【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及结晶度测定装置、结晶度测定方法以及信息存储介质，特别是涉及使用x射线衍射的结晶度的测定。
技术介绍
1、高分子存在结晶性高分子和非晶质性高分子，但即使是结晶性高分子，也并非全部都是结晶结构，结晶质部分与非晶质部分是共存的。将结晶质部分的重量相对于结晶性高分子的总重量的比例称为结晶度。在了解机械性质、化学性质等结晶性高分子的性质方面，结晶度是重要的信息。
2、在结晶度的各种测定方法之中，使用x射线衍射的方法具有很大的实用上的优点，诸如在原理上试样的大小不限、能以不破坏试样的方式执行等。
技术实现思路
1、专利技术要解决的问题
2、在使用x射线衍射的方法中，已知某对象物质的结晶度成为将来自该对象物质中的结晶质部分的散射图案(特别是在这种情况下变成衍射图案。)的积分强度除以来自结晶质部分和非晶质部分的散射图案的各积分强度之和(即，对象物质整体的散射图案的积分强度)而得到的值。
3、因此，为了求出结晶度，至少需要从观测图案整体准确地提取来自结晶质部分的衍射图案。然而，即使是对象物质的结晶部分，也可以认为其结晶性实际上是在下降的。因此可以认为，对象物质的结晶部分的衍射图案的强度会被观测为比实际低，由此，对象物质的结晶度会被计算得比实际低。
4、本专利技术是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供能够考虑到对象物质的结晶部分的结晶性下降，更准确地测定对象物质的结晶度的结晶度测定装置、结晶度测定方法以及信息存储介质。
5、用于
6、(1)为了解决上述问题，本专利技术的结晶度测定装置包含：x射线散射图案取得单元，其取得包含对象物质的结晶部分和非晶质部分的试样的x射线散射图案；图案分解单元，其从所述x射线散射图案取得所述结晶部分的衍射图案、以及连续图案；对象物质强度算出单元，其基于所述x射线散射图案和所述对象物质的化学式信息，算出与所述对象物质相关的积分强度；对象物质图案算出单元，其从所述连续图案将包含所述结晶部分和所述非晶质部分的所述对象物质的散射图案以使其积分强度与由所述对象物质强度算出单元算出的积分强度一致的方式算出；结构不规则参数决定单元，其基于所述结晶部分的衍射图案和所述对象物质的散射图案，决定所述结晶部分的结构不规则参数；以及结晶度输出单元，其输出根据决定的所述结构不规则参数算出的所述对象物质的结晶度。
7、(2)在(1)所述的结晶度测定装置中，也可以是，所述结构不规则参数决定单元包含：暂定结晶度算出单元，其针对多个结构不规则因子中的每个结构不规则因子，一边变更给定的积分范围一边算出暂定结晶度，所述结构不规则因子是包含所述结构不规则参数的结构不规则因子，所述暂定结晶度是将对所述结晶部分的衍射图案乘以所述结构不规则因子而得到的校正图案在所述给定的积分范围内积分后的值设为分子、将对所述对象物质的散射图案在所述给定的积分范围内积分后的值设为分母的暂定结晶度；以及参数选择单元，其将针对多个所述结构不规则参数中的每个结构不规则参数一边变更所述给定的积分范围一边算出的多个所述暂定结晶度代入到规定的评价式来算出评价值，基于该评价值选择1个所述结构不规则参数。
8、(3)在(2)所述的结晶度测定装置中，也可以是，所述结构不规则因子通过下式给出。在此，λ是入射x射线的波长，k是所述结构不规则参数。
9、【数学式1】
10、
11、(4)在(3)所述的结晶度测定装置中，也可以是，所述评价值是下式s。在此，fn是与第n个积分范围相关的所述暂定结晶度，d0是拟合参数。
12、【数学式2】
13、
14、(5)在(1)至(4)中的任意一项所述的结晶度测定装置中，也可以是，所述试样包含1种以上的结晶性填料。也可以是，所述图案分解单元从所述x射线散射图案取得所述1种以上的结晶性填料的衍射图案。也可以是，所述对象物质强度算出单元包含算出1种所述结晶性填料的衍射图案的积分强度的结晶性填料强度算出单元。另外，也可以是，通过将与所述1种所述结晶性填料相关的积分强度乘以与所述试样所包含的所述结晶性填料和所述对象物质的化学式信息相应的比值，算出与所述对象物质相关的积分强度。
15、(6)在(5)所述的结晶度测定装置中，也可以是，所述试样包含1种以上的非结晶性填料。
16、(7)在(1)至(6)中的任意一项所述的结晶度测定装置中，也可以是，所述连续图案包含本底。也可以是，所述对象物质图案算出单元包含从所述连续图案减去所述本底的本底减去单元。
17、(8)在(7)所述的结晶度测定装置中，也可以是，所述本底减去单元包含：本底强度算出单元，其基于所述试样的x射线散射图案的积分强度和所述试样所包含的物质的化学式信息算出所述本底的积分强度；以及本底算出单元，其将所述本底以使其积分强度与由所述本底强度算出单元算出的积分强度一致的方式算出。
18、(9)在(7)或(8)所述的结晶度测定装置中，也可以是，所述对象物质图案算出单元通过将减去所述本底后的所述连续图案乘以与由所述对象物质强度算出单元算出的积分强度相应的比值，算出所述对象物质的散射图案。
19、(10)本专利技术的结晶度测定方法包含：x射线散射图案取得步骤，取得包含对象物质的结晶部分和非晶质部分的试样的x射线散射图案；图案分解步骤，从所述x射线散射图案取得所述结晶部分的衍射图案、以及连续图案；对象物质强度算出步骤，基于所述x射线散射图案和所述对象物质的化学式信息，算出与所述对象物质相关的积分强度；对象物质图案算出步骤，从所述连续图案将包含所述结晶部分和所述非晶质部分的所述对象物质的散射图案以使其积分强度与由所述对象物质强度算出步骤算出的积分强度一致的方式算出；结构不规则参数决定步骤，基于所述结晶部分的衍射图案和所述对象物质的散射图案，决定所述结晶部分的结构不规则参数；以及结晶度输出步骤，输出根据决定的所述结构不规则参数算出的所述对象物质的结晶度。
20、(11)本专利技术的信息存储介质是一种非暂时性的计算机可读信息存储介质，保存有用于使计算机作为如下单元进行动作的程序：x射线散射图案取得单元，其取得包含对象物质的结晶部分和非晶质部分的试样的x射线散射图案；图案分解单元，其从所述x射线散射图案取得所述结晶部分的衍射图案、以及连续图案；对象物质强度算出单元，其基于所述x射线散射图案和所述对象物质的化学式信息，算出与所述对象物质相关的积分强度；对象物质图案算出单元，其从所述连续图案将包含所述结晶部分和所述非晶质部分的所述对象物质的散射图案以使其积分强度与由所述对象物质强度算出单元算出的积分强度一致的方式算出；结构不规则参数决定单元，其基于所述结晶部分的衍射图案和所述对象物质的散射图案，决定所述结晶部分的结构不规则参数；以及结晶度输出单元，其输出根据决定的所述结构不规则参数算出的所述对象物质的结晶度。
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1.一种结晶度测定装置，其特征在于，包含：
2.根据权利要求1所述的结晶度测定装置，其中，
3.根据权利要求2所述的结晶度测定装置，其中，
4.根据权利要求3所述的结晶度测定装置，其中，
5.根据权利要求1所述的结晶度测定装置，其中，
6.根据权利要求5所述的结晶度测定装置，其中，
7.根据权利要求1所述的结晶度测定装置，其中，
8.根据权利要求7所述的结晶度测定装置，其中，
9.根据权利要求7或8所述的结晶度测定装置，其中，
10.一种结晶度测定方法，其特征在于，包含：
11.一种非暂时性的计算机可读信息存储介质，其特征在于，保存有用于使计算机作为如下单元进行动作的程序：
【技术特征摘要】
1.一种结晶度测定装置，其特征在于，包含：
2.根据权利要求1所述的结晶度测定装置，其中，
3.根据权利要求2所述的结晶度测定装置，其中，
4.根据权利要求3所述的结晶度测定装置，其中，
5.根据权利要求1所述的结晶度测定装置，其中，
6.根据权利要求5所述的结晶度测定装置，其中，
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