【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种液相法低温生长3c-碳化硅单晶的方法,属于晶体生长。
技术介绍
1、碳化硅半导体材料具有较大的禁带宽度、抗辐射强度和击穿场强高、化学稳定性和热稳定性好以及饱和电子迁移率高的优良特点,在电动汽车、轨道交通、高压输变电、光伏、5g通信等领域具有重大应用价值。
2、碳化硅目前已知的晶体结构有250多种,其中主要类型有六方体型(如4h-碳化硅、6h-碳化硅)和立方体型(如3c-碳化硅)等。尽管六方体型4h-碳化硅一直以来是被研究的主要对象,但是从材料特性来看,立方体型3c-碳化硅的迁移率和导热性能都优于4h-碳化硅。这些优良的特性表明,3c-碳化硅更适合用于制备高性能电子器件和光子器件。然而,由于3c-碳化硅单晶的制备难度极大,导致目前仍然没有可用于作为衬底的3c-碳化硅块体晶体,这一问题极大限制了3c-碳化硅基器件的发展和应用。
3、目前物理气相传输法(pvt)是生长4h/6h-sic单晶最成熟的方法,其生产的高质量4h/6h-碳化硅已经完全商业化,但是针对立方体型3c-碳化硅单晶生长的技术依然滞后,
...【技术保护点】
1.一种液相法低温生长3C-碳化硅单晶的方法,其特征在于:用于低温生长3C-碳化硅单晶的合金助溶剂为Mn-Ni合金、Mn-Sn合金、Mn-Nd合金、Mn-Al合金、Mn-Cr合金中的一种。
2.根据权利要求1所述的液相法低温生长3C-碳化硅单晶的方法,其特征在于包括如下步骤:
3.根据权利要求1所述的液相法低温生长3C-碳化硅单晶的方法,其特征在于:所述步骤(1)中Si-Mn-M合金各元素所占摩尔分数以Six-Mny-Mz表示,其中30mol%≤x≤65mol%,30mol%≤y≤65mol%,5mol%≤z≤35mol%,且x+y+z=100
<...【技术特征摘要】
1.一种液相法低温生长3c-碳化硅单晶的方法,其特征在于:用于低温生长3c-碳化硅单晶的合金助溶剂为mn-ni合金、mn-sn合金、mn-nd合金、mn-al合金、mn-cr合金中的一种。
2.根据权利要求1所述的液相法低温生长3c-碳化硅单晶的方法,其特征在于包括如下步骤:
3.根据权利要求1所述的液相法低温生长3c-碳化硅单晶的方法,其特征在于:所述步骤(1)中si-mn-m合金各元素所占摩尔分数以six-mny-mz表示,其中30mol%≤x≤65mol%,30mol%≤y≤65mol%,5mol%≤z≤35mol%,且x+y+z=100mol%。
4.根据权利要求1所述的液相法低温生长3c-碳化硅单晶的方法,其特征在于:所述步骤(2)中生长温度为1450...
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