包括在所述N型AlxGa1-xN层(5)的表面上通过ICP干法刻蚀形成平台,再在所述平台生长所述N型欧姆接触电极(51),厚度为12nm。
...【技术特征摘要】
1.一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器,其特征在于,包括依次层叠生长的c面蓝宝石衬底(3)、aln缓冲层(4)、n型alxga1-xn层(5)、i型alyga1-yn有源层(6)和p型alyga1-yn层(7),c面蓝宝石衬底(3)上表面形成pin结构的背照式日盲紫外探测器;其中,
2.根据权利要求1所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器,其特征在于:所述c面蓝宝石衬底(3)下表面为光线(1)的入射面;所述光线(1)经过纳米蛾眼阵列结构(2),由下往上入射探测器,再经过所述aln缓冲层(4)和所述n型alxga1-xn层(5),到达所述i型alyga1-yn有源层(6)被吸收。
3.根据权利要求1所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器,其特征在于:所述纳米蛾眼阵列结构(2)底部半径为150nm,高度为180nm,周期为300~350nm。
4.根据权利要求1所述的一种蛾眼结构背照式日盲紫外探测器,其特征在于:所述aln缓冲层(4)的厚度为1μm;所述n型alxga1-xn层(5)的厚度为600nm,掺杂si元素,掺杂浓度为2×1...
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