存储器的处理方法及处理装置、存储器制造方法及图纸

技术编号:41236072 阅读:29 留言:0更新日期:2024-05-09 23:50
本公开实施例提供了一种存储器的处理方法及处理装置、存储器,该方法包括:对待测试的存储器中的存储单元进行测试;获取所述存储器中设定的寄存器的使用状态信息;其中,所述寄存器用于存储在所述测试的过程中检测到的失效的存储单元对应的失效地址;基于所述使用状态信息,对所述存储器中失效的存储单元进行修复。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及但不限于半导体,尤其涉及一种存储器的处理方法及处理装置、存储器


技术介绍

1、在对存储器进行封装之前,通常会通过封装前测试对存储器中存在故障的存储单元(即失效的存储单元)进行修复。然而,封装后的存储器中仍然可能存在失效的存储单元。相关技术中,可以通过封装后测试对封装后的存储器中的存储单元进行测试,并通过封装后修复对封装后的存储器中失效的存储单元进行修复。但是,相关技术中的封装后修复方案会对测试的每一存储器均执行修复操作,操作不灵活,且可能导致时间成本的浪费,使得修复成本较高。


技术实现思路

1、本公开提供了一种存储器的处理方法及处理装置、存储器,该存储器的处理方法可以提高对存储器进行修复的灵活性,并且可以减少不必要的修复操作,减少时间的浪费,降低修复成本。

2、本公开的技术方案是这样实现的:

3、本公开实施例提供了一种存储器的处理方法,包括:

4、对待测试的存储器中的存储单元进行测试;

5、获取所述存储器中设定的寄存器的使用状态信息;其中,所述寄存器本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储器的处理方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述使用状态信息表征所述寄存器的当前使用状态,所述当前使用状态包括以下之一:表征所述寄存器中未存储失效地址的第一状态;表征所述寄存器中已存储至少一个失效地址且所述寄存器未溢出的第二状态;表征所述寄存器溢出的第三状态。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述使用状态信息,对所述存储器中失效的存储单元进行修复,包括以下之一:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取所述存储器中设定的寄存器的使用状态信息,包括:

5.根据权利要求4所...

【技术特征摘要】

1.一种存储器的处理方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述使用状态信息表征所述寄存器的当前使用状态,所述当前使用状态包括以下之一:表征所述寄存器中未存储失效地址的第一状态;表征所述寄存器中已存储至少一个失效地址且所述寄存器未溢出的第二状态;表征所述寄存器溢出的第三状态。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述使用状态信息,对所述存储器中失效的存储单元进行修复,包括以下之一:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取所述存储器中设定的寄存器的使用状态信息,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述使用状态信息包括第一状态码和第二状态码,所述第一状态码用于表征所述寄存器中是否已存储失效地址,所述第二状态码用于表征所述寄存器是否溢出;所述寄存器的存储容量为k,所述数量包括n个二进制的计数位,k为正整数,n为k+1对应的二进制编码的位数,n个所述计数位分别与k+1对应的二进制编码中的每一编码位一一对应;

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一状态码为0的情况下表征寄存器中未存储失效地址,所述第一状态码为1的情况下表征寄存器中已存储至少一个失效地址;

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第二状态码为0的情况下表征寄存器溢出,所述第二状态码为1的情况下表征寄存器未溢出;

8.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

9.根据权利要求2至8中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述基于所述使用状态...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴钰焱
申请(专利权)人:长鑫存储技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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