【技术实现步骤摘要】
本技术涉及静电保护,具体为一种用于esd保护的低压scr器件。
技术介绍
1、静电放电是当一个集成电路的管脚浮接时,大量静电荷从外向内灌入集成电路的瞬时过程,整个过程大约耗时100ns。在集成电路的静电放电时会产生数百甚至数千伏特的高压,将集成电路中输入级的栅氧化层击穿。随着集成电路工艺的进步,mos管的特征尺寸越来越小,栅氧化层的厚度也越来越薄,在这种趋势下,使用高性能的esd防护器件来泄放静电电荷以保护栅极氧化层显得十分重要。
2、例如cn102938403a,根据cn102938403a中关于一种用于esd保护的低压触发scr器件,采用第一pmos和第二pmos分别进行衬底触发和栅触发,从而降低scr器件的触发电压,esd脉冲信号施加在anode和cathode之间,第一pmos和第二pmos首先被触发导通,第一pmos开通之后,给nwell施加一触发电流,第二pmos开通之后给第三pmos施加一触发电压,第一pmos施加的nwell触发电流和第三pmos的沟道电流触发晶闸管导通,晶闸管电流导通大部分esd电流,从而实
...【技术保护点】
1.一种用于ESD保护的低压SCR器件,包括主体机构(1)、散热机构(2)和活动机构(3),其特征在于:所述散热机构(2)位于主体机构(1)的下端,所述活动机构(3)位于散热机构(2)的上端,所述主体机构(1)包括上盖(101)、保护框(102)、缓冲垫(103)和第一夹层(104),所述保护框(102)固定安装在上盖(101)的下端,所述缓冲垫(103)固定安装在保护框(102)的下端,所述第一夹层(104)活动安装在上盖(101)的下端;
2.根据权利要求1所述的一种用于ESD保护的低压SCR器件,其特征在于:所述散热机构(2)包括主板(201)、安装
...【技术特征摘要】
1.一种用于esd保护的低压scr器件,包括主体机构(1)、散热机构(2)和活动机构(3),其特征在于:所述散热机构(2)位于主体机构(1)的下端,所述活动机构(3)位于散热机构(2)的上端,所述主体机构(1)包括上盖(101)、保护框(102)、缓冲垫(103)和第一夹层(104),所述保护框(102)固定安装在上盖(101)的下端,所述缓冲垫(103)固定安装在保护框(102)的下端,所述第一夹层(104)活动安装在上盖(101)的下端;
2.根据权利要求1所述的一种用于esd保护的低压scr器件,其特征在于:所述散热机构(2)包括主板(201)、安装孔(202)、底座(203)、散热口(204)、静电海绵层(205)、驱动装置(206)和散热扇(207),所述主板(201)活动安装在第一夹层(104)的上端,所述安装孔(202)固定设置在主板(201)的上端。
3.根据权利要求2所述的一种用于esd保护的低压scr器件,其特征在于:所述底座(203)活动安装在第二夹层(105)的下端,所述散热口(204)固定设置在底座(203)的内部,所述静电海绵层(205)固定设置在散...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡光亮,
申请(专利权)人:上海雷卯电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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