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本发明属于电子元件表面检测装置技术领域，具体涉及一种柱状电子元件表面检测装置及使用方法。本发明包括机架、安装在机架上的上料机构、与上料机构的输出端连通的双平台极面检测机构以及与双平台极面检测机构的合格品输出端连接的侧面检测机构。本发明采用双...
该专利属于苏州工业职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过苏州工业职业技术学院授权不得商用。

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