一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备制造技术

技术编号：41135133 阅读：2 留言：0更新日期：2024-04-30 18:06

本发明专利技术涉及碳化硅芯片技术领域，具体公开了一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，包括：机体；抗辐照仓门，所述抗辐照仓门铰接在机体的外部；辐照装置，所述辐照装置设置在机体的内侧壁上；触点机构，所述触点机构设置在机体的内部；本发明专利技术通过设置的安装板、拉伸座、放置板座和拉伸簧使得通过滑动板与拉伸簧之间的弹性伸缩及滑动机构的设置能够增加滑动板在进行滑动伸缩时的稳定性，进而碳化硅芯片在通过抵合板的抵合夹持，能够对其进行固定夹持操作，随后对限位座的拉伸转动操作，对触点探针能够在待测碳化硅芯片的电机区进行快速通电连接，进而有效增加对碳化硅芯片的快速抗辐照测试操作。

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【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于碳化硅芯片，具体涉及一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备。

技术介绍

1、碳化硅又名碳硅石、金钢砂、耐火砂，是用石英砂、石油焦、木屑为原料通过电阻炉高温冶炼而成的一种耐火材料，是硅与碳元素以共价键结合的非金属碳化物，碳化硅可用于制作芯片，碳化硅芯片板在进行测试时需要进行抗辐照测试操作。

2、在公开号为cn219512297u的中国专利中，提到了一种叠层式功率芯片抗辐照测试夹持装置，包括支撑基板、芯片漏极导电板、芯片卡位板及探针板，支撑基板的上部设有定位柱和接线端子，支撑基板上设有呈贯穿的第一通孔；芯片漏极导电板上设有第一焊盘，芯片漏极导电板上还设有第二通孔，芯片漏极导电板在第二通孔的周围设有导电件，导电件与至少一个第一焊盘电性连接；芯片卡位板上设有定位孔，芯片卡位板上还设有卡孔；探针板上设有第二焊盘，探针板上还设有若干个探针，一个探针对应与一个第二焊盘电性连接；借由第一焊盘、定位孔以及第二焊盘依次套设于定位柱上，使得芯片漏极导电板、芯片卡位板和探针板依次叠放于支撑基板上方，并使定位柱与第一焊盘、第二焊盘电性连接。

3、上述对比专利中的芯片抗辐照测试装置能够方便进行芯片板的快速夹持操作，但其在进行夹持后，需要人工对探针在待测芯片板的电极区进行连接操作，进而影响在进行芯片板进行抗辐照测试时的便捷性，且在进行碳化硅芯片的抗辐照测试时无法通过电极的及时监测，进行抗辐照测试时的及时预警，及预警后的电源监测控制，进而导致抗辐照测试装置在进行使用时的功能性较低，及需要进行一定的人工干预。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：

3、一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，包括：

4、机体；

5、抗辐照仓门，所述抗辐照仓门铰接在机体的外部；

6、辐照装置，所述辐照装置设置在机体的内侧壁上；

7、触点机构，所述触点机构设置在机体的内部；

8、预警机构，所述预警机构固定安装在机体的内侧壁上；

9、夹持机构，所述夹持机构安装在触点机构的顶端；

10、滑动机构，所述滑动机构设置在夹持机构的外部。

11、优选的，所述夹持机构包括放置板座、拉伸簧、滑动板和抵合板，所述放置板座固定在触点机构的顶端，所述放置板座的一侧外部固定连接有拉伸簧，所述拉伸簧的一侧固定连接有滑动板，所述滑动板的顶端安装有抵合板，所述滑动板的顶端固定连接有拉动块。

12、优选的，所述拉动块焊接在滑动板的顶端，所述滑动板与拉伸簧弹性伸缩连接，所述拉伸簧固定安装在放置板座的两侧外部，所述滑动板的两侧外部安装有滑动机构。

13、优选的，所述触点机构包括安装板、拉伸座、限位座和限位板，所述安装板设置在机体的内部，所述安装板的顶端固定连接有拉伸座，所述拉伸座的顶端固定连接有限位板，所述限位板的顶端转动连接有限位座，所述限位座的外部固定连接有触点探针。

14、优选的，所述限位座与拉伸座弹性伸缩连接，所述拉伸座设置在安装板的顶端四角，所述限位板的底端插设在安装板的内部，所述限位板在安装板的内部滑动连接，所述触点探针焊接在限位座的外部。

15、优选的，所述预警机构包括固定板、功能监测模块和预警断电模块，所述固定板固定连接在机体的内侧壁上，所述固定板的一侧固定连接有功能监测模块，所述功能监测模块的一侧固定连接有预警断电模块，所述预警断电模块的外部安装有卡合套。

16、优选的，所述卡合套套设在预警断电模块的外部，所述预警断电模块通过螺丝固定安装在功能监测模块的外部。

17、优选的，所述滑动机构包括连接座、第一滑动轮和第二滑动轮，所述连接座固定连接在滑动板的外部，所述连接座的外部安装有第一滑动轮，所述连接座的底端设置有第二滑动轮，所述第二滑动轮的顶端连接有滑动杆。

18、优选的，所述滑动杆的外表面为光滑结构的金属管，所述第一滑动轮和第二滑动轮在滑动杆的外部转动连接。

19、一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警方法，步骤如下：

20、s1：在对碳化硅芯片进行抗辐照测试时，首先将碳化硅芯片放置在放置板座的顶部后，首先对拉动块进行水平拉伸操作，使得拉伸簧与放置板座之间的弹性伸缩，能够使滑动板进行弹性水平移动，此时通过第一滑动轮和第二滑动轮与滑动杆之间的弹性伸缩，能够对滑动板在水平拉伸时进行移动限位，增加滑动时的稳定性，从而方便通过抵合板的抵合对碳化硅芯片进行稳定夹持操作，随后通过限位座与拉伸座之间的转动及弹性伸缩，能够将触点探针在碳化硅芯片上的触点上进行连接，进而方便进行碳化硅芯片通电后的抗辐照测试。

21、s2：随后辐照装置在进行碳化硅芯片的抗辐照测试后，功能监测模块和预警断电模块的设置能够对碳化硅芯片进行辐照测试时的监控，当辐照完成后，功能监测模块发出指令控制机器进行自动断电，实现在进行碳化硅芯片抗辐照测试时的预警操作。

22、与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：

23、(1)本专利技术通过设置的安装板、拉伸座、放置板座和拉伸簧使得通过滑动板与拉伸簧之间的弹性伸缩及滑动机构的设置能够增加滑动板在进行滑动伸缩时的稳定性，进而碳化硅芯片在通过抵合板的抵合夹持，能够对其进行固定夹持操作，随后对限位座的拉伸转动操作，对触点探针能够在待测碳化硅芯片的电机区进行快速通电连接，进而有效增加对碳化硅芯片的快速抗辐照测试操作。

24、(2)本专利技术通过设置的固定板、功能监测模块、预警断电模块和夹持机构使得当在进行碳化硅芯片的抗辐照测试时，能够通过功能监测模块和预警断电模块的设置对测试时的电流及碳化硅芯片状态进行及时监控，当抗辐照测试时的电流数据指标达标时，通过其内部指令芯片的工作，能够控制机体的电源进行自动断电及报警操作，从而实现对碳化硅芯片的抗辐照的监控及预警处理。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述夹持机构(6)包括放置板座(601)、拉伸簧(602)、滑动板(603)和抵合板(604)，所述放置板座(601)固定在触点机构(4)的顶端，所述放置板座(601)的一侧外部固定连接有拉伸簧(602)，所述拉伸簧(602)的一侧固定连接有滑动板(603)，所述滑动板(603)的顶端安装有抵合板(604)，所述滑动板(603)的顶端固定连接有拉动块(605)。

3.根据权利要求2所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述拉动块(605)焊接在滑动板(603)的顶端，所述滑动板(603)与拉伸簧(602)弹性伸缩连接，所述拉伸簧(602)固定安装在放置板座(601)的两侧外部，所述滑动板(603)的两侧外部安装有滑动机构(7)。

4.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述触点机构(4)包括安装板(401)、拉伸座(402)、限位座(403)和限位板(404)

5.根据权利要求4所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述限位座(403)与拉伸座(402)弹性伸缩连接，所述拉伸座(402)设置在安装板(401)的顶端四角，所述限位板(404)的底端插设在安装板(401)的内部，所述限位板(404)在安装板(401)的内部滑动连接，所述触点探针(405)焊接在限位座(403)的外部。

6.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述预警机构(5)包括固定板(501)、功能监测模块(502)和预警断电模块(503)，所述固定板(501)固定连接在机体(1)的内侧壁上，所述固定板(501)的一侧固定连接有功能监测模块(502)，所述功能监测模块(502)的一侧固定连接有预警断电模块(503)，所述预警断电模块(503)的外部安装有卡合套(504)。

7.根据权利要求6所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述卡合套(504)套设在预警断电模块(503)的外部，所述预警断电模块(503)通过螺丝固定安装在功能监测模块(502)的外部。

8.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述滑动机构(7)包括连接座(701)、第一滑动轮(702)和第二滑动轮(703)，所述连接座(701)固定连接在滑动板(603)的外部，所述连接座(701)的外部安装有第一滑动轮(702)，所述连接座(701)的底端设置有第二滑动轮(703)，所述第二滑动轮(703)的顶端连接有滑动杆(704)。

9.根据权利要求8所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述滑动杆(704)的外表面为光滑结构的金属管，所述第一滑动轮(702)和第二滑动轮(703)在滑动杆(704)的外部转动连接。

10.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警方法，其特征在于：步骤如下：

...

【技术特征摘要】

1.一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于，包括：

4.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述触点机构(4)包括安装板(401)、拉伸座(402)、限位座(403)和限位板(404)，所述安装板(401)设置在机体(1)的内部，所述安装板(401)的顶端固定连接有拉伸座(402)，所述拉伸座(402)的顶端固定连接有限位板(404)，所述限位板(404)的顶端转动连接有限位座(403)，所述限位座(403)的外部固定连接有触点探针(405)。

5.根据权利要求4所述的一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，其特征在于：所述限位座(403)与拉伸座(402)弹性伸缩连接，所述拉伸座(402)设置在安装板(401)的顶端四角，所述限位板(404)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：李京波，邓宇，张梦龙，王兵，龚彬彬，雷剑鹏，杨雄，柯茜，汪炜喆，
申请(专利权)人：浙江芯科半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：

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