【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子，具体地涉及一种电压校正电路、芯片和图像形成装置。
技术介绍
1、图像形成装置通常设置有混合信号集成电路，为了实现高速高精度的模数(a/d)和数模(d/a)转换器架构通常会并联大量的比较器，这导致对比较器的性能有了更为严格的约束。。比较器的性能很大程度上影响着系统的性能，但是比较器的性能受到了其失调电压的严重制约，特别是随着内部器件工艺特征尺寸的逐步减小，由于阈值电压、面积因子以及寄生电容的失配引起的失调电压逐渐增大。
2、使用传统的失调电压校正技术校正比较器的失调电压时，通常会在比较器中引入额外的电容，使得比较器的速度大大降低，同时增加了设计的复杂性和芯片面积。而图像形成装置通常要求比较器是低偏移、高速和低功耗的，现有的失调电压校正方法会影响图像形成装置的性能。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请提供一种电压校正电路、芯片和图像形成装置，以利于解决现有技术中校正比较器的失调电压会影响比较器的性能的问题。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种电压校正电路，包括：比较器、可控模块、可控器；
3、所述比较器的输出端与所述主控器的输入端连接，用于向所述主控器输出电压作为待校正电压；
4、所述可控模块设置于所述比较器的输入端和输出端之间，所述主控器与所述可控模块连接，所述主控器用于基于所述待校正电压确定控制信号，以调整所述可控模块的工作参数，校正所述比较器的输出电压。
5、一种可选的实施例中，所述可控模块为可变电阻模
6、所述主控器与所述可变电阻模块连接，所述主控器用于基于所述待校正电压确定控制信号，以调整所述可变电阻模块的阻值，校正所述比较器的输出电压。
7、一种可选的实施例中，所述可变电阻模块包括第一可变电阻和第二可变电阻；
8、所述第一可变电阻设置于所述比较器的第一输入端和第一输出端之间，所述第二可变电阻设置于所述比较器的第二输入端和第二输出端之间。
9、一种可选的实施例中，所述第一可变电阻中包括多个并联组成的定值电阻，每个定值电阻所在支路上设置有对应的控制开关；
10、所述第二可变电阻中包括多个并联组成的定值电阻，每个定值电阻所在支路上设置有对应的控制开关；
11、其中，所述主控器与所述控制开关连接。
12、一种可选的实施例中，所述可控模块为可控半导体器件；
13、所述主控器与所述可控半导体器件连接，所述主控器用于基于所述待校正电压确定控制信号，以调整所述可控半导体器件的工作参数，校正所述比较器的输出电压。
14、一种可选的实施例中，所述可控半导体器件的工作参数为所述可控半导体器件的等效电阻。
15、一种可选的实施例中，所述主控器包括检测模块和调整模块；
16、所述检测模块的输入端作为所述主控器的输入端，所述检测模块的输出端连接所述调整模块的输入端，用于基于所述待校正电压确定控制信号，并将所述控制信号发送至所述调整模块；
17、所述调整模块的输出端连接所述可控模块，用于基于所述控制信号调整所述可控模块的工作参数，校正所述比较器的输出电压。
18、一种可选的实施例中，所述检测模块中包括偏置检测器；
19、所述偏置检测器的输入端与所述比较器的输出端连接，所述偏置检测器的输出端连接所述调整模块；
20、所述偏置检测器用于根据所述待校正电压的极性确定对应的控制信号，并将所述控制信号发送至所述调整模块；
21、其中，若所述待校正电压的极性为正，则所述偏置检测器发送第一控制信号至所述调整模块，若所述待校正电压的极性为负，则所述偏置检测器发送第二控制信号至所述调整模块。
22、一种可选的实施例中，所述检测模块中包括翻转传感器；
23、所述翻转传感器的输入端连接所述比较器的输出端，所述翻转传感器的输出端连接所述调整模块；
24、所述翻转传感器用于检测到所述比较器输出的待校正电压的极性改变时，向所述调整模块发送停止校正信号，所述停止校正信号用于指示所述调整模块停止调整所述可控模块的工作参数。
25、一种可选的实施例中，所述调整模块包括：计数器和多路复用器；
26、所述计数器用于周期性控制所述多路复用器调整所述可控模组的工作参数；
27、所述多路复用器用于根据所述控制信号确定调整所述可控模组的工作参数。
28、第二方面，本申请实施例提供了一种芯片，所述芯片中设置有如第一方面提供的电压校正电路。
29、第三方面，本申请实施例提供了一种图像形成装置，所述图像形成装置中设置有第一方面提供的电压校正电路。
30、本申请实施例所提供的电压校正电路、芯片和图像形成装置至少包括比较器、可控模块和主控器；比较器的输出端与主控器的输入端连接，用于向主控器输出电压作为待校正电压；可控模块设置于比较器的输入端和输出端之间，主控器与可控模块连接，主控器用于基于待校正电压确定控制信号，以调整可控模块的工作参数，校正比较器的输出电压。本申请的实施例在比较器输入端与输出端之间设置可控模块，通过调整可控模块的工作参数可有效帮助消除比较器的失调电压，其调整方式简单易于实现，同时能够帮助降低对比较器性能的影响。
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1.一种电压校正电路，其特征在于，包括：比较器、可控模块、和主控器；
2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述可控模块为可变电阻模块；
3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述可变电阻模块包括第一可变电阻和第二可变电阻；
4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述第一可变电阻中包括多个并联组成的定值电阻，每个定值电阻所在支路上设置有对应的控制开关；
5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述可控模块为可控半导体器件；
6.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述可控半导体器件的工作参数为所述可控半导体器件的等效电阻。
7.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述主控器包括检测模块和调整模块；
8.根据权利要求7所述的电路，其特征在于，所述检测模块中包括偏置检测器；
9.根据权利要求7所述的电路，其特征在于，所述检测模块中包括翻转传感器；
10.根据权利要求7所述的电路，其特征在于，所述调整模块包括：计数器和多路复用器；
11.一种芯片，其
12.一种图像形成装置，其特征在于，所述图像形成装置中设置有如权利要求1至10任一项所述的电压校正电路。
...【技术特征摘要】
1.一种电压校正电路，其特征在于，包括：比较器、可控模块、和主控器；
2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述可控模块为可变电阻模块；
3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述可变电阻模块包括第一可变电阻和第二可变电阻；
4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述第一可变电阻中包括多个并联组成的定值电阻，每个定值电阻所在支路上设置有对应的控制开关；
5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述可控模块为可控半导体器件；
6.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述可控半导体器件的工作参数为所述可控半导体器件...
【专利技术属性】
技术研发人员：张军，陈泽福，梁杰，
申请(专利权)人：珠海奔图电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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