【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试，具体为一种用于集成电路测试机中测试向量的替换方法及系统。
技术介绍
1、在集成电路(ic)生产中，集成电路测试机是确保ic品质的关键设备，集成电路测试机通过应用测试向量到ic管脚，检测其功能和性能的完整性，测试向量是一系列逻辑1和逻辑0的数据，用于每个时钟周期的测试或操作，然而，随着ic集成度的增加，测试向量的复杂度也在不断增长，这对集成电路测试机的存储和处理能力提出了更高的要求，现有技术中，一种常见的方法是将重复的测试向量压缩成一行，以节省存储空间和减少加载时间，但这种方法在测试向量中的某一位或多位需要变化时就变得不再适用，在这种情况下，必须编写和存储更复杂的测试向量，这不仅增加了存储空间的消耗，也延长了向量的加载和编写时间，这些限制导致了集成电路测试效率的降低和成本的增加，目前现有技术或专利中已经提到了测试向量的存储方法，但是方法过于局限，现有技术对向量进行循环或重复的指令，但是该指令仅限于重复行或循环行的向量不能改变，如果其中某一位需要变化时该种方法便不再适用。
2、针对现有技术的不足，本专利技术将...
【技术保护点】
1.一种用于集成电路测试机中测试向量的替换方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法，其特征在于：所述将测试向量和替换数据A存储到DDR中包括将测试向量存储到DDR，测试向量的编码方式为低128比特为编码向量数据，每个通道的编码向量数据为4比特，共32个通道，组成128比特的向量数据；
3.如权利要求2所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法，其特征在于：所述载入通道配置信息和替换长度信息包括替换通道配置信号和替换长度信号通过上位机软件直接下发；
4.如权利要求3所述的用于集成电路测试...
【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试机中测试向量的替换方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法，其特征在于：所述将测试向量和替换数据a存储到ddr中包括将测试向量存储到ddr，测试向量的编码方式为低128比特为编码向量数据，每个通道的编码向量数据为4比特，共32个通道，组成128比特的向量数据；
3.如权利要求2所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法，其特征在于：所述载入通道配置信息和替换长度信息包括替换通道配置信号和替换长度信号通过上位机软件直接下发；
4.如权利要求3所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法，其特征在于：所述构建替换数据有效率评估模型包括通过构建替换数据有效率评估模型分析替换数据有效情况，构建替换数据有效率评估模型表示为：
5.如权利要求4所述的用于集成电路测试机中测试向量的替换方法，其特征在于：所述将替换数据b存储到ram中包括将有效的替换数据a进行预处理获取替换数据b，并将替换数据b存储到ram中，从ddr读取替换数据a，基于通道配置信息和替换长度信息，将单个32比特替换数据a转化为32比特的替换数据b，将转化后的替换数据b存储到ram中，替换...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨畅，张灿，万以强，何栋梁，
申请(专利权)人：南京博芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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