【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及磁共振技术，特别涉及一种磁共振系统中的附加磁场检测方法和装置。
技术介绍
在磁共振系统中，由梯度脉冲所引起的磁场会附加在主磁场上，并衰减足够长的 时间，因此，可将这种由梯度脉冲所引起的磁场称为附加磁场。附加磁场的存在会对磁共振 系统中采集到的图像的图像质量造成严重影响，因此，希望能够检测出附加磁场的变化情 况，以便根据其变化情况对所采集的图像进行调整，以得到质量更好的图像，但现有技术中 还没有一种有效的附加磁场检测技术，来有效地检测出附加磁场的变化情况。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的主要目的在于提供一种附加磁场检测方法，能够有效地检测 出附加磁场的变化情况。本专利技术的另一目的在于提供一种附加磁场检测装置，能够有效地检测出附加磁场 的变化情况。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的一种附加磁场检测方法，包括生成被测梯度脉冲，并在所述被测梯度脉冲结束后，获取两个自由感应衰减信号； 其中，第一个自由感应衰减信号同时受到主磁场和附加磁场的影响，第二个自由感应衰减 信号只受到主磁场的影响；通过分析两个自由感应衰减信号的相位差，确定附加磁场的变化情况。其中，所述获取两个自由感应衰减信号包括施加两个射频脉冲；在每个射频脉冲结束后，分别采集得到一个自由感应衰减信号。较佳地，所述采集得到自由感应衰减信号包括利用模数转换器采集得到自由感 应衰减信号。较佳地，所述通过分析两个自由感应衰减信号的相位差，确定附加磁场的变化情 况包括利用所述第一个自由感应衰减信号的相位计算得到由主磁场和附加磁场所组成 的混合磁场的变化情况；利用所述第二个自由感应衰减信...
【技术保护点】
一种附加磁场检测方法，该方法包括：生成被测梯度脉冲，并在所述被测梯度脉冲结束后，获取两个自由感应衰减信号；其中，第一个自由感应衰减信号同时受到主磁场和附加磁场的影响，第二个自由感应衰减信号只受到主磁场的影响；通过分析两个自由感应衰减信号的相位差，确定附加磁场的变化情况。
【技术特征摘要】
一种附加磁场检测方法，该方法包括生成被测梯度脉冲，并在所述被测梯度脉冲结束后，获取两个自由感应衰减信号；其中，第一个自由感应衰减信号同时受到主磁场和附加磁场的影响，第二个自由感应衰减信号只受到主磁场的影响；通过分析两个自由感应衰减信号的相位差，确定附加磁场的变化情况。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取两个自由感应衰减信号包括 施加两个射频脉冲；在每个射频脉冲结束后，分别采集得到一个自由感应衰减信号。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，利用模数转换器采集自由感应衰减信号。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过分析两个自由感应衰减信号的 相位差，确定附加磁场的变化情况包括利用所述第一个自由感应衰减信号的相位计算得到由主磁场和附加磁场所组成的混 合磁场的变化情况；利用所述第二个自由感应衰减信号的相位计算得到主磁场的变化情况； 通过比较所述混合磁场的变换情况以及所述主磁场的变化情况，确定所述附加磁场的 变化情况。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，利用以下公式计算得到混合磁场的变化情况Bm(t)=·^;其中，所述v、表示所述2ττγφ 丨(t)第一个自由感应衰减信号的相位的一阶导数，所述Y表示氢质子的磁旋比，所述Bm (t)表 示混合磁场的变化情况；利用以下公式计算得到主磁场的变化情况-B^t)=·^^;其中，所述表示所述第2πγφ2 (t)二个自由感应衰减信号的相位的一阶导数，所述Y表示氢质子的磁旋比；所述BtlU)表示 主磁场的变化情况。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述φ/Ct^ncp2(t)通过数字微分计算得 到；其中，12h3h(φ2(^)-φ2( +2Η))+^(φ2( +Η)-φ2(1-Η))； 12h3h所述h表示...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴勇鸣，贺强，
申请(专利权)人：西门子迈迪特深圳磁共振有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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