System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种提高RTK测量精度的方法、装置、计算机设备及介质制造方法及图纸_技高网

一种提高RTK测量精度的方法、装置、计算机设备及介质制造方法及图纸

技术编号:41275652 阅读:5 留言:0更新日期:2024-05-11 09:28
本发明专利技术涉及一种提高RTK测量精度的方法、装置、计算机设备及介质。该方法在基准站上额外部署位姿相对固定的图像采集设备进行图像采集,并进行灰度化处理,提取灰度图像内特征点及第一描述向量,根据特征点的分布情况构造第二描述向量,根据各个特征点的第二描述向量变化情况,估计基准站的位姿变化情况,从而将位姿变化信息提供给移动站进行测量校正,在山区场景下,基准站易出现较小的位姿变化,相较于电子气泡等仪器监测方式,图像采集设备的精密度需求更低,使得图像处理方式鲁棒性更高,更适应于山区场景,相较于现有监测方式,能够根据基准站位姿的微小变化对测量进行反馈,从而提高RTK测量的精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术适用于移动测量领域,尤其涉及一种提高rtk测量精度的方法、装置、计算机设备及介质。


技术介绍

1、目前,实时动态载波相位差分技术(rtk)接收机广泛应用于导航和测绘领域,rtk通常使用基准站和移动站协同的方式,由已知部署位置的基准站向移动站发送所接受到的差分信号,移动站通过自身接收到的卫星信号以及基准站发送的差分信号,确定与基准站的相对位置以实现测量。

2、显然,基准站坐标的准确性直接影响移动站测量的精度,理想状态下基准站在测量过程中是静止不动的,从而保证基准站坐标不会改变,然而在现实中,基准站可能受到各种外界因素的干扰,从而出现移动,倾斜,震动等情况,导致基准站位置发生变化,现有方法中,cn107991694a《一种基于rtk基准站姿态监控系统及其监控方法》提出了通过电子气泡监控基准站位姿变化的方案,在位姿变化过大时,对测量人员提供预警,从而能够避免出现测量误差过大的情况。

3、然而,在基准站位姿变化较小,不满足预警条件时,在测量时仍然会根据基准站的初始位置进行测量,导致测量过程存在误差,在山区等场景下,由于地面平坦度较差等因素,更容易出现基准站位姿出现小幅度变化的情况,而且,此类情况下电子气泡也容易产生仪器误差,从而导致rtk测量精度较低,因此,如何提高rtk测量精度成为了亟待解决的问题。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术实施例提供了一种提高rtk测量精度的方法、装置、计算机设备及介质,以解决问题。

2、第一方面,提供一种提高rtk测量精度的方法,所述方法包括:

3、获取图像采集设备在第一预设时间点采集到的第一初始图像,所述图像采集设备部署于基准站,且所述图像采集设备的位姿相对于所述基准站固定;

4、对所述第一初始图像进行灰度化处理,得到第一灰度图像,使用预设的特征描述子对所述第一灰度图像进行特征提取,得到m个目标特征点及对应的第一描述向量,m为大于一的整数;

5、针对任一目标特征点,根据目标特征点之间的距离确定与所述目标特征点最接近的n个目标特征点作为所述目标特征点的关联特征点,根据n个关联特征点分别对应的坐标,确定所述目标特征点的第二描述向量,n为正整数;

6、根据m个目标特征点对应的第一描述向量与k个预设的参考特征点对应的第一参考向量,对m个目标特征点和k个参考特征点进行匹配,得到l个特征点匹配对,各个所述特征点匹配对包括一个目标特征点和一个参考特征点,k为正整数,l≤min(m,k)且l为正整数;

7、针对任一特征点匹配对,将所述特征点匹配对中目标特征点对应的第二描述向量与参考特征点对应的预设第二参考向量进行差值计算,得到所述特征点匹配对的差值向量;

8、将l个特征点匹配对的差值向量一同输入预设的位姿变化量估计模型中,得到所述基准站的位姿变化量;

9、将所述位姿变化量发送给对应所述基准站的移动站,所述移动站用于根据所述基准站的预设初始位姿、所述位姿变化量以及所述基准站发送的载波相位信号,进行rtk测量。

10、第二方面,提供一种提高rtk测量精度的装置,所述装置包括:

11、图像获取模块,用于获取图像采集设备在第一预设时间点采集到的第一初始图像,所述图像采集设备部署于基准站,且所述图像采集设备的位姿相对于所述基准站固定;

12、特征提取模块,用于对所述第一初始图像进行灰度化处理,得到第一灰度图像,使用预设的特征描述子对所述第一灰度图像进行特征提取,得到m个目标特征点及对应的第一描述向量,m为大于一的整数;

13、特征描述模块,用于针对任一目标特征点,根据目标特征点之间的距离确定与所述目标特征点最接近的n个目标特征点作为所述目标特征点的关联特征点,根据n个关联特征点分别对应的坐标,确定所述目标特征点的第二描述向量,n为正整数;

14、特征匹配模块,用于根据m个目标特征点对应的第一描述向量与k个预设的参考特征点对应的第一参考向量,对m个目标特征点和k个参考特征点进行匹配,得到l个特征点匹配对,各个所述特征点匹配对包括一个目标特征点和一个参考特征点,k为正整数,l≤min(m,k)且l为正整数;

15、差值计算模块,用于针对任一特征点匹配对,将所述特征点匹配对中目标特征点对应的第二描述向量与参考特征点对应的预设第二参考向量进行差值计算,得到所述特征点匹配对的差值向量;

16、位姿分析模块,用于将l个特征点匹配对的差值向量一同输入预设的位姿变化量估计模型中,得到所述基准站的位姿变化量;

17、实时测量模块,用于将所述位姿变化量发送给对应所述基准站的移动站,所述移动站用于根据所述基准站的预设初始位姿、所述位姿变化量以及所述基准站发送的载波相位信号,进行rtk测量。

18、第三方面,本专利技术实施例提供一种计算机设备,所述计算机设备包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的提高rtk测量精度的方法。

19、第四方面,本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的提高rtk测量精度的方法。

20、本专利技术与现有技术相比存在的有益效果是:

21、在基准站上额外部署固定位姿的图像采集设备进行图像采集,并根据采集的图像内特征点的分布情况构造特征描述向量,根据各个特征点的特征描述向量变化情况,估计图像采集设备的位姿变化情况,进而能够确定基准站的位姿变化情况,从而将位姿变化信息提供给移动站进行测量校正,相较于电子气泡等仪器监测方式,图像采集设备的精密度需求更低,使得图像处理方式鲁棒性更高,相较于现有监测方式,能够根据基准站位姿的微小变化对测量进行反馈,从而提高rtk测量的精度。

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【技术保护点】

1.一种提高RTK测量精度的方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的提高RTK测量精度的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的提高RTK测量精度的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1所述的提高RTK测量精度的方法,其特征在于,所述将所述位姿变化量发送给对应所述基准站的移动站,所述移动站用于根据所述基准站的预设初始位姿、所述位姿变化量以及所述基准站发送的载波相位信号,进行RTK测量包括:

5.根据权利要求1所述的提高RTK测量精度的方法,其特征在于,所述对所述第一初始图像进行灰度化处理,得到第一灰度图像包括:

6.根据权利要求1所述的提高RTK测量精度的方法,其特征在于,所述根据N个关联特征点分别对应的坐标,确定所述目标特征点的第二描述向量,包括:

7.根据权利要求1至6任一项所述的提高RTK测量精度的方法,其特征在于,所述使用预设的特征描述子对所述第一灰度图像进行特征提取,得到M个目标特征点及其第一描述向量,包括:

8.一种提高RTK测量精度的装置,其特征在于,所述装置包括:

9.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的提高RTK测量精度的方法。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的提高RTK测量精度的方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种提高rtk测量精度的方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的提高rtk测量精度的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的提高rtk测量精度的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1所述的提高rtk测量精度的方法,其特征在于,所述将所述位姿变化量发送给对应所述基准站的移动站,所述移动站用于根据所述基准站的预设初始位姿、所述位姿变化量以及所述基准站发送的载波相位信号,进行rtk测量包括:

5.根据权利要求1所述的提高rtk测量精度的方法,其特征在于,所述对所述第一初始图像进行灰度化处理,得到第一灰度图像包括:

6.根据权利要求1所述的提高rtk测量精度的方法,其特征在于,所述根据n个关联特征点分...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹为接江昊方建迪吕达叶晨任娇蓉翁格平江涵卿华谢楚
申请(专利权)人:国网浙江省电力有限公司宁波供电公司
类型:发明
国别省市:

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