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本发明公开了一种窄线宽半导体激光器性能一体化测试方法及系统，涉及窄线宽半导体激光器性能测试技术领域，本发明通过将窄线宽半导体激光器的输出光一分为二，分别进行PIV测试、PIV曲线绘制和PN测试、PN曲线绘制，从而实现PIV和PN一体化测试，...
该专利属于北京航大华力科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京航大华力科技有限公司授权不得商用。

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