【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于图像处理，具体涉及一种纳米压印图像的检测方法。
技术介绍
1、纳米科学自上世纪90年代以来蓬勃发展，目前其成果已经在很多行业得到了广泛应用。纳米材料加工技术是纳米科学的基础,纳米压印技术具有生产效率高、成本低、工艺过程简单、大面积结构复制的均匀性和重复性良好的特点。纳米压印的基本指导思想就是通过转移介质将掩模具上的图形转移到基板上，基板的表面涂上光刻胶，然后将模板压在其表面，采用加压的方式使图案转移到光刻胶上。但在纳米压印的实际操作过程中，加工后的基板图形并不一定满足生产需求，因此需对加工后的基板图像与模具的图像进行对比分析，确定纳米压印加工是否合格。
技术实现思路
1、本专利技术为了解决以上问题，提出了一种纳米压印图像的检测方法。
2、本专利技术的技术方案是：一种纳米压印图像的检测方法包括以下步骤：
3、s1、采集待检测基板的压印图像，并获取待检测基板对应的纳米压印模具的模板图像；
4、s2、根据模板图像，确定压印图像的成形度；
5、s3、根据压印图像的成形度，确定待检测基板是否合格。
6、进一步地，s2包括以下子步骤：
7、s21、提取压印图像中每个像素点的海森矩阵；
8、s22、根据压印图像中每个像素点的海森矩阵，确定压印图像的压印边缘形状；
9、s23、提取模板图像的轮廓；
10、s24、根据压印图像的压印边缘形状以及模板图像的轮廓，计算压印图像的成形度
11、上述进一步方案的有益效果是：在本专利技术中，待检测基板的压印图像中压印形状关乎压印结果，所以本专利技术根据压印图像中每个像素点的海森矩阵来确定压印边缘形状。模具的模板图像是标准的，可以作为参考图像，与压印图像进行对比分析，计算成形度。因此，本专利技术对两张图像之间进行像素点的轮廓分析，为判断待检测基板是否合格打下基础。
12、在本专利技术中，图像的边缘轮廓可以通过sobel算子以及canny算子等完成。海森矩阵（hessian矩阵）在图像处理中有广泛的应用，比如边缘检测和特征点检测等。
13、进一步地，s22包括以下子步骤：
14、s221、为每个像素点生成像素偏置值；
15、s222、将海森矩阵值从大到小排列，得到矩阵值序列；
16、s223、根据矩阵值序列以及各个像素点的像素偏置值，生成各个像素点的边缘完整度；
17、s224、根据各个像素点的边缘完整度，确定压印图像的压印边缘形状。
18、进一步地，s221中，像素点的像素偏置值b的计算公式为：；式中，k表示像素点的像素值，β表示极小的正数，k0表示所有像素点的像素值均值。
19、进一步地，s223中，像素点的边缘完整度w的计算公式为：；式中，x表示像素点的海森矩阵，random[·]表示随机数函数，b表示像素点的像素偏置值，d表示矩阵值序列的中位数。
20、进一步地，s22中，确定压印图像的压印边缘形状的方法为：将边缘完整度从大到小排列，并将前个边缘完整度对应的像素点连接，作为压印图像的压印边缘形状；其中，j表示压印图像的像素点个数，表示向上取整运算。
21、进一步地，s24中，压印图像的成形度c的计算公式为：；式中，s1表示压印图像的压印边缘形状的最小外包圆的面积，s0表示模板图像的轮廓的最小外包圆的面积，σ表示压印图像的压印边缘形状以及模板图像的轮廓之间的哈希相似度。
22、可以对压印图像的压印边缘形状的最小外包圆的面积以及表示模板图像的轮廓的最小外包圆的面积之间的比值进行去除量纲处理。哈希相似度是一种简单而有效的图像相似度计算方法，它可以通过计算图像的平均灰度值来生成一个哈希码，用于表示图像的特征。同理，可以对模板图像的轮廓面积与模板图像的总面积之间的比值进行去除量纲处理。
23、进一步地，s3中，确定待检测基板是否合格的方法为：将模板图像的轮廓面积与模板图像的总面积之间的比值作为成形阈值，若压印图像的成形度大于或等于成形阈值，则待检测基板合格，否则待检测基板不合格。
24、本专利技术的有益效果是：在本专利技术公开的纳米压印图像检测方法中，将纳米压印加工完成的压印图像与模具的模板图像（即标准图像）进行像素点的分析对比，确定反映压印图像压印标准程度的参数，即成形度；根据成形度与成形阈值的大小比较就可以确定待检测基板是否合格。本专利技术可以对纳米压印结果进行监测，提高纳米压印的合格率。
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1.一种纳米压印图像的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述S2包括以下子步骤：
3.根据权利要求2所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述S22包括以下子步骤：
4.根据权利要求3所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述S221中，像素点的像素偏置值b的计算公式为：；式中，K表示像素点的像素值，β表示极小的正数，K0表示所有像素点的像素值均值。
5.根据权利要求3所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述S223中，像素点的边缘完整度w的计算公式为：；式中，X表示像素点的海森矩阵，Random[·]表示随机数函数，b表示像素点的像素偏置值，D表示矩阵值序列的中位数。
6.根据权利要求1所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述S22中，确定压印图像的压印边缘形状的方法为：将边缘完整度从大到小排列，并将前个边缘完整度对应的像素点连接，作为压印图像的压印边缘形状；其中，J表示压印图像的像素点个数，表示向上取整运算。
7.根据权利
8.根据权利要求1所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述S3中，确定待检测基板是否合格的方法为：将模板图像的轮廓面积与模板图像的总面积之间的比值作为成形阈值，若压印图像的成形度大于或等于成形阈值，则待检测基板合格，否则待检测基板不合格。
...【技术特征摘要】
1.一种纳米压印图像的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述s2包括以下子步骤：
3.根据权利要求2所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述s22包括以下子步骤：
4.根据权利要求3所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述s221中，像素点的像素偏置值b的计算公式为：；式中，k表示像素点的像素值，β表示极小的正数，k0表示所有像素点的像素值均值。
5.根据权利要求3所述的纳米压印图像的检测方法，其特征在于，所述s223中，像素点的边缘完整度w的计算公式为：；式中，x表示像素点的海森矩阵，random[·]表示随机数函数，b表示像素点的像素偏置值，d表示矩阵值序列的中位数。
6.根据权利要求1所述的纳米压印图像的检...
【专利技术属性】
技术研发人员：冀然，李铭，董征，刘苹伟，
申请(专利权)人：青岛天仁微纳科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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