【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光压力测量，具体涉及一种用于测量光压力的传感器及测量系统。
技术介绍
1、光压力测量系统是一套针对卫星典型表面材料开展表面典型材料光压力系数测量和光压摄动力直接测量验证的试验系统，通过精确测量表面材料的光压力获取典型参数，来保证地面定轨摄动力建模时的光压摄动建模精度，以期满足载荷在轨后短期内的定轨应用需求。
2、在测量过程中，被测件的重力与需要测量的推力共同作用于被测件上，为了消除重力对推力测量造成的影响，需要采用解耦装置将重力从推力中解耦出来。现有的解耦装置包括底座；悬挂梁，设置在底座上；至少一个悬索，一端与悬挂梁相连，另一端适于与被测试件相连，悬索能够将被测试件悬空吊起以使被测试件的一面能够朝向光源、另一面能够贴合测力传感器的传力部件。但是，在使用时，由于被测试件处于悬空状态容易发生晃动，导致被测试件会对传感器的传力部件施加平行于被测试件的平面方向的侧向力，从而引起测试误差，最终影响测试精度。
技术实现思路
1、因此，本专利技术要解决的技术问题在于被测试件会对传感器的传力部件施加平行于被测试件的平面方向的侧向力，从而引起测试误差，最终影响测试精度，从而提供一种用于测量光压力的传感器及测量系统。
2、为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案如下：
3、一方面，本专利技术提供一种用于测量光压力的传感器，至少包括：敏感单元；传力部件，所述传力部件的连接部与所述敏感单元活动连接，所述传力部件的工作部适于与被测试件相抵；其中，所述传力部件
4、进一步地，所述敏感单元上设置有第一安装孔，所述连接部与所述第一安装孔螺纹连接且所述连接部与所述第一安装孔之间形成间隙配合。
5、进一步地，所述敏感单元包括弹性板与应变计；所述应变计设置在所述弹性板的工作面上；所述第一安装孔设置在所述工作面上，被测试件受到的光压力通过所述传力部件传递至所述弹性板以使所述弹性板发生形变，所述应变计根据所述弹性板的形变获取到该光压力的值。
6、进一步地，所述应变计为单晶硅半导体应变计。
7、进一步地，所述弹性板的内部形成有空腔，所述空腔适配于所述应变计的位置设置，以使所述应变计与所述空腔之间的弹性板的厚度小于所述弹性板上未设置应变计的其余位置的厚度。
8、进一步地，所述工作部远离所述连接部的一端具有半球型的圆顶。
9、进一步地，该用于测量光压力的传感器还包括基板，所述基板上并列设置有两个所述敏感单元，两个所述敏感单元中择一通过所述传力部件与被测试件相连。
10、进一步地，该用于测量光压力的传感器还包括升降支架，与所述基板相连，以通过所述升降支架调节所述基板的高度。
11、另一方面，本专利技术还提供一种测量系统，包括上述任一项所述的用于测量光压力的传感器，还包括：解耦装置；被测试件，呈板状结构，所述被测试件悬空吊在所述解耦装置上，所述被测试件处于自然下垂状态时所述被测试件背对光源的一面与所述传力部件相互接触，且所述传力部件与所述被测试件的接触点重合于所述被测试件的中心点。
12、本专利技术技术方案，具有如下优点：
13、本专利技术提供的用于测量光压力的传感器，传力部件除了可以将被测试件受到的光压力传递至敏感单元之外，还可以在被测试件相对于传力部件发生侧向移动时跟随被测试件同步移动，从而使被测试件与传力部件的接触点位置自行调整，避免被测试件对传力部件施加侧向力，不会引起测试误差，有利于提高测试精度。
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1.一种用于测量光压力的传感器，其特征在于，至少包括：
2.根据权利要求1所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
5.根据权利要求3所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
6.根据权利要求1所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
7.根据权利要求1所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
8.根据权利要求7所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
9.一种测量系统，其特征在于，包括权利要求1至8中任一项所述的用于测量光压力的传感器，还包括：
【技术特征摘要】
1.一种用于测量光压力的传感器，其特征在于，至少包括：
2.根据权利要求1所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的用于测量光压力的传感器，其特征在于，
5.根据权利要求3所述的用于测量光压力的传感器，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：邵明学，周真，黄靖宇，
申请(专利权)人：中国科学院电工研究所，
类型：发明
国别省市：
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