密封系统现场寿命测量技术方案

一种用于在两组件之间进行密封的密封系统，该密封系统包括：置于两组件之间的聚合物密封件、测量器件和评估单元。测量器件至少部分置于该聚合物密封件内，并且被配置用于测量该聚合物密封件的指示该聚合物密封件的密封性能的方面，并被配置用于产生对应该聚合物密封件的被测方面的信号。评估单元被配置用于评估对应聚合物密封件的被测方面的信号且用于确定所述聚合物密封件的密封性能。

【技术实现步骤摘要】
密封系,场寿命测量相关申请的交叉参考il^序号为12/145,203的美国专利申请的部分延续，该美国专利申请的名 称为密封组件现场寿命测量，2008年6月24日提交，扭匕并入作为参考。鉢领域本专利技术涉及密封系统'背景狄;0^斤周知在^JD中，有时密封件和密封系统经受密封絲的损失。有时在 不同应用中，密封性能的损失仅导致需要替换密封件，在其它应用中，密封性 能的损失产生的影响范围从简单的维护带来的^^烦到昂贵的再密封和清員 作，甚至到潜在的危I^W。如果密封件或密封系统可以在飾^t前给出指 示密封件或密封系统已经损失一些但并非4^P的性能，并JL^t期需要替换密 封件或密封系统则是有益的。祸会指示密封性能改变的即将产生的损失的密封 件功能和特性可以给多种密封件和密封系统组合与应用带来好处，包括O形环密封件、表面密封件、汽封、旋转、动态W态密封件;^其它，包括举性体和 聚^a分、■、金属、氟聚合物、或氟碳化物、树脂和由其它要素构建的密封件.在j^支术中所需的一种密封系^A提供以成^r效的方式来测量在应用中使用的密封件的密封性能的退^il改变。
技术实现思路
本专利技术提^-种密封系统，^!^种以成林效的方式来测量在应用中 4吏用的密封的密封性能的ii^il改变。本专利技术的一种形AA用于在两组件之间进行密封的密封系统。该密封系统包括置于两组件之间的聚*密封件、测量器件^MM古单元。测量器件至少部分置于该聚合物密封件内，并净站i置用于测量该聚合物密封件的指示该聚* 密封件的密封性能的方面，并配置用于产生对应该聚#密封件的被测方面的信号。评估单元配置用于^古对应聚合物密封件的被测方面的该信号并用于确 定该聚^密封件的密封性能。本专利技术的另一种形iUJ^于密封两组件间的密封系统。该密封系统包括具有聚杨密封性能标^1M^于其上的数据^^介；与该数据^^Ht行可辦通信的处理器；JLit信器件用于获得来自聚杨密封件的密封信号，该通 信m将得到的密封信号传至该处理器，该数据^^介包^i兑明多个阈值密 封信号的文躲息，该处理器将该得到的密封信号和多个阈值密封信号t诚， 并由jtL4于该得到的密封信号是否在该多个阔值密封信号的范围内来计糸输出信号。本专利技术的另^iU^—种两组件间的密封方法.该方法包括以下步骤提 供至少部分置于两组件之间的聚*密封件；测*^聚*密封件指示其密封 性能的方面；产生对应该聚#密封件的被测方面的信号；^H古对应该聚^ 密封件的该净皮测方面的信号；并确定该聚^密封件的密封性能。本专利技术的一*点是密封组件能测量其本身的密封性能方面。本专利技术的另一优点是^^供密封组件，当在安装*下，其本身可以净皮测 量或感知以确定密封性能的潜在退^^变化，i^T一优点就是^^供具有^A^件或连续材料组分的密封件或密封组 件，允许在应用中利用密封件时测量密封性能的退^iL变化。ii^j点是^^供确定何时密封件已^^y^ii^:的it径。附图说明通过参考以下结合附图的专利技术实施例描述，本专利技术的上#其它特41^优 点;SJi到它们的方式将^p显而易见，并可以更好M解本专利技术，其中 图l是才Mt本专利技术实施例的密封组件的示意图； 图2是才緣本专利技术另一实施例的密封组件的截面图； 图3是才 本专利技术的密封系统的示意图4是才緣本专利技术的另一实施例的具有密封器件置于其内的硬件单元的截 面图。图5是图4中具有密封辦的硬件单元的部分截面图6是才 本专利技术另一实施例的具有密封11^置于其内的硬件单元的#舰图7是图6中具有密封器件的硬件单元的部分截面图； 图8是##本专利技术的密封元件的另一实施例的截面图；以及 图9是4^l本专利技术的密封元件的另一实施例的截面图。 在多个图中相应的参考符号指示相应部分。此处列出的例证阐逸良明的实 施例，JL这些例证并不作为以任何方式限制专利技术范围。M实施方式参照附图尤其是图l，显示了密封组件20,其总体^it^^密封件22和 当在应用中配置密封件22时将^^吏用的嵌入传感器24。这种应用包括但不必限 于静态密封、旋转密封、活塞型密封和他密封。应该鄉密封组件20是较大 封装系统的^分，较大封装系统可包括多个密封组件，每个密封组件可以但 不必须几乎与密封组件20相同。只要密封件22或密封系M^E于其密封的环嫂内，的传感器24就可 以测量处于加压或不加压状态下的密封件22或密封系统的特;t^面。传感器24 可以选自已知传感器组群的一种，用于测量温度、压力、流体、加逸变、P且抗、 振动、应力、应变、电流、絲(包括x省线、微波、电磁频镨)、超声传感器、 或^^Sm象。这些传感器24如刚刚描ii^确认的，允ifft号以特定形式和 密封环浙h^通信，以能够确定已U的密封性能的改变或损失的指示。>^^专利技术中得到的传感^号，先^目关密封件22或密封系统的失败数 据的历^命和历史时间交叉tb^，以产生显示密封性能的变化的查M。因 此，一^aAM目应传感器24接收信号，例如可被孩说理器或辦者辦的查錄 辦可^捐以确定密封件22性食谈密封系统性能的密封退^^变化的可能性。 从而可以^JD密封信号处理器组件的，器，包括与多个聚*密封件22或密封組件20相关的性育yt^^/或阈值。历史性育yt据和阈值可以安排在可扩展标记语言(XML)文件或其他方式，以将密封传感器24的信号和预定^命指 示相匹配。相关阈值的实例是才朽己限度的应力/应变阈值，使得如果实际应力/ 应变数据低于特定限度(阈值)，就知道密封件20 (例如聚^密封件22本身)相关阈值的又一实例是密封件20 (例如聚*密封件22)对流体的膨M吸^此阈 值提供^^吸收的限度，使得如果流体吸收高于特定7K平(阔值)，就知道密封 件20 (例如聚，密封件22本身)不再提供密封功肯诚将要失去提供密封功能 的能力。多种方式的信号感器输出或制造传感器输出IW可以包括用于通信的电、 光、或其它信号，将密封环嫂有线、管^Tili或无线通信到显示器或其它控制单 元，以提醒辦^^换密封件22或密封系统。^^I用于从聚杨密封传输信号 的通信M。通信^#可以;|*^指示(RFID) 这#^ 、图1，具有传感能力的单独的传感器24可以被插入密封材料22内，允许在应用中连续或半 连续测量密封件22寿命中的密封性能的损失或变化。如图2所示的本专利技术的另1式显示了密封组件100的截面，密封组件100 包括密封件102 (可称作密封环)和支M 104 (可称作支持环)。图2中的密持件104可以例如沿着密封组件100的内径或夕卜径定位)。密封件102可以包含 或是^^捧性体；支耕可以包括iUi^^、塑料或金属件。密封件102是 密封组件100的密封部分，并且可以是当密封组件100置于两元件之间时接收 压缩力的压缩元件。支持件104为密封件102提供结构支撑并有助于密封件102应该明白密封组件100是可以包括多个密封组件的较大密封系统的-^分；每 个这些组件可以与密封组件100完全相同，或可替换地， 一个或多个这些密封 组件能够与密封组件20 J4^目同而一个或多个这些密封组件与密封组件100基 林同。密封件102进一步^i舌^A的连续材^H且分106, ^P^对密封件102本身 的密封能力的妙或损失给出指示。换句^i兑，密封件102包括^A的材本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于在两组件之间进行密封的密封系统，该密封系统包括：　置于两组件之间的聚合物密封件；　至少部分置于所述聚合物密封件内的测量器件，其被配置用于测量所述聚合物密封件的指示所述聚合物密封件的密封性能的方面，并被配置用于产生对应所述 聚合物密封件的被测的所述方面的信号；和　评估单元，其被配置用于评估对应所述聚合物密封件的所述被测方面的所述信号，并且用于确定所述聚合物密封件的密封性能。

【技术特征摘要】
US 2008-6-24 12/145,203;US 2008-12-29 12/344,9681、一种用于在两组件之间进行密封的密封系统，该密封系统包括置于两组件之间的聚合物密封件；至少部分置于所述聚合物密封件内的测量器件，其被配置用于测量所述聚合物密封件的指示所述聚合物密封件的密封性能的方面，并被配置用于产生对应所述聚合物密封件的被测的所述方面的信号；和评估单元，其被配置用于评估对应所述聚合物密封件的所述被测方面的所述信号，并且用于确定所述聚合物密封件的密封性能。2、 ftwM，J要求l所述的密封系统，其中所述测量,包括至少部分^A^斤 述聚杨密封件的传感器。3、 H5U'J要求2所述的密封系统，其中所述传感器包括压力传感器、温度 传感器、泄露传感器、摩*感器、应变传感器、流^^^^JL传感器、磨损传 感器、变形传感器、振动传感器和噪声传感器的至少其中之一。4、 H5U，J要求2所述的密封系统，其中所述传感器测量所述聚#密封件 的持久^N^暂时条降的至少其中之一。5、 d^U'漆求l所述的密封系统，其中所述测量糾包括置于所述聚錄 密封件内并至少部，成所述聚*密封件的材料，所ii^^F基于;^压力、 温度、剪切、应变、腐蚀、材料损失、磨损、暴露于系^i且件、系统;緣、所 述系统-緣的密*1^及#时间的至少其中之一狄其材辦性。6、 N5U)要求5所述的密封系统，其中所^#料包括高导电聚合物。7、 ftwM'j要求l所述的密封系统，其中所述测量H^是i^I^供动力和自 身提供动力之一。8、 NW要求1所述的密封系统，其中所述信号是电和磁之一。9、 H5U，j要求l所述的密封系统，进一步包^ii信糾，其配置用于通信 所述信号离开所述聚合物密封件，所述^M古单元配置用于接收来自所iiii信器 件的所述信号。10、 N5^要求9所述的密封系统，其中所iiit信IW;I^J于传ili;斤述信 号离开所述聚*密封件的有线和无线连接其中之一。11、 H5U'漆求9所述的密封系统，其中所iiit信^bl^识别糾，其胁能量到所述测量跳12、 如^U'j要求1所述的密封系统，进一步包括第二聚^密封件和第二 测量器件，所錄二聚絲密封件置于两组件之间，所述第二测量器件至少部 分置于所述第二聚合物密封件内，配置成用于测量所述第二聚合物密封件的指 示第二聚^密封件的密封性能的方面，并配置成用于产生对应所述第二聚合 物密封件的被测的所述方面的第二信号，所述评估单it^L^置用于^ff古对应所 述第二聚絲密封件的所述被测方面的所錄二信号且用于确定所錄二聚合物密封件的密封性能，所i^二测量器件包樹a)至少部分^A^斤^二聚M 密封件的传感器和(b)置于所述第二聚^密封件内且至少部^成所述第二聚 杨密封件的材料中的其中之一，所i^料基于^口压力、温度、剪切、应变、腐蚀、材料损失、磨损、暴露于系i^a件、系统流体、所述系统-緣的密#^及#时间的至少其中之一 其材辦性。13、 4喊利要求1所述的密封系统，进一步包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：L卡斯尔曼，
申请(专利权)人：特瑞堡密封系统美国有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]