System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种柱状电子元件表面检测装置及使用方法制造方法及图纸_技高网

一种柱状电子元件表面检测装置及使用方法制造方法及图纸

技术编号:41136250 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-30 18:07
本发明专利技术属于电子元件表面检测装置技术领域,具体涉及一种柱状电子元件表面检测装置及使用方法。本发明专利技术包括机架、安装在机架上的上料机构、与上料机构的输出端连通的双平台极面检测机构以及与双平台极面检测机构的合格品输出端连接的侧面检测机构。本发明专利技术采用双平台极面检测机构分别对柱状电子元件的两个极面进行检测,且采用特殊设计的管式翻面组件对柱状电子元件进行第一极面和第二极面的翻转,能够实现对柱状电子元件的两个极面的完全翻转,摒弃传统的通过不同高度的导轨以及对料槽的宽度、挡板的位置等进行特殊设定改变柱状电子元件的姿态的检测方式,同时本发明专利技术设置有侧面检测机构,保证柱状电子元器件的检测面检测完全性和检测准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电子元件表面检测装置,具体涉及一种柱状电子元件表面检测装置及使用方法


技术介绍

1、柱状电子元件得益于其低廉的成本和较小的体积而在空间受限的场合下得到了广泛的应用,如手机、计算机、家电、通讯、汽车、医疗等。不过受制于生产条件和外在环境,柱状电子元件在制造过程中往往会出现尺寸偏差和表面缺陷等问题。因此,在制造过程中必须对柱状电子元件进行表面检测,此外,随着各行各业对柱状电子元件的需求量越来越大,如何提高柱状电子元件检测效率和精度便成了业内探索的方向。

2、目前市面上出现的表面检测装置在对柱状电子元件进行检测时,通过多种不同高度的导轨以及对料槽的宽度、挡板的位置等进行特殊设定改变柱状电子元件的姿态,从而实现柱状电子元件不同表面的检测,如专利cn111659625a,因柱状电子元件较小,采用此种姿态变换的方式,无法精确的确定电子元件是否进行了姿态变换,进而无法保证每个面都进行了相应的检测,较多的次品混入到合格产品中,使得检测的准确率不高。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是克服现有技术中存在的对于柱状电子元件的检测面不完全、检测准确率不高的缺陷,提供了一种能够对元件进行顶面、侧面以及底面全范围表面检测的柱状电子元件表面检测装置及使用方法。

2、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:

3、作为第一个方面,一种柱状电子元件表面检测装置,包括机架、安装在所述机架上的上料机构、与所述上料机构的输出端连通的双平台极面检测机构以及与所述双平台极面检测机构的合格品输出端连接的侧面检测机构;其中,

4、所述双平台极面检测机构包括:

5、两组极面检测组件,两所述极面检测组件中的左极面检测组件与所述上料机构连接,用于对电气元件的一个极面进行检测,两所述极面检测组件中的右极面检测组件与所述侧面检测机构连接,用于对电气元件的另一个极面检测;

6、管式翻面组件,安装在两所述极面检测组件之间,用于将柱状电子元件进行极面的翻转。

7、具体地,所述极面检测组件包括:

8、固定安装在所述机架上的的承载架、固定安装在所述承载架上的检测电机和检测支架;

9、检测平台,安装在所述检测支架的内侧,且与所述检测电机的输出轴同轴设置;

10、若干检测孔,开设在所述检测平台的边缘;

11、剔除工位,设置在所述检测支架上,与所述检测孔连通;

12、气动剔除喷嘴,安装在所述承载架上,所述气动剔除喷嘴的喷射方向朝向所述剔除工位;

13、上检测模块,设置在所述承载架上,用于对若干所述检测孔上的电气元件进行极面检测。

14、具体地,所述管式翻面组件包括:安装在左极面检测组件对应的所述承载架上的气动翻面管和与所述气动翻面管气路连通的翻面指引管;其中,

15、所述气动翻面管的输出端位于所述左极面检测组件对应的所述检测孔的下方;所述翻面指引管靠近所述气动翻面管的一端与所述左极面检测组件对应的所述检测孔对应,所述翻面指引管远离所述气动翻面管的一端与所述右极面检测组件对应的所述检测孔对应。

16、具体地,所述翻面指引管的直径dz只允许柱状电子元件轴向单个通过;所述翻面指引管直径dz与电机元件的关系为:

17、

18、其中,d0为待检测柱状电气元件的直径,h0为待检测柱状电气元件的高度。

19、所述检测孔直径dk大于柱状电气元件直径d0。

20、具体地,所述侧面检测机构包括:

21、沿z轴方向开设有滑落孔的倒l型侧检支架,所述倒l型侧检支架固定安装在所述机架上;

22、转移位,开设在所述右极面检测组件中的所述检测平台上,与所述滑落孔连通;

23、储存槽,沿x轴方向开设在所述倒l型侧检机架上,所述储存槽的入口与所述滑落孔连通;

24、吸取旋转组件,安装在所述机架上,用于吸取所述储存槽内的电子元件,并带动电子元件旋转;

25、侧检模块,安装在所述机架上,用于对所述吸取旋转组件吸取上来的电子元件进行侧面检测。

26、具体地,所述倒l型侧检支架的顶部设置有推动组件,所述推动组件包括通过安装架固定安装在所述机架上的推动气缸和与所述推动气缸的输出轴同轴设置的推动头;其中,

27、所述推动头穿过所述倒l型侧检支架延伸到所述滑落孔内,所述推动头一次推动一个柱状电子元件从滑落孔末端进入到所述储存槽内。

28、具体地,所述吸取旋转组件包括:

29、第一z轴气缸,安装在靠近所述储存槽入口对应的机架上;

30、对称设置的两吸盘固定板,两所述吸盘固定板通过摩擦轮夹设若干吸取吸盘;其中,若干所述吸取吸盘与所述摩擦轮一一对应,且两相邻的所述摩擦轮摩擦传动;

31、旋转电机,安装在所述吸盘固定板上,与一个所述摩擦轮同轴设置。

32、具体地,还包括用于将合格品转运到打包设备上的合格品转运机构,所述合格品转运机构包括沿y轴设置的合格品传送组件,将所述侧面检测机构检测过的柱状电子元件吸取回转到所述合格品传送组件上的回转组件;其中,

33、所述回转组件包括:

34、回转导轨,沿x轴方向固定安装在所述机架上;

35、第二z轴气缸,通过滑块与所述回转导轨滑动设置;

36、第一回转架,固定安装在所述第二z轴气缸的输出端,通过回转电机与所述第一回转架转动安装的第二回转架;

37、若干回转吸盘,沿x轴方向安装在所述第二回转架上,用于吸取侧面检测合格的柱状电子元件。

38、具体地,还包括设置在所述机架上的次品移出组件,所述次品移出组件包括沿y轴设置在所述机架上的移出腔和安装在所述移出腔内的移出传送带组件;其中,

39、所述左极面检测组件、右极面检测组件以及所述侧面检测组件均通过导出滑道与所述移出腔连通。

40、作为第二个方面,一种柱状电子元件表面检测装置的使用方法,包括以下步骤:

41、s1.待检测柱状电子元件的上料,即启动所述上料机构,将振动盘内的待检测的柱状电子元件输送到左极面检测组件对应的检测孔中;

42、s2.对柱状电子元件进行第一极面的检测,即通过左极面检测组件对应的检测孔上的柱状电子元件进行第一极面的检测;

43、s3.将第一极面检测合格后的柱状电子元件进行极面的翻转,即通过所述管式翻面组件将第一极面检测合格的柱状电子元件输送到所述右极面检测组件对应的检测孔上;

44、s4.对柱状电子元件进行第二极面的检测,即通过右极面检测组件对应的检测孔上的柱状电子元件进行第二极面的检测;

45、s5.对第二极面检测合格的柱状电子元件进行侧面检测,即第二极面检测合格的柱状电子元件进入到侧面检测机构进行侧面检测;

46、s6.对侧面不合格产品进行剔除;

47、s7.将合格产本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,包括机架(1)、安装在所述机架(1)上的上料机构(2)、与所述上料机构(2)的输出端连通的双平台极面检测机构以及与所述双平台极面检测机构的合格品输出端连接的侧面检测机构(5);其中,

2.根据权利要求1所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述极面检测组件(3)包括:

3.根据权利要求2所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述管式翻面组件(4)包括:安装在左极面检测组件(3a)对应的所述承载架(31)上的气动翻面管(41)和与所述气动翻面管(41)气路连通的翻面指引管(42);其中,

4.根据权利要求3所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述翻面指引管(42)的直径DZ只允许柱状电子元件轴向单个通过;所述翻面指引管(42)直径DZ与柱状电机元件的关系为:

5.根据权利要求1所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述侧面检测机构(5)包括:

6.根据权利要求5所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述倒L型侧检支架(51)的顶部设置有推动组件(6),所述推动组件(6)包括通过安装架固定安装在所述机架(1)上的推动气缸(61)和与所述推动气缸(61)的输出轴同轴设置的推动头(62);其中,

7.根据权利要求5所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述吸取旋转组件(54)包括:

8.根据权利要求5所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,还包括用于将合格品转运到打包设备上的合格品转运机构(7),所述合格品转运机构(7)包括沿Y轴设置的合格品传送组件(71),将所述侧面检测机构(5)检测过的电子元件吸取回转到所述合格品传送组件(71)上的回转组件(72);其中,

9.根据权利要求1所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,还包括设置在所述机架(1)上的次品移出组件(8),所述次品移出组件(8)包括沿Y轴设置在所述机架(1)上的移出腔(81)和安装在所述移出腔(81)内的移出传送带组件(82);其中,

10.根据权利要求1-9任一项所述的一种柱状电子元件表面检测装置的使用方法,其特征在于,包括以下步骤:

...

【技术特征摘要】

1.一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,包括机架(1)、安装在所述机架(1)上的上料机构(2)、与所述上料机构(2)的输出端连通的双平台极面检测机构以及与所述双平台极面检测机构的合格品输出端连接的侧面检测机构(5);其中,

2.根据权利要求1所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述极面检测组件(3)包括:

3.根据权利要求2所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述管式翻面组件(4)包括:安装在左极面检测组件(3a)对应的所述承载架(31)上的气动翻面管(41)和与所述气动翻面管(41)气路连通的翻面指引管(42);其中,

4.根据权利要求3所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述翻面指引管(42)的直径dz只允许柱状电子元件轴向单个通过;所述翻面指引管(42)直径dz与柱状电机元件的关系为:

5.根据权利要求1所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述侧面检测机构(5)包括:

6.根据权利要求5所述的一种柱状电子元件表面检测装置,其特征在于,所述倒l型...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈晓华张广才王占山汪阳龚建平李贵霞
申请(专利权)人:苏州工业职业技术学院
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1