一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机制造技术

技术编号:41324798 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-13 15:02
本技术公开一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,包括上下料机构、AOI检测机构和IV检测机构,AOI检测机构处于上下料机构与IV检测机构之间,上下料机构包括上下料轨道、暂存直线模组和补料直线模组,AOI检测机构包括AOI前轨道、AOI后轨道、AOI转盘、AOI背面检测工位和AOI正面检测工位,IV检测机构包括IV转盘和IV检测位。该集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机可以针对印刷完毕的硅片进行AOI检测与IV检测,同时可适配前后速度而增加暂存位置,也能够根据数量要求进行补片,自动化检测,一体式的多功能结构,满足前后生产的需求。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及硅片检测的,尤其涉及一种集合aoi检测与iv检测的自动硅片检测一体机。


技术介绍

1、晶硅光伏太阳能硅片(以下简称硅片)在印刷完毕后需要进行aoi检测和iv检测,aoi检测的中文全称是自动光学检测,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设;iv检测是指对光伏组件进行电流-电压特性曲线(iv曲线)测试,经过检测位良品的硅片才会进入下一个生产流程设备中,现有的检测流程中单独抓取硅片进行aoi检测或者iv检测,硅片的转移需要搭配额外的轨道或者机械手,效率低下。


技术实现思路

1、本技术的一个目的在于:提供一种集合aoi检测与iv检测的自动硅片检测一体机,整合了aoi检测与iv检测,节省了整体的转移设备与流程,同时前端增加暂存与补料功能,提高了整体的适配能力。

2、为达此目的,本技术采用以下技术方案:

3、一种集合aoi检测与iv检测的自动硅片检测一体机,包括上下料机构、aoi检测机构和iv检测机构,所述aoi检测机构处于所述上下料机构与所述iv检测机构之间,所述上下料机构包括上下料轨道、暂存直线模组和补料直线模组,所述暂存直线模组处于所述上下料轨道的中部两侧,所述补料直线模组处于所述上下料轨道的的后端一侧,所述aoi检测机构包括aoi前轨道、aoi后轨道、aoi转盘、aoi背面检测工位和aoi正面检测工位,所述aoi转盘位于所述aoi前轨道的后端,所述aoi后轨道的前端连接至所述aoi转盘的一侧,所述aoi背面检测工位处于所述aoi转盘的前方,所述aoi正面检测工位处于所述aoi后轨道的上方,所述iv检测机构包括iv转盘和iv检测位,所述iv检测位处于所述iv转盘的前方。

4、作为一种优选的技术方案,所述暂存直线模组的驱动端设置有暂存框架,所述暂存框架横向移动在所述上下料轨道的侧边。

5、作为一种优选的技术方案,所述补料直线模组的驱动端上连接有补料纵向模组,所述补料纵向模组横向移动在所述上下料轨道的侧边,所述补料纵向模组的驱动端连接有补料架,所述补料架沿着竖直方向上下移动。

6、作为一种优选的技术方案,所述aoi转盘的上方设置有aoi转轴,所述aoi转盘的中部与所述aoi转轴的下端连接,所述aoi转盘的下方设置有aoi电机,所述aoi电机的驱动端控制所述aoi转轴的转动,所述aoi转盘的外围设置有四个aoi吸附模组,所述aoi转盘的后方设置有不良品排除箱。

7、作为一种优选的技术方案,所述aoi背面检测工位的上方设置有aoi背面光源,所述aoi背面检测工位的下方设置有aoi背面检测摄像箱体。

8、作为一种优选的技术方案,所述aoi正面检测工位的上方设置有aoi正面检测摄像箱体。

9、作为一种优选的技术方案,所述iv转盘的外围设置有四个iv检测腔位,所述iv转盘的两侧分别设置有iv左右直线模组和iv排出直线模组,所述iv左右直线模组的驱动端连接有iv前后直线模组,所述iv前后直线模组的驱动端上安装有iv吸附架,所述iv排出直线模组的驱动端上安装有iv排出吸附模组。

10、作为一种优选的技术方案,所述iv检测位的两侧设置有iv检测竖移模组,所述iv检测竖移模组的上驱动端连接有上检测框,所述iv检测竖移模组的下驱动端连接有下检测框,所述上检测框与所述下检测框上均横向活动有栅线检测模组。

11、本技术的有益效果为:提供一种集合aoi检测与iv检测的自动硅片检测一体机,该集合aoi检测与iv检测的自动硅片检测一体机可以针对印刷完毕的硅片进行aoi检测与iv检测,同时可适配前后速度而增加暂存位置,也能够根据数量要求进行补片,自动化检测,一体式的多功能结构,满足前后生产的需求。

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【技术保护点】

1.一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,包括上下料机构、AOI检测机构和IV检测机构,所述AOI检测机构处于所述上下料机构与所述IV检测机构之间,所述上下料机构包括上下料轨道、暂存直线模组和补料直线模组,所述暂存直线模组处于所述上下料轨道的中部两侧,所述补料直线模组处于所述上下料轨道的的后端一侧,所述AOI检测机构包括AOI前轨道、AOI后轨道、AOI转盘、AOI背面检测工位和AOI正面检测工位,所述AOI转盘位于所述AOI前轨道的后端,所述AOI后轨道的前端连接至所述AOI转盘的一侧,所述AOI背面检测工位处于所述AOI转盘的前方,所述AOI正面检测工位处于所述AOI后轨道的上方,所述IV检测机构包括IV转盘和IV检测位,所述IV检测位处于所述IV转盘的前方。

2.根据权利要求1所述的一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述暂存直线模组的驱动端设置有暂存框架,所述暂存框架横向移动在所述上下料轨道的侧边。

3.根据权利要求1所述的一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述补料直线模组的驱动端上连接有补料纵向模组,所述补料纵向模组横向移动在所述上下料轨道的侧边,所述补料纵向模组的驱动端连接有补料架,所述补料架沿着竖直方向上下移动。

4.根据权利要求1所述的一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述AOI转盘的上方设置有AOI转轴,所述AOI转盘的中部与所述AOI转轴的下端连接,所述AOI转盘的下方设置有AOI电机,所述AOI电机的驱动端控制所述AOI转轴的转动,所述AOI转盘的外围设置有四个AOI吸附模组,所述AOI转盘的后方设置有不良品排除箱。

5.根据权利要求1所述的一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述AOI背面检测工位的上方设置有AOI背面光源,所述AOI背面检测工位的下方设置有AOI背面检测摄像箱体。

6.根据权利要求1所述的一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述AOI正面检测工位的上方设置有AOI正面检测摄像箱体。

7.根据权利要求1所述的一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述IV转盘的外围设置有四个IV检测腔位,所述IV转盘的两侧分别设置有IV左右直线模组和IV排出直线模组,所述IV左右直线模组的驱动端连接有IV前后直线模组,所述IV前后直线模组的驱动端上安装有IV吸附架,所述IV排出直线模组的驱动端上安装有IV排出吸附模组。

8.根据权利要求1所述的一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述IV检测位的两侧设置有IV检测竖移模组,所述IV检测竖移模组的上驱动端连接有上检测框,所述IV检测竖移模组的下驱动端连接有下检测框,所述上检测框与所述下检测框上均横向活动有栅线检测模组。

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【技术特征摘要】

1.一种集合aoi检测与iv检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,包括上下料机构、aoi检测机构和iv检测机构,所述aoi检测机构处于所述上下料机构与所述iv检测机构之间,所述上下料机构包括上下料轨道、暂存直线模组和补料直线模组,所述暂存直线模组处于所述上下料轨道的中部两侧,所述补料直线模组处于所述上下料轨道的的后端一侧,所述aoi检测机构包括aoi前轨道、aoi后轨道、aoi转盘、aoi背面检测工位和aoi正面检测工位,所述aoi转盘位于所述aoi前轨道的后端,所述aoi后轨道的前端连接至所述aoi转盘的一侧,所述aoi背面检测工位处于所述aoi转盘的前方,所述aoi正面检测工位处于所述aoi后轨道的上方,所述iv检测机构包括iv转盘和iv检测位,所述iv检测位处于所述iv转盘的前方。

2.根据权利要求1所述的一种集合aoi检测与iv检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述暂存直线模组的驱动端设置有暂存框架,所述暂存框架横向移动在所述上下料轨道的侧边。

3.根据权利要求1所述的一种集合aoi检测与iv检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述补料直线模组的驱动端上连接有补料纵向模组,所述补料纵向模组横向移动在所述上下料轨道的侧边,所述补料纵向模组的驱动端连接有补料架,所述补料架沿着竖直方向上下移动。

4.根据权利要求1所述的一种集合aoi检测与iv检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,所述aoi转盘的...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏金财陈春芙
申请(专利权)人:广东科隆威智能装备股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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