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本发明涉及碳化硅芯片技术领域，具体公开了一种碳化硅芯片抗辐照测试及其预警设备，包括：机体；抗辐照仓门，所述抗辐照仓门铰接在机体的外部；辐照装置，所述辐照装置设置在机体的内侧壁上；触点机构，所述触点机构设置在机体的内部；本发明通过设置的安装板...
该专利属于浙江芯科半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江芯科半导体有限公司授权不得商用。

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