【技术实现步骤摘要】
本申请涉及质量检测，例如涉及一种光学检测装置、光学检测方法、用于光学检测的装置。
技术介绍
1、传统的质量检测方法是通过人眼进行观察，通过经验进行判断，这种方式效率低且检测结果受主观意识的影响，所以准确率不高。
2、现有的检测方式是aoi自动光学检测，这种方式取代了人眼观测，检测结果不受主观意识影响，准确率更高，且设备为全自动，效率高。然而，现有的aoi检测设备照明方式较为单一，照明光源不具备多样性，在遇到需要调整照明光源种类时，更换较为麻烦，无法满足一些场景的照明需求，例如在检测产品表面划伤、破损，崩边等缺陷时需要明场照明，而在检测物品表面细小灰尘等异物时需要暗场照明。
3、目前检测时采用的照明方法无法实现多样化且照明需求较高的场景，故而本公开通过设计一种照片方式多样化的光学检测装置，以解决目前检测设备的问题，提高生产效率，提高生产产能。
4、需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
1、为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。
2、本公开实施例提供一种光学检测装置、光学检测方法、用于光学检测的装置，以便于进行光源切换，满足多场景的照明需求，从而提高生产效率，提高生产产能。
3、在一
4、可选的，第一支撑部包括支撑架和位移台，支撑架包括支架立柱和支架横梁，支架横梁与支架立柱的顶部连接；位移台安装在支架横梁上，位移台与成像设备连接，位移台用于带动成像设备移动。
5、可选的，照明部还包括位移底座、透射光源和物理可变光圈，位移底座位于样品检测台下方；透射光源位于样品下方，安装在位移底座上；物理可变光圈位于透射光源和样品之间，安装在位移底座上；样品检测台的中部设置有透明承载区，样品放在透明承载区内，透射光源通过透明承载区对样品进行透射。
6、可选的，第二支撑部包括光源升降支架，旋转台可升降安装在光源升降支架上，光源升降支架用于带动照射光源升降。
7、可选的，照射光源包括同轴光源和环形光源，同轴光源与环形光源在光源支撑臂上以旋转台为轴呈中心对称分布。
8、在一些实施例中，光学检测方法使用前述的光学检测装置，光学检测方法包括：
9、调试光学检测装置，使多个所需光源对应的光线照射位置、图像曝光度、成像图像清晰度均处于合适范围；
10、分别记录并保存多个所需光源完成调试时的位置参数，位置参数包括光源位置、位移台移动参数、光圈参数、曝光参数；
11、根据所需光源和所需光源对应的参数，控制成像部和照明部动作；
12、成像设备对所需光源下的样品分别进行图像采集，并储存图像为检测图像；
13、读取和处理检测图像，并将最终缺陷检测结果输出。
14、可选的，调试光学检测装置，包括：
15、在调试照射光源时，调控旋转台，使所需照射光源发射出的光线照射在样品检测台上；
16、打开成像平台，调节曝光参数直至图像曝光合适；
17、在成像清晰度低时，通过调控位移台，改变成像设备和样品检测台之间的距离，直至图像清晰；
18、在当前照明光源调试完成后，通过调控旋转台，调试其他所需照明光源，直至多个所需照明光源对应的光线照射位置、图像曝光度、成像图像清晰度均处于合适范围。
19、可选的，调试光学检测装置，还包括：
20、在调试透射光源时，打开透视光源，关闭其他光源，使透射光源发出的光线照射在样品检测台上；
21、打开成像平台，调节物理可变光圈与曝光参数直至图像曝光合适；
22、在成像清晰度低时，通过调控位移台，改变成像设备和样品检测台之间的距离，直至图像清晰。
23、可选的，在储存检测图像时，根据对应光源信息，标记图像。
24、在一些实施例中，所述用于光学检测的装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，处理器被配置为在运行程序指令时，执行前述的光学检测方法。
25、本公开实施例提供的光学检测装置、光学检测方法、用于光学检测的装置，可以实现以下技术效果：
26、本公开可以支持照明方式多样化的aoi光学检测装置，通过调节旋转台切换可以更换照明光源，适用性强，在图像采集过程中通过切换光源，既可通过明场照明筛选出表面缺陷，又可通过暗场照明排除灰尘等杂物对检测的干扰，使用本公开的光学检测装置，自动化程度更高，提高了检测效率。
27、以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种光学检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述光学检测装置，其特征在于，所述第一支撑部包括：
3.根据权利要求1所述光学检测装置，其特征在于，所述照明部还包括：
4.根据权利要求1、2或3所述光学检测装置，其特征在于，所述第二支撑部包括：
5.根据权利要求1所述光学检测装置，其特征在于，
6.一种光学检测方法，其特征在于，使用如权利要求1至5任一项所述的光学检测装置，所述光学检测方法包括：
7.根据权利要求6所述光学检测方法，其特征在于，所述调试光学检测装置，包括：
8.根据权利要求7所述光学检测方法，其特征在于，所述调试光学检测装置，还包括：
9.根据权利要求6所述光学检测方法，其特征在于，
10.一种用于光学检测的装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，其特征在于，所述处理器被配置为在运行所述程序指令时，执行如权利要求6至9任一项所述的光学检测方法。
【技术特征摘要】
1.一种光学检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述光学检测装置，其特征在于，所述第一支撑部包括：
3.根据权利要求1所述光学检测装置，其特征在于，所述照明部还包括：
4.根据权利要求1、2或3所述光学检测装置，其特征在于，所述第二支撑部包括：
5.根据权利要求1所述光学检测装置，其特征在于，
6.一种光学检测方法，其特征在于，使用如权利要求1至5任一项所述的光学检测装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭德银，龚海，高涵，刘进，陈飞跃，李青岩，陈俊秀，
申请(专利权)人：浙江大学湖州研究院，
类型：发明
国别省市：
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