盘片测试方法、装置及系统制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种盘片测试方法、装置及系统，属于固态硬盘(SSD)技术领域。其中方法包括：通过一台控制机对接多台测试机；所述控制机根据测试需求修改配置文件模板的参数，得到多个不同测试配置文件，将各所述测试配置文件发至各所述测试机；各所述测试机分别根据各所述测试配置文件的参数，批量测试多个盘片，得到各个所述盘片的测试数据。本申请提供的盘片测试方法，提升代码通用性的同时，也提升了盘片测试部署的效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及固态硬盘(ssd)，尤其涉及一种盘片测试方法、装置及系统。

技术介绍

1、jesd219a测试是一套标定与验证固态硬盘写入寿命的标准。该标准由jedec(固态技术协会)制定，旨在确保固态硬盘的可靠性和性能，目前主要使用sanblaze dt4(sanblaze dt4 cortex-m4 microcontroller development kit)进行jesd219a测试，但存在批量部署成本高、缺少检查smart(self-monitoring,analysis,and reportingtechnology，自我监测、分析和报告技术)等功能，需要进行人工检查的问题。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种盘片测试方法、装置及系统。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种盘片测试方法，所述方法包括：

3、通过一台控制机对接多台测试机；

4、所述控制机根据测试需求修改配置文件模板的参数，得到多个不同测试配置文件，将各所述测试配置文件发送至各本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种盘片测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的盘片测试方法，其特征在于，所述配置文件模板的参数包括：盘片型号、NAND写入量、SMART信息检查标准、IP地址和自定义命令行；

3.根据权利要求2所述的盘片测试方法，其特征在于，所述各所述测试机分别根据各所述测试配置文件的参数，批量测试多个盘片，还包括：

4.根据权利要求2所述的盘片测试方法，其特征在于，所述NAND写入量的参数包括：日志页面偏移、日志页面长度；

5.根据权利要求2所述的盘片测试方法，其特征在于，所述将各所述测试配置文件发至各所述测试机之前，还包括：...

【技术特征摘要】

1.一种盘片测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的盘片测试方法，其特征在于，所述配置文件模板的参数包括：盘片型号、nand写入量、smart信息检查标准、ip地址和自定义命令行；

3.根据权利要求2所述的盘片测试方法，其特征在于，所述各所述测试机分别根据各所述测试配置文件的参数，批量测试多个盘片，还包括：

4.根据权利要求2所述的盘片测试方法，其特征在于，所述nand写入量的参数包括：日志页面偏移、日志页面长度；

5.根据权利要求2所述的盘片测试方法，其特征在于，所述将各所述测试配置文件发至各所述测试机之前，还包括：所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘敏赟，
申请(专利权)人：成都芯盛集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：