【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及窄线宽半导体激光器性能测试，具体涉及一种窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法及系统。
技术介绍
1、窄线宽半导体激光器测试是激光
的一项重要技术，其狭窄的频谱线宽使其在精密测量、光通信系统和其他科学工程应用中具有广泛应用。因此窄线宽半导体激光器的性能评估对于确保其在各应用中的可靠性和性能至关重要。
2、通常情况下，对窄线宽半导体激光器的性能进行评估需要进行piv曲线和相噪曲线测试。这些测试过程需要准确捕获激光器的输出光强度、电压以及频率噪声等关键参数。然而，传统的测试方法存在测试周期长、测试过程复杂、数据准确性不高等问题，导致了性能评估存在有不便和不确定性。
3、因此，为了克服这些挑战，本领域亟需一种高效且准确的测试方法和系统，以便更可靠地评估窄线宽半导体激光器的性能。
技术实现思路
1、为了克服上述缺陷，本专利技术提供了窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法及系统，本专利技术能够分别进行piv测试、piv曲线绘制和pn测试、pn曲线绘制，测试整体...
【技术保护点】
1.一种窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法，其特征在于，所述步骤2具体包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法，其特征在于，所述步骤24中，根据多组直流电源电压值和输出光的绘制PIV曲线绘制时，对每组功率值进行3dBm补偿。
4.根据权利要求1所述的窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法，其特征在于，所述步骤3具体包括以下步骤：
5.根据权利要求4所述的窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法，其特征...
【技术特征摘要】
1.一种窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法，其特征在于，所述步骤2具体包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法，其特征在于，所述步骤24中，根据多组直流电源电压值和输出光的绘制piv曲线绘制时，对每组功率值进行3dbm补偿。
4.根据权利要求1所述的窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法，其特征在于，所述步骤3具体包括以下步骤：
5.根据权利要求4所述的窄线宽...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕朴初，李廷安，王克依，
申请(专利权)人：北京航大华力科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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