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本技术公开了一种半导体测试的探针,涉及到测试探针设备技术领域,包括保护外壳,保护外壳的内部设置有安装框,安装框的内部开设有第一插孔,安装框的外侧安装有门形固定板,门形固定板的内部连接有活动杆,活动杆的一端固定连接有拉把,活动杆的外壁固定有活...该专利属于无锡钧源达电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡钧源达电子科技有限公司授权不得商用。
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