【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试，具体涉及一种芯片接口测试方法、控制方法以及芯片接口测试系统。
技术介绍
1、当前，芯片测试中对于高速的serdes接口测试，通常是使用带serdes的高速机台(类似93k机型)进行接口测试，由于在测试过程中机台厂家提供的测试服务通常测试流程十分复杂，需要专业的编程人员对机台进行编程后，才能进行芯片测试，以及由于机台十分昂贵，并不适合企业直接购买，故在测试厂借测又会遇到排期等各系列问题，导致对于尚未开发结束，并还需要迭代的该类具有serdes接口的特殊接口芯片来说，当前在量产测试中使用advantest的93k cth等通用测试机台方法进行测试的方法十分局限，具有成本高、测试方法少，测试功能不完整以及无法在线调试开发等问题，无法有效进行待测芯片的高速204b数据测试。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种芯片接口测试方法、控制方法以及芯片接口测试系统，至少能保证，本申请方案能通过集成有fpga程序的芯片接口测试电路实现对具有serdes接口的特殊接口芯片的高速204b数据测试，可以提高芯片接口测试的灵活性，有效降低接口测试局限性，改善成本高、测试方法少，测试功能不完整以及无法在线调试开发等问题。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种芯片接口测试方法，所述方法应用于芯片接口测试电路，所述测试电路包括fpga逻辑测试模块、时钟pll模块和电源模块，所述fpga逻辑测试模块的高速serdes接口与待测芯片连接，所述方法包括：
3、控制所述电源模
4、控制所述fpga逻辑测试模块加载fpga程序；
5、控制所述时钟pll模块对所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片进行时钟初始化；
6、控制所述fpga逻辑测试模块根据所述fpga程序对所述待测芯片进行常规功能测试，以及通过自动触发的方式对所述待测芯片进行adc和bp功能测试；
7、控制所述fpga逻辑测试模块对得到的测试数据结果进行上传处理；
8、其中，所述常规功能测试至少包括以下之一：连通性o/s测试、上电电流测试、bsd测试、mbist测试、scan测试以及adc&serdes测试。
9、在一些实施例中，所述芯片接口测试电路连接有测试机台，所述对所述待测芯片进行常规功能测试，包括：
10、通过手动触发或者响应于pc上位机发送的起始帧信号的方式，开始对所述待测芯片的常规功能测试；
11、在所述常规功能测试的过程中，通过所述测试机台对所述fpga逻辑测试模块和所述时钟pll模块进行状态确认处理；
12、通过所述测试机台对所述待测芯片依次进行连通性o/s测试、上电电流测试、bsd测试、mbist测试、scan测试、rf spi读写测试、电压源供电电流测试以及gpio测试；
13、通过所述测试机台获取所述fpga逻辑测试模块输出的状态信号，并根据所述状态信号进行adc&serdes测试。
14、在一些实施例中，所述电源模块包括电源支持模块和芯片电源支持模块，所述电源支持模块分别与所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片连接，所述芯片电源支持模块与所述待测芯片连接，所述控制所述电源模块对所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片进行上电初始化，包括：
15、通过所述电源支持模块为所述fpga逻辑测试模块供电，以及通过所述电源支持模块与所述芯片电源支持模块共同为所述待测芯片供电。
16、在一些实施例中，所述测试电路还包括pc上位机，所述pc上位机通过uart接口与所述fpga逻辑测试模块连接，所述控制所述fpga逻辑测试模块对得到的测试数据结果进行上传处理之后，所述方法还包括：
17、通过所述pc上位机接收所述fpga逻辑测试模块上传的测试数据结果，并进行测试数据分析，在确定测试数据错误的情况下，控制所述fpga逻辑测试模块再次进行芯片接口测试，以重新获取所述测试数据结果。
18、在一些实施例中，所述待测芯片包括axis芯片，在所述adc&serdes测试之后，所述方法还包括：
19、所述测试机台根据所述fpga逻辑测试模块输出的状态信号，并根据所述状态信号进行相应的axis测试；
20、在所述axis测试之后，测试vdd_core电流，并复位所有relay，配置所有site的spi使芯片进入睡眠模式。
21、在一些实施例中，所述通过自动触发的方式对所述待测芯片进行adc和bp功能测试，包括：
22、通过所述fpga程序触发或者使用vio用户界面触发的方式开始对所述待测芯片的adc和bp功能测试；
23、在所述adc和bp功能的测试过程中，所述fpga逻辑测试模块采用prbs测试协议进行数据链路测试验证，并在链路测试通过的情况下，通过所述高速serdes接口使用真实数据进行adc测试和bp成像测试。
24、第二方面，本申请实施例提供了一种芯片接口测试电路，所述测试电路包括fpga逻辑测试模块、时钟pll模块和电源模块，所述fpga逻辑测试模块的高速serdes接口与待测芯片连接；
25、所述电源模块分别与所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片连接，用于对所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片进行上电初始化；
26、所述时钟pll模块分别与所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片连接，用于对所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片进行时钟初始化；
27、所述fpga逻辑测试模块用于加载fpga程序，根据所述fpga程序对所述待测芯片进行常规功能测试，以及通过自动触发的方式对所述待测芯片进行adc和bp功能测试，并对得到的测试数据结果进行上传处理。
28、在一些实施例中，所述电源模块包电源支持模块和芯片电源支持模块，所述电源支持模块分别与所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片连接，所述芯片电源支持模块与所述待测芯片连接，所述电源支持模块用于为所述fpga逻辑测试模块供电，以及与所述芯片电源支持模块共同为所述待测芯片供电。
29、在一些实施例中，所述测试电路还包括pc上位机，所述pc上位机通过uart接口与所述fpga逻辑测试模块连接，所述pc上位机用于接收所述fpga逻辑测试模块上传的测试数据结果，并进行测试数据分析，在确定测试数据错误的情况下，控制所述fpga逻辑测试模块再次进行芯片接口测试，以重新获取所述测试数据结果。
30、第三方面，本申请实施例提供了一种芯片接口测试系统，所述片接口测试系统设置有如第二方面中任意一项实施例所述的芯片接口测试电路。
31、第四方面，本申请实施例提供了一种控制器，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面中任意一项实施例所述的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片接口测试方法，其特征在于，所述方法应用于芯片接口测试电路，所述测试电路包括FPGA逻辑测试模块、时钟PLL模块和电源模块，所述FPGA逻辑测试模块的高速SERDES接口与待测芯片连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的芯片接口测试方法，其特征在于，所述芯片接口测试电路连接有测试机台，所述对所述待测芯片进行常规功能测试，包括：
3.根据权利要求1所述的芯片接口测试方法，其特征在于，所述电源模块包括电源支持模块和芯片电源支持模块，所述电源支持模块分别与所述FPGA逻辑测试模块和所述待测芯片连接，所述芯片电源支持模块与所述待测芯片连接，所述控制所述电源模块对所述FPGA逻辑测试模块和所述待测芯片进行上电初始化，包括：
4.根据权利要求1所述的芯片接口测试方法，其特征在于，所述测试电路还包括PC上位机，所述PC上位机通过UART接口与所述FPGA逻辑测试模块连接，所述控制所述FPGA逻辑测试模块对得到的测试数据结果进行上传处理之后，所述方法还包括：
5.根据权利要求2所述的芯片接口测试方法，其特征在于，所述待测芯片包括AX
6.根据权利要求1所述的芯片接口测试方法，其特征在于，所述通过自动触发的方式对所述待测芯片进行ADC和BP功能测试，包括：
7.一种芯片接口测试电路，其特征在于，所述测试电路包括FPGA逻辑测试模块、时钟PLL模块和电源模块，所述FPGA逻辑测试模块的高速SERDES接口与待测芯片连接；
8.根据权利要求7所述的芯片接口测试电路，其特征在于，所述电源模块包括电源支持模块和芯片电源支持模块，所述电源支持模块分别与所述FPGA逻辑测试模块和所述待测芯片连接，所述芯片电源支持模块与所述待测芯片连接，所述电源支持模块用于为所述FPGA逻辑测试模块供电，以及与所述芯片电源支持模块共同为所述待测芯片供电。
9.根据权利要求7所述的芯片接口测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括PC上位机，所述PC上位机通过UART接口与所述FPGA逻辑测试模块连接，所述PC上位机用于接收所述FPGA逻辑测试模块上传的测试数据结果，并进行测试数据分析，在确定测试数据错误的情况下，控制所述FPGA逻辑测试模块再次进行芯片接口测试，以重新获取所述测试数据结果。
10.一种芯片接口测试系统，其特征在于，所述芯片接口测试系统设置有如权利要求7至9中任一项所述的芯片接口测试电路。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片接口测试方法，其特征在于，所述方法应用于芯片接口测试电路，所述测试电路包括fpga逻辑测试模块、时钟pll模块和电源模块，所述fpga逻辑测试模块的高速serdes接口与待测芯片连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的芯片接口测试方法，其特征在于，所述芯片接口测试电路连接有测试机台，所述对所述待测芯片进行常规功能测试，包括：
3.根据权利要求1所述的芯片接口测试方法，其特征在于，所述电源模块包括电源支持模块和芯片电源支持模块，所述电源支持模块分别与所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片连接，所述芯片电源支持模块与所述待测芯片连接，所述控制所述电源模块对所述fpga逻辑测试模块和所述待测芯片进行上电初始化，包括：
4.根据权利要求1所述的芯片接口测试方法，其特征在于，所述测试电路还包括pc上位机，所述pc上位机通过uart接口与所述fpga逻辑测试模块连接，所述控制所述fpga逻辑测试模块对得到的测试数据结果进行上传处理之后，所述方法还包括：
5.根据权利要求2所述的芯片接口测试方法，其特征在于，所述待测芯片包括axis芯片，在所述adc&serdes测试之后，所述方法还包括：
6.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：方毅，张慧，罗俊，刘文冬，周春元，高伟，
申请(专利权)人：珠海微度芯创科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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