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本发明公开了一种由光强信号引导衰荡腔腔损耗扫描寻优的方法，利用窄线宽连续波半导体激光器与衰荡腔的耦合特性，通过监测衰荡腔透射信号的变化情况判断衰荡腔腔损耗扫描寻优的边界状态。基于此方式，仅由光强信号即可完成衰荡腔腔损耗扫描寻优，不需借助其它...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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