具有中孔GaN DBR的中孔GaN基LED的制备方法技术

技术编号:41310237 阅读:33 留言:0更新日期:2024-05-13 14:53
本发明专利技术公开了具有中孔GaN DBR的中孔GaN基LED的制备方法,采用有机金属化学气相沉积技术在衬底上依次外延生长GaN缓冲层、u‑GaN/n‑GaN周期性结构、GaN基超晶格和多量子阱层,得到GaN基MQW结构;在电解液中,对所述GaN基MQW结构进行电化学刻蚀,制备具有中孔GaN DBR的中孔GaN基MQW;以中孔GaN基MQW为衬底,采用再生长技术生长p‑GaN层,制备具有中孔GaN DBR的中孔GaN基LED。本发明专利技术是一种具有中孔GaN DBR的中孔GaN基LED的制备方法,能够制备出应力松弛、晶体质量高、散热能力强、大面积、发光效率高的GaN基LED。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体光电子材料,具体涉及具有中孔gan dbr的中孔gan基led的制备方法。


技术介绍

1、氮化镓(gan)基发光二极管(led)具有环保、无毒等优点,已获得广泛应用。然而,其应力高、晶体质量差以及出光效率低,导致其发光效率低。为了提高gan基led的发光效率,可采用在纳米多孔薄膜上生长gan基led。目前,已经尝试过多孔si、多孔gan等多种结构。但即使实现剥离,由于缺陷密度高、光提取效率低等原因导致发光效率仍然较低。在具有中孔gan dbr的中孔gan基多量子阱(mqw)上生长p-gan层,制备具有中孔gan dbr的中孔gan基led,缺陷密度的减少提高了晶体质量,dbr的高反射效应增强了光提取效率,导致其发光强度有望显著提高。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供具有中孔gan dbr的中孔gan基led的制备方法,解决了现有技术中由于缺陷密度高、光提取效率低导致发光效率低的问题。

2、本专利技术采用的技术方案是:具有中孔gan dbr的中孔gan基led的制备方法,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.具有中孔GaN DBR的中孔GaN基LED的制备方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:

2.根据权利要求1所述具有中孔GaN DBR的中孔GaN基LED的制备方法,其特征在于,步骤1中所述u-GaN/n-GaN周期性结构包括低掺杂GaN层和高掺杂GaN层,厚度均为51-67nm,低掺杂GaN层掺杂浓度为4.1×1015-9.9×1017cm-3,高掺杂GaN层掺杂浓度为3.1×1018-3.9×1019cm-3,周期数为5-20。

3.根据权利要求1所述具有中孔GaN DBR的中孔GaN基LED的制备方法,其特征在于,所述GaN基超晶格和多量子阱层的掺杂浓度...

【技术特征摘要】

1.具有中孔gan dbr的中孔gan基led的制备方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:

2.根据权利要求1所述具有中孔gan dbr的中孔gan基led的制备方法,其特征在于,步骤1中所述u-gan/n-gan周期性结构包括低掺杂gan层和高掺杂gan层,厚度均为51-67nm,低掺杂gan层掺杂浓度为4.1×1015-9.9×1017cm-3,高掺杂gan层掺杂浓度为3.1×1018-3.9×1019cm-3,周期数为5-20。

3.根据权利要求1所述具有中孔gan dbr的中孔gan基led的制备方法,其特征在于,所述gan基超晶格和多量子阱层的掺杂浓度均为3.1×1018-3.9×1019cm-3,所述超晶格结构是周期为10-11的inxga1-xn/gan超晶格结构,其中,0<x<0.09,每个周期中,inxga1-xn厚度为3-4nm,gan厚度为7nm;所述多量子阱层是周期15-29的inyga1-...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹得重李兴王赫郭正全成鹏飞闫晓东孙坤校王菲斐骆恬恬第五淯暄
申请(专利权)人:西安工程大学
类型:发明
国别省市:

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