【技术实现步骤摘要】
本公开的实施例大体上涉及存储器子系统，且更明确来说，涉及循序写入的存储器装置中的运行时间存储容量减小避免。
技术介绍
1、存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可为例如非易失性存储器装置及易失性存储器装置。一般来说，主机系统可利用存储器子系统来将数据存储在存储器装置处及从所述存储器装置检索数据。
技术实现思路
1、本公开的一方面涉及一种系统，其包括：存储器装置，其包括多个块，其中所述多个块的第一子集经配置为单电平单元(slc)存储器，且所述多个块的第二子集经配置为多电平单元(mlc)存储器；及处理装置，其可操作地耦合到所述存储器装置，所述处理装置用以执行包括以下项的操作：确定所述第一子集的一组块中的第一块是坏块；将所述一组块中的第二块转换成所述第二子集的所述mlc存储器，其中所述第二块定位于所述存储器装置的与所述第一块的平面相邻的平面中；及将所述第二块的媒体耐久性度量值从slc型转换成mlc型。
2、本公开的另一方面涉及一种方法，其包括：由处理装置存取包括多...
【技术保护点】
1.一种系统，其包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其中所述确定及所述转换在引导所述存储器装置处的编程或擦除操作时在运行时间期间执行。
3.根据权利要求1所述的系统，其中转换所述媒体耐久性度量值包括随时间推移跟踪所述媒体耐久性度量值作为编程/擦除循环PEC值。
4.根据权利要求3所述的系统，其中转换所述媒体耐久性度量值包括使用MLC转换因子将所述第二块的PEC值从SLC型PEC转换成MLC型PEC。
5.根据权利要求1所述的系统，其中将所述第二块转换成MLC存储器包括使得对所述第二块执行MLC擦除操作。
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【技术特征摘要】
1.一种系统，其包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其中所述确定及所述转换在引导所述存储器装置处的编程或擦除操作时在运行时间期间执行。
3.根据权利要求1所述的系统，其中转换所述媒体耐久性度量值包括随时间推移跟踪所述媒体耐久性度量值作为编程/擦除循环pec值。
4.根据权利要求3所述的系统，其中转换所述媒体耐久性度量值包括使用mlc转换因子将所述第二块的pec值从slc型pec转换成mlc型pec。
5.根据权利要求1所述的系统，其中将所述第二块转换成mlc存储器包括使得对所述第二块执行mlc擦除操作。
6.根据权利要求1所述的系统，其中确定所述第一块是坏块包括确定所述第一块是生长坏块或制造坏块中的一者。
7.根据权利要求1所述的系统，其中所述确定进一步包括确定所述第二块不是坏块。
8.根据权利要求1所述的系统，其中所述第二块是经转换mlc块，且所述操作进一步包括：
9.一种方法，其包括：
10.根据权利要求9所述的方法，其中所述确定及所述转换在引导在所述存储器装置处执行编程或擦除操作时在运行时间期间执行。
11.根据权利要求9所述的方法，其进一步包括随时间推移跟踪所述媒体耐久性度量值作为编程/擦除循环pec值。
【专利技术属性】
技术研发人员：V·V·K·拉克希米，V·贾纳塔纳姆，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：
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