一种半导体测试的探针制造技术

本技术公开了一种半导体测试的探针，涉及到测试探针设备技术领域，包括保护外壳，保护外壳的内部设置有安装框，安装框的内部开设有第一插孔，安装框的外侧安装有门形固定板，门形固定板的内部连接有活动杆，活动杆的一端固定连接有拉把，活动杆的外壁固定有活动板，活动板的侧面固定连接有第一弹簧，安装框的内部连接有固定块，固定块的内部开设有第二插孔，第二插孔的内径尺寸与活动杆的外径尺寸相同，第二插孔与活动杆滑动连接，固定块的下方设置有测试探针本体。本技术通过操作两组拉把，使得安装有测试探针本体的固定块便于从安装框内部进行拆装，这样实现了该一种半导体测试的探针快速拆装探针的功能。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试探针设备，特别涉及一种半导体测试的探针。

技术介绍

1、集成电路产业作为新兴产业，半导体测试探针的运用贯穿整个芯片制造过程，通过及时有效的检测，芯片厂商还可以合理筛选出不同性能等级的芯片或器件，其中ict探针是一种常用的垂直形探针，多用于光电路板测试和微电子测试，测试探针，k-50-qg无线路由器测试，是应用于电子测试中测试pcba的一种测试连接电子元件，测试探针的种类有pcb探针、ict功能测试探针(汽车线束测试探针、电池针、电流电压针、开关针、电容极性针、高频针)、bga测试探针等。

2、现有的探针由于本身体积过小，在使用后的收容管理以及保存上带来一定的难度，保存不当将直接影响二次使用，现有的装置必须用双手操作，同时针头与元器件引脚连接不准确和不稳定，易脱落。

3、经检索现有中国专利：一种半导体测试探针（公告号为：cn209231396u），包括外壳，所述外壳的内侧活动安装有两个测试探针，两个所述测试探针上端通过螺纹活动安装有安装件，所述安装件的上端与外壳内侧上端之间固定设置有第一弹簧，所述外壳中部活动安装有双头螺本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体测试的探针，包括保护外壳（1），其特征在于：所述保护外壳（1）的内部设置有安装框（8），所述安装框（8）的内部开设有第一插孔（11），所述安装框（8）的外侧安装有门形固定板（12），所述门形固定板（12）的内部连接有活动杆（13），所述活动杆（13）的一端固定连接有拉把（14），所述活动杆（13）的外壁固定有活动板（15），所述活动板（15）的侧面固定连接有第一弹簧（18），所述安装框（8）的内部连接有固定块（19），所述固定块（19）的内部开设有第二插孔（20），所述第二插孔（20）的内径尺寸与所述活动杆（13）的外径尺寸相同，所述第二插孔（20）与所述活动杆（13）滑动...

【技术特征摘要】

1.一种半导体测试的探针，包括保护外壳（1），其特征在于：所述保护外壳（1）的内部设置有安装框（8），所述安装框（8）的内部开设有第一插孔（11），所述安装框（8）的外侧安装有门形固定板（12），所述门形固定板（12）的内部连接有活动杆（13），所述活动杆（13）的一端固定连接有拉把（14），所述活动杆（13）的外壁固定有活动板（15），所述活动板（15）的侧面固定连接有第一弹簧（18），所述安装框（8）的内部连接有固定块（19），所述固定块（19）的内部开设有第二插孔（20），所述第二插孔（20）的内径尺寸与所述活动杆（13）的外径尺寸相同，所述第二插孔（20）与所述活动杆（13）滑动连接，所述固定块（19）的下方设置有测试探针本体（22）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述保护外壳（1）的顶部固定有挂环（2），所述保护外壳（1）的侧面安装有盖板（3）。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：宗渭钧，华益星，钱虎，顾洋，
申请(专利权)人：无锡钧源达电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：