【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种集成电路测试装置。
技术介绍
1、集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母"ic"表示。
2、1、集成电路测试装置在安装固定时，都是采用刚性连接固定，这样的固定方式，操作起来过于繁琐，且不便于后期的更换和维修，大大的降低了工作的效率；2、现有的集成电路测试装置都是没有安装散热装置，在长时间使用的时候会产生一定的热量，设备在这样的工况下使用，会让设备的使用寿命降低，长时间的过热工作很可能让设备损坏。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的固定方式操作起来过于繁琐和没有安装散热装置的缺点，而提出的一种集成电路测试装置。
2、为了解决现有技术存在的固定方式操作起来过于繁琐和没有安装散热装置的问题，本技术采用了如下技术方案：
3、一种集成电路测试装置，包括机体和底座，所述机体背面固定设有一对方横杆，所述方横杆内均开设有推动槽，所述推动槽内均滑动设有方形推动杆，所述方形推动杆上均固定设有圆盘，所述圆盘与推动槽滑动连接，所述圆盘一侧均固定设有第一弹簧，所述第一弹簧均与方横杆固定连接，所述推动槽内均滑动设有两对限位块，
4、优选地，所述机体内固定设有支撑板，所述支撑板上固定设有循环泵，所述支撑板上固定设有液冷罐，所述循环泵一侧固定设有s形弯管，所述机体一侧固定设有固定长条，所述固定长条与s形弯管固定连接，所述s形弯管另一端与液冷罐固定连接，所述液冷罐上固定设有连接管，所述连接管与循环泵固定连接。
5、优选地，所述限位块一端呈四棱锥状，所述限位块另一端呈直角三角形状。
6、优选地，所述方形推动杆贯穿圆盘，所述方形推动杆呈方形长杆，上有两对直角三角形块。
7、优选地，所述限位块上三角形斜面均与方形推动杆上的三角形斜面相贴合，所述圆盘与方横杆内壁相贴合。
8、优选地，所述限位块与方横杆内壁相贴合，所述方形推动杆贯穿第一弹簧。
9、优选地，限位块均贯穿推动槽，所述方形推动杆一端贯穿推动槽。
10、优选地，所述s形弯管贯穿支撑板，所述s形弯管贯穿固定长条。
11、与现有技术相比，本技术的有益效果是：
12、1、在本技术中，通过方形推动杆和限位块的配合使用，在进行安装的时候，只需要推动方形推动杆，插入方横槽内松开方形推动杆，即可完成安装，提高了工作的效率，使用起来非常的方便；
13、2、在本技术中，通过循环泵和s形弯管的配合使用，在使用装置产生热量时，通过循环泵向s形弯管内循环注入冷却液给装置进行降温，增加了设备的使用寿命，降低了设备损坏的可能。
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1.一种集成电路测试装置，包括机体(1)和底座(19)，其特征在于：所述机体(1)背面固定设有一对方横杆(11)，所述方横杆(11)内均开设有推动槽(12)，所述推动槽(12)内均滑动设有方形推动杆(13)，所述方形推动杆(13)上均固定设有圆盘(14)，所述圆盘(14)均与推动槽(12)滑动连接，所述圆盘(14)一侧均固定设有第一弹簧(15)，所述第一弹簧(15)均与方横杆(11)固定连接，所述推动槽(12)内均滑动设有两对限位块(16)，所述限位块(16)两侧均固定设有一对T形块(17)，所述T形块(17)上均固定设有第二弹簧(18)，所述第二弹簧(18)另一端均与方横杆(11)固定连接，所述底座(19)内开设一对方横槽(111)，所述方横杆(11)均与方横槽(111)滑动连接，所述底座(19)一侧开设有一对滑槽(112)，所述方形推动杆(13)均与滑槽(112)滑动连接，所述方横槽(111)内均开设有两对限位孔(113)，所述限位孔(113)均与限位块(16)滑动连接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述机体(1)内固定设有支撑板(2
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述限位块(16)一端呈四棱锥状，所述限位块(16)另一端呈直角三角形状。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述方形推动杆(13)贯穿圆盘(14)，所述方形推动杆(13)呈方形长杆，上有两对直角三角形块。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述限位块(16)上三角形斜面均与方形推动杆(13)上的三角形斜面相贴合，所述圆盘(14)与方横杆(11)内壁相贴合。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述限位块(16)与方横杆(11)内壁相贴合，所述方形推动杆(13)贯穿第一弹簧(15)。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：限位块(16)均贯穿推动槽(12)，所述方形推动杆(13)一端贯穿推动槽(12)。
8.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述S形弯管(23)贯穿支撑板(2)，所述S形弯管(23)贯穿固定长条(24)。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括机体(1)和底座(19)，其特征在于：所述机体(1)背面固定设有一对方横杆(11)，所述方横杆(11)内均开设有推动槽(12)，所述推动槽(12)内均滑动设有方形推动杆(13)，所述方形推动杆(13)上均固定设有圆盘(14)，所述圆盘(14)均与推动槽(12)滑动连接，所述圆盘(14)一侧均固定设有第一弹簧(15)，所述第一弹簧(15)均与方横杆(11)固定连接，所述推动槽(12)内均滑动设有两对限位块(16)，所述限位块(16)两侧均固定设有一对t形块(17)，所述t形块(17)上均固定设有第二弹簧(18)，所述第二弹簧(18)另一端均与方横杆(11)固定连接，所述底座(19)内开设一对方横槽(111)，所述方横杆(11)均与方横槽(111)滑动连接，所述底座(19)一侧开设有一对滑槽(112)，所述方形推动杆(13)均与滑槽(112)滑动连接，所述方横槽(111)内均开设有两对限位孔(113)，所述限位孔(113)均与限位块(16)滑动连接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述机体(1)内固定设有支撑板(2)，所述支撑板(2)上固定设有循环泵(21)，所述支撑板(2)上固定设有液冷罐(22)，所述循环泵(21)一侧固定设有s形弯管(23)，所述机体(1)一侧固定设有固定长条(2...
【专利技术属性】
技术研发人员：李燕，
申请(专利权)人：合肥臻冠电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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