【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种薄膜晶体管及制备方法,特别地涉及一种顶栅肖特基氧化物薄膜晶体管及制备方法。
技术介绍
1、随着电子信息技术的不断发展,显示器作为信息展示和人机交互的最重要的途径,也获得了长足的发展与进步。无论是对于lcd还是oled显示器,薄膜晶体管(tft)作为有源显示器中重要的驱动元件和开关元件,其性能很大程度上影响着显示器的亮度、速度和对比度等。传统的非晶硅(a-si)tft因其较低的迁移率已经无法满足高分辨率、高帧频显示的要求,而多晶硅(poly-si)tft又因为晶界的存在而无法实现大尺寸显示的要求。目前,受到广泛关注和研究的金属氧化物tft除了兼具a-si较好的均匀性和poly-si较高的载流子迁移率,还具备可见光透过率高、工艺温度低、工艺成本低、与当前生产线工艺兼容等优点,使其有希望应用于下一代大尺寸、高帧频、高分辨率的透明柔性显示技术中。
2、传统的氧化物tft通常具有不严格饱和的输出特性,以及较大的饱和电压,这使得它们的应用受到限制。如在制作驱动电路时,模拟部分的增益不高。在用作amoled等显示像素电路
...【技术保护点】
1.一种顶栅肖特基氧化物薄膜晶体管,包括:
2.如权利要求1所述的晶体管,进一步包括保护层,其设置在所述有源区上以及所述绝缘层下方。
3.如权利要求1所述的晶体管,进一步包括缓冲层和/或遮光层,其设置在所述衬底与源极、漏极和所述衬底与所述有源区之间。
4.如权利要求1所述的晶体管,其中形成所述源极和漏极的材料的功函数大于所述有源层的功函数。
5.如权利要求1所述的晶体管,其中所述有源区与所述源极或漏极之间重叠部分的尺寸为0.1μm~10μm,和/或所述栅电极与所述源极或漏极之间重叠部分的尺寸为0.1μm~10μm。
>6.如权利要...
【技术特征摘要】
1.一种顶栅肖特基氧化物薄膜晶体管,包括:
2.如权利要求1所述的晶体管,进一步包括保护层,其设置在所述有源区上以及所述绝缘层下方。
3.如权利要求1所述的晶体管,进一步包括缓冲层和/或遮光层,其设置在所述衬底与源极、漏极和所述衬底与所述有源区之间。
4.如权利要求1所述的晶体管,其中形成所述源极和漏极的材料的功函数大于所述有源层的功函数。
5.如权利要求1所述的晶体管,其中所述有源区与所述源极或漏极之间重叠部分的尺寸为0.1μm~10μm,和/或所述栅电极与所述源极或漏极之间重叠部分的尺寸为0.1μm~10μm。
6.如权利要求1所述的晶体管,其中所...
【专利技术属性】
技术研发人员:张盛东,张羽晴,陆磊,
申请(专利权)人:北京大学深圳研究生院,
类型:发明
国别省市:
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