【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微纳电子,具体涉及一种忆阻器阵列列电流读出电路及装置。
技术介绍
1、忆阻器阵列又称rram(resistive random access memory)阵列,是一种利用非易失的忆阻器和开关器件组成的交叉阵列,可以同时进行存储和计算,有望打破“存储墙”瓶颈。最常用的rram阵列为1t1r结构,1t1r称为rram单元。t(transistor)为晶体管,作为开关控制器件,一般选用nmos作为选通晶体管。r(memristor)为忆阻器件,阻值高低表示存储的信息,高阻态(hrs,high resistance state)和低阻态(lrs,low resistance state)分别代表0和1。
2、由于rram阵列非易失、面积小并与cmos工艺兼容等优势,可高速低功耗地实现乘累加操作,因此被广泛用于神经网络推理计算的加速应用。由于rram阵列的乘累加计算结果为模拟形式的列电流,因此需要使用读出电路将列电流量化为数字量以进行后续处理。传统高精度的模数转换器(adc,analog to digital conv
...【技术保护点】
1.一种忆阻器阵列列电流读出电路,其特征在于,包括偏置电路、深度负反馈电路、电流补偿电路、积分时间产生电路、时间采样电路、参考信号产生电路和编码电路;
2.根据权利要求1所述的忆阻器阵列列电流读出电路,其特征在于,所述偏置电路包括MOS管PM1、MOS管PM2、MOS管PM3、开关S01和偏置电流源Ibias;
3.根据权利要求1或2所述的忆阻器阵列列电流读出电路,其特征在于,所述深度负反馈电路包括运算放大器AP和MOS管NM8,所述运算放大器AP的正相输入端用于连接忆阻器阵列的列线输出端,所述运算放大器AP的反相输入端用于接入外接电压,所述运
...【技术特征摘要】
1.一种忆阻器阵列列电流读出电路,其特征在于,包括偏置电路、深度负反馈电路、电流补偿电路、积分时间产生电路、时间采样电路、参考信号产生电路和编码电路;
2.根据权利要求1所述的忆阻器阵列列电流读出电路,其特征在于,所述偏置电路包括mos管pm1、mos管pm2、mos管pm3、开关s01和偏置电流源ibias;
3.根据权利要求1或2所述的忆阻器阵列列电流读出电路,其特征在于,所述深度负反馈电路包括运算放大器ap和mos管nm8,所述运算放大器ap的正相输入端用于连接忆阻器阵列的列线输出端,所述运算放大器ap的反相输入端用于接入外接电压,所述运算放大器ap的输出端分别连接所述mos管nm8的栅极和所述积分时间产生电路的输入端,所述mos管nm8的漏极连接所述运算放大器ap的正相输入端,所述mos管nm8的源极连接所述积分时间产生电路的输入端。
4.根据权利要求3所述的忆阻器阵列列电流读出电路,其特征在于,所述电流补偿电路包括mos管pm0、mos管pm4、开关s1和补偿电流单元;所述补偿电流单元为忆阻器均为高阻态忆阻器的一列忆阻器阵列;
5.根据权利要求4...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈长林,李清江,王义楠,杨为平,徐晖,刘森,刘海军,于红旗,王伟,李智炜,宋兵,步凯,王琴,曹荣荣,王玺,李楠,刁节涛,
申请(专利权)人:中国人民解放军国防科技大学,
类型:发明
国别省市:
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