一种适用于SAR ADC电容失配校正的复用型比较器制造技术

本发明专利技术公开一种适用于SAR ADC电容失配校正的复用型比较器，属于集成电路技术领域。该复用型比较器的输入端与SAR ADC电容阵列相连，复用型比较器的输出端和亚稳态检测电路输入端相连，所述复用型比较器包括前级放大器、可再生锁存比较器和四个开关S1、S2、S3、S4，分别实现粗比较器和细比较器的复用。与传统的利用亚稳态检测进行电容失配校正的方案相比，本发明专利技术复用型比较器不仅可以降低高位量化的功耗，也可以有效节省比较器占用的芯片面积。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于集成电路，具体涉及一种适用于sar adc电容失配校正的复用型比较器。

技术介绍

1、在电子通信时代，随着信息的爆炸式增长，人们对信息处理的需求量与日俱增。然而现实世界的信息往往都是连续变化的模拟信号，如光、温度、速度、压力、声音等。在电子技术发展早期，这些信号通过模拟系统直接处理，但由于模拟信号处理系统设计冗杂、系统迭代周期长，且需要大量的有源无源器件导致硅片面积大，从而增加了设计难度和芯片成本。此外，模拟信号还十分容易受干扰影响，一旦环境温度、湿度、磁场等发生改变，系统可靠性将急剧下降。相反，数字信号处理系统只需读取和处理0和1两种状态，因此抗干扰能力较强，且只需修改程序就可以实现系统功能的改变，大大节省了硬件开销，展现出模拟信号处理系统所不具备的独特优势。因此，模数转换器的设计具有重要意义，它构成模拟和数字信号之间的桥梁，将所需要的处理的连续模拟信号先转换为离散数字信号，再继续传送到微控制器或微处理器进行进一步的数字操作，在优化了信号处理系统架构的同时，提高了系统的可靠性并降低了研发成本，现被广泛用于生物医疗、传感成像、现代通信、仪表仪本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种适用于SAR ADC电容失配校正的复用型比较器，该复用型比较器的输入端与SARADC电容阵列相连，复用型比较器的输出端和亚稳态检测电路输入端相连，其特征在于，所述复用型比较器包括前级放大器、可再生锁存比较器和四个开关S1、S2、S3、S4，开关S1、S2分别设置在前级放大器输出VIP和VIN上，前级放大器的输出VIP与前级放大器的输入VIP连线，前级放大器的输出VIN和前级放大器的输入VIN连线，在上述连线上分别设置开关S3、S4，当复用型比较器使能为低电平时，开关S3、S4断开，开关S1、S2闭合，前级放大器不工作，并且前级放大器的输出VIP和VIN直接连接到可再生锁存比较器的...

【技术特征摘要】

1.一种适用于sar adc电容失配校正的复用型比较器，该复用型比较器的输入端与saradc电容阵列相连，复用型比较器的输出端和亚稳态检测电路输入端相连，其特征在于，所述复用型比较器包括前级放大器、可再生锁存比较器和四个开关s1、s2、s3、s4，开关s1、s2分别设置在前级放大器输出vip和vin上，前级放大器的输出vip与前级放大器的输入vip连线，前级放大器的输出vin和前级放大器的输入vin连线，在上述连线上分别设置开关s3、s4，当复用型比较器使能为低电平时，开关s3、s4断开，开关s1、s2闭合，前级放大器不工作，并且前级放大器的输出vip和vin直接连接到可再生锁存比较器的输入端，只让后级的可再生锁存比较器进行工作，所述复用型比较器作为粗比较器；当复用型比较器使能为高电平时，开关s3、s4闭合，开关s1、s2断开，前级放大器工作，前级放大器的输出vip和vin直接连接到前级放大器的输入端，并且前级放大器的输出端连接到可再生锁存比较器的输入端，最后产生比较信号，所述复用型比较器作为细比较器。

2.如权利要求1所述的适用于sar adc电容失配校正的复用型比较器，其特征在于，前级放大器包括nmos输入对管q1和q2、nmos偏置电流源管q6、pmos输入对管q3和q4、pmos偏置电流源管q5和pmos使能管q8，q1和q3与前级放大器的输入vip相连，并且两管的漏极相连产生von，q2和q4与前级放大器输入vin相连，并且两管的漏电相连产生vop输出信号，并且von和vop通过电阻串联分压产生输出共模信号作为偏置信号来连接到q6的栅极，q6的源极接地，漏极与q1和q2的源极相连，q3和q4的源极同时与q5的漏极相连接，q5和q8的源极与电源相连，并且q8的栅极与使能信号en相连，q8的漏极与q5的栅极相连并且连接了输入偏置电压vb...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘军华，刘志勇，廖怀林，
申请(专利权)人：北京大学，
类型：发明
国别省市：