【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光腔衰荡，具体涉及一种由光强信号引导衰荡腔腔损耗扫描寻优的方法。
技术介绍
1、衰荡腔的腔损耗是光腔衰荡技术的重要观测指标，腔损耗观测精度和观测准确度对于光腔衰荡技术具有极其重要的意义。典型衰荡腔由高反射率腔镜构成，由于腔镜反射率的真值理论上无法预知，因此腔损耗真值也是无法预知的。研究表明，腔损耗观测值与衰荡腔自身腔参数失调状态密切相关。衰荡腔腔参数包括腔长、腔镜位置失调量和腔镜角度失调量。近年来，针对腔损耗真值获取问题，先后发展了一系列技术，包括改变腔长多次测量，腔损耗扫描寻优和光场多参量融合反馈调腔等。以上研究结果表明，根据腔损耗观测值与腔失调参数之间的数理关系进行建模并获取腔损耗真值是一种行之有效的技术手段。但在目前的技术手段中，完成腔损耗观测值与腔失调参数的建模依赖于数据样本采集。在数据样本采集过程中，需要首先明确的问题是确定有效样本的扫描范围。而扫描范围的确定目前均依赖腔透射光斑形态监测，以透射光斑保持基横模状态确定扫描范围，而腔损耗获取则依赖于腔透射光强信号的监测和记录。这意味着目前光腔衰荡系统实现腔损耗扫描寻...
【技术保护点】
1.一种由光强信号引导衰荡腔腔损耗扫描寻优的方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种由光强信号引导衰荡腔腔损耗扫描寻优的方法，其特征在于：所述窄线宽连续波半导体激光器的输出线宽≤0.5nm。
3.根据权利要求1所述的一种由光强信号引导衰荡腔腔损耗扫描寻优的方法，其特征在于：所述调腔评价准则为腔透射信号光强、腔透射光斑形态、腔透射信号包络线及腔透射光束相位中的一种或多种。
【技术特征摘要】
1.一种由光强信号引导衰荡腔腔损耗扫描寻优的方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种由光强信号引导衰荡腔腔损耗扫描寻优的方法，其特征在于：所述窄线宽连续波半导体激光器的输出线宽...
【专利技术属性】
技术研发人员：何星，王帅，杨平，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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